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公开(公告)号：CN114384068A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111619346.6
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明公开了用于测量大尺寸各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：聚光腔、泵浦源、激光介质、激光谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块；所述泵浦源和激光介质设置于所述聚光腔内，其中，所述激光介质位于聚光腔的焦点处；所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
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公开(公告)号：CN114384067A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111619328.8
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明公开了一种各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：泵浦源、和在所述泵浦源出光侧依次设置的激光谐振腔，放置于激光谐振腔内的激光介质，偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
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公开(公告)号：CN114384018A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111616635.0
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明公开了用于测量大尺寸各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：聚光腔、固定于所述聚光腔的泵浦源、激光介质和透明介质、谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路；所述激光介质和泵浦源固定于所述聚光腔内，其中，所述激光介质位于聚光腔的焦点处；所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
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公开(公告)号：CN110530821B
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN201910873210.4
申请日：2019-09-16
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明公开了一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有折射率测量方法难以精确测量高折射率或微小尺寸的光学材料的折射率的问题。所述装置包括光源模块、透明平板、成像模块和测量模块；光源模块用于提供预设波长的单色光；透明平板上设置有第一成像参考标记；成像模块用于在测量待测样品之前和测量待测样品时，分别对第一成像参考标记进行光学成像；将测量待测样品之前的成像模块的成像位置记为零点位置；将测量待测样品时的成像模块的成像位置记为终点位置；测量模块用于根据成像模块从零点位置移动到终点位置的位移量，以及待测样品的厚度测量待测样品的折射率。本发明用于测量光学材料的折射率。
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公开(公告)号：CN111478174A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010421674.4
申请日：2020-05-18
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: H01S3/115 , H01S3/0941
Abstract: 本发明公开了一种电光调Q腔倒空激光器，包括激光单元和依次设置在激光单元出光侧的透射反射单元、激光晶体、折叠镜、电光调Q装置和全反镜，折叠镜的设置位置满足第一条件，第一条件为： 其中，L为折叠镜距透射反射单元的距离，R为折叠镜的曲率半径，f为激光晶体的热焦距；折叠镜为凹透镜，凹透镜的凹面用于将从激光晶体出射的激光反射至电光调Q装置，并将从全反镜反射的激光反射至激光晶体。本申请使用凹透镜作为折叠镜，并将其放置在离激光泵浦镜距离L处，使得折叠镜后的激光半径不变，提高了电光调Q晶体运行的稳定性，进一步提升了腔倒空激光器的运行稳定性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111077117A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911113144.7
申请日：2019-11-14
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/55
Abstract: 本发明公开了一种表面二阶非线性光学测试装置及其测试方法，所述装置通过激光单元以指定角度向待测样品发射入射光，利用检测单元接收入射光射向待测样品后产生的反射光，并对反射光的信号强度进行检测，得到待测样品表面的二阶非线性光学信息，其中反射光为入射光的倍频光。本发明通过测试激光以指定角度射向待测样品后产生的倍频激光来判断待测样品是否具有倍频效应以及倍频能力的强弱。本发明适用于测试对激光有较强吸收的待测样品，由于本发明激光以指定角度入射待测样品，入射激光仅在待测样品的表面产生反射，避免了待测样品对激光的吸收，测量结果更加可靠。
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公开(公告)号：CN110687021A
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201911032461.6
申请日：2019-10-28
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明公开了一种晶体颗粒度的光学检测装置及其检测方法，属于晶体颗粒度检测技术领域，能够解决现有颗粒度测量效率低、准确度差、测量成本高的问题。所述装置通过激光单元向待测晶体发射第一激光，利用检测单元接收从待测晶体出射的第二激光，并对第二激光的信号强度进行检测，其中第二激光的波长为第一激光波长的一半。本发明利用晶体在激光的作用下能产生非线性光学效应，使激光波长缩小一半，且非线性光信号强度对应晶体颗粒度的大小，检测单元接收该非线性光信号，并对其检测得到待测晶体的颗粒度数据。本发明结构简单，测量成本低，且通过非线性晶体的非线性光学性质作为测定颗粒度的依据，测量效率高，方便快捷，且测量结果准确度高。
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公开(公告)号：CN110530821A
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201910873210.4
申请日：2019-09-16
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明公开了一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有折射率测量方法难以精确测量高折射率或微小尺寸的光学材料的折射率的问题。所述装置包括光源模块、透明平板、成像模块和测量模块；光源模块用于提供预设波长的单色光；透明平板上设置有第一成像参考标记；成像模块用于在测量待测样品之前和测量待测样品时，分别对第一成像参考标记进行光学成像；将测量待测样品之前的成像模块的成像位置记为零点位置；将测量待测样品时的成像模块的成像位置记为终点位置；测量模块用于根据成像模块从零点位置移动到终点位置的位移量，以及待测样品的厚度测量待测样品的折射率。本发明用于测量光学材料的折射率。
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公开(公告)号：CN107946892B
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201711483867.7
申请日：2017-12-29
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本申请公开了一种非线性激光器，所述非线性激光器至少包括从泵浦光源端至激光输出端沿激光光轴方向依次设置的激光工作介质和非线性光学器件；所述非线性光学器件包括非线性光学晶体；所述非线性光学晶体具有非线性光学效应和电光效应。该激光器主要用于基频激光转换为倍频激光。该激光器调制的非线性激光脉冲宽度和重复频率能够在较大范围内连续可调；能够实现在工作状态下，调整输出非线性激光的脉冲宽度和重复频率。
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公开(公告)号：CN108918412A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810460370.1
申请日：2018-05-15
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明公开了一种光学材料用光学分析仪器及测试方法，该分析仪器，包括：激光光源、样品平台和主探测器，光学样品设置于样品平台上，激光光源与光学样品的入光面光路连接；主探测器与光学样品的出光面光路连接，样品平台包括加载装置，加载装置向光学样品加载至少一种外场。可实现通过测量光学样品的折射率参数和二阶非线性信号来研究光学材料中的相变或者畴结构变化。本发明的另一方面还提供了一种该分析仪器的测试方法。
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