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公开(公告)号:CN101751599A
公开(公告)日:2010-06-23
申请号:CN200810227990.7
申请日:2008-12-04
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor: 郑晓光
IPC: G06K19/073 , G01R31/28
Abstract: 接触式智能卡与外界通信时,数据传输的管脚通常使用开漏PAD。开漏PAD的输出从低电平到高电平的转换由上拉电阻完成,导致电平上升时间较长,输出传输速率不高。接触式智能卡芯片的测试电路设计中,为了减少管脚,测试结果输出通常复用通信用的数据传输管脚。但开漏输出对传输速率的影响,使测试的时间加长,增加成本。本发明提出一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路,可以使数据输出管脚在测试模式下工作于强驱动状态,有效提升测试速度。
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公开(公告)号:CN104346545A
公开(公告)日:2015-02-11
申请号:CN201410427447.7
申请日:2014-08-27
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/31
CPC classification number: G06F21/31
Abstract: 本发明是一种USB Key电磁旁路信号采集装置和方法。用于信息安全领域中,采集USB Key的电磁旁路信号。本发明特征在于利用计算机USB接口与USB Key直接通信,利用计算机并口触发示波器,示波器连接电磁探头采集USB Key运行中泄露的电磁旁路信号,计算机与示波器通过网口或者USB接口连接,获取信号数据并以文件方式保存。本发明可用于采集USB Key运行时的电磁旁路信号。
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公开(公告)号:CN101751599B
公开(公告)日:2012-11-14
申请号:CN200810227990.7
申请日:2008-12-04
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor: 郑晓光
IPC: G06K19/073 , G01R31/28
Abstract: 接触式智能卡与外界通信时,数据传输的管脚通常使用开漏PAD。开漏PAD的输出从低电平到高电平的转换由上拉电阻完成,导致电平上升时间较长,输出传输速率不高。接触式智能卡芯片的测试电路设计中,为了减少管脚,测试结果输出通常复用通信用的数据传输管脚。但开漏输出对传输速率的影响,使测试的时间加长,增加成本。本发明提出一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路,可以使数据输出管脚在测试模式下工作于强驱动状态,有效提升测试速度。
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公开(公告)号:CN101593287A
公开(公告)日:2009-12-02
申请号:CN200810113122.6
申请日:2008-05-28
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06K19/073
Abstract: 本发明是一种智能卡功耗平衡方法,主要应用于智能卡设计的功耗优化领域,采用启动等待机制,使卡在主控制器和协处理器切换过程中实现功耗平稳过渡,有效解决了功耗叠加引起的功耗过大问题。
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公开(公告)号:CN204288222U
公开(公告)日:2015-04-22
申请号:CN201420491059.0
申请日:2014-08-27
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/31
Abstract: 本实用新型是一种USB Key电磁旁路信号采集装置。用于信息安全领域中,采集USB Key的电磁旁路信号。本实用新型特征在于利用计算机USB接口与USB Key直接通信,利用计算机并口触发示波器,示波器连接电磁探头采集USB Key运行中泄露的电磁旁路信号,计算机与示波器通过网口或者USB接口连接,获取信号数据并以文件方式保存。本实用新型可用于采集USB Key运行时的电磁旁路信号。
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