一种各向同性透明介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用

    公开(公告)号:CN114384019A

    公开(公告)日:2022-04-22

    申请号:CN202111619336.2

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明公开了一种各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法,属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括:泵浦源,和依次设置于泵浦源出光侧的谐振腔、放置于谐振腔内的激光介质、放置于谐振腔内的透明介质、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题,本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式,大大提高了检测精度、速度、准确性。

    一种光学材料性能检测装置

    公开(公告)号:CN111122397A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911312386.9

    申请日:2019-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种光学材料性能检测装置,属于材料性能测试技术领域,能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息,从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。所述检测装置包括:样品台,用于放置待测样品;图像采集模块,设置在样品台的上方,用于采集待测样品的待测区域的图像;处理模块,用于根据待测区域的图像获取待测区域中待测样品的粒度信息。本发明用于光学材料的二阶非线性光学性能分析。

    非线性激光器及非线性激光调制方法

    公开(公告)号:CN107946892A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201711483867.7

    申请日:2017-12-29

    Abstract: 本申请公开了一种非线性激光器,所述非线性激光器至少包括从泵浦光源端至激光输出端沿激光光轴方向依次设置的激光工作介质和非线性光学器件;所述非线性光学器件包括非线性光学晶体;所述非线性光学晶体具有非线性光学效应和电光效应。该激光器主要用于基频激光转换为倍频激光。该激光器调制的非线性激光脉冲宽度和重复频率能够在较大范围内连续可调;能够实现在工作状态下,调整输出非线性激光的脉冲宽度和重复频率。

    一种高平均功率的1.5微米全固态脉冲激光器

    公开(公告)号:CN118539271A

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202410459025.1

    申请日:2024-04-16

    Abstract: 本申请公开了一种高平均功率的1.5微米全固态脉冲激光器,包括激光泵浦源以及光束传输装置,激光经过所述光束传输装置后分为两束泵浦激光,采用双端泵浦的方式,在使激光晶体最高温度有所下降的同时,温度梯度也有较大幅度的减小,因此激光晶体内部由温度分布不均引起的应力也随之减小,从而大大提高了激光晶体的可注入最高泵浦功率,使得激光晶体在高泵浦功率下,也不会出现损坏。

    一种各向同性透明介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用

    公开(公告)号:CN114384019B

    公开(公告)日:2023-02-10

    申请号:CN202111619336.2

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明公开了一种各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法,属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括:泵浦源,和依次设置于泵浦源出光侧的谐振腔、放置于谐振腔内的激光介质、放置于谐振腔内的透明介质、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题,本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式,大大提高了检测精度、速度、准确性。

    用于测量大尺寸各向同性激光介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用

    公开(公告)号:CN114384068A

    公开(公告)日:2022-04-22

    申请号:CN202111619346.6

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明公开了用于测量大尺寸各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法,属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括:聚光腔、泵浦源、激光介质、激光谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块;所述泵浦源和激光介质设置于所述聚光腔内,其中,所述激光介质位于聚光腔的焦点处;所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题,本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式,大大提高了检测精度、速度、准确性。

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