定位传感器的异常检测方法、装置及终端设备

    公开(公告)号:CN113933858A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202111142793.7

    申请日:2021-09-28

    Abstract: 本申请适用于自动驾驶技术领域,提供了定位传感器的异常检测方法、装置及终端设备。该方法应用于自动驾驶设备,自动驾驶设备上设置有多个定位传感器,该方法包括:获取每个定位传感器的测量数据;对多个定位传感器的测量数据进行融合处理,确定自动驾驶设备的运动状态参数;若根据自动驾驶设备的运动状态参数,确定多个定位传感器中存在出现异常的定位传感器,则针对每个定位传感器,利用定位传感器的测量数据确定定位传感器的测量状态参数,并根据定位传感器的测量状态参数确定定位传感器是否出现异常。上述方法在判断有定位传感器出现异常的同时可以及时确定具体哪个定位传感器出现异常,后续可以有针对性的对出现异常的自动驾驶设备进行恢复。

    无人系统的传感器安全性检测方法、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113532499A

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN202110799228.1

    申请日:2021-07-15

    Abstract: 本发明公开了一种无人系统的传感器安全性检测方法,包括:将无人系统中的传感器按定位和检测功能分为两组,分别寻找各组内的传感器之间的互相关性;根据每组传感器中具有互相关性的传感器的感知数据之间的差异,筛选出可疑传感器;根据各可疑传感器在相邻两个时刻的感知数据的相关性,判断其是否为异常传感器。本发明还公开了一种无人系统的传感器安全性检测设备及存储介质。本发明从传感器定位和检测两大功能出发,将传感器分成两组,寻找组内传感器之间的互相关性和各个传感器在时间序列上的自相关性,从而筛选出可疑传感器,并从可疑传感器中判断筛选出异常传感器,实现了无人系统中传感器安全性的实时检测,可以准确定位出现异常的传感器。

    芯片单粒子效应探测方法及装置

    公开(公告)号:CN106199392A

    公开(公告)日:2016-12-07

    申请号:CN201610480725.4

    申请日:2016-06-27

    CPC classification number: G01R31/311

    Abstract: 本发明公开了一种芯片单粒子效应探测方法及装置,其中方法包括:将待测芯片放入测试机台,触发待测芯片产生单粒子效应;利用使能信号随机关断待测芯片的扫描寄存器,形成随机观测矩阵;向待测芯片输入测试向量,获得待测芯片的输出测试向量,根据输出测试向量获得错误总数向量;对错误总数向量进行压缩感知信号重构,确定待测芯片内部敏感区域。本发明可以高效、便捷地对芯片单粒子效应进行探测。

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