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公开(公告)号：CN108572061A
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201810813087.2
申请日：2018-07-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种全口径谐波转换效率测量系统及其测量方法，其中测量系统包括1053nm激光器以及沿其出射激光架设的测量光路，设置在测量光路上的倍频晶体运动控制装置，以及用于晶体准直的晶体自准直仪和光路准直的激光自准直仪、至少四个用于测量激光能量的卡计，测量方法主要采用测量系统并按如下步骤进行，激光光路准直、激光传输系数标定、待测晶体准直、待测二倍频晶体最佳匹配位置测量、待测三倍频晶体最大转换效率测量、平移测量和全口径三倍频最大转换效率测量七步。采用以上方案，实现对倍频转换效率的快速离线测量，且测量系统光路紧凑，空间占用小，成本较低，其测量精度高，操作方便可行，省时高效。
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公开(公告)号：CN106873114A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201710038973.8
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B7/00
CPC classification number: G02B7/00
Abstract: 本发明公开了一种大口径KDP晶体自适应夹持装置，包括正对设置的底框和压框，底框的三个棱边上各设有一个夹持铜头，该夹持铜头包括夹持圆台和支撑杆，支撑杆上套设有压簧并嵌入底框上对应的安装孔中；压框上设有压紧铜头，该压紧铜头包括压紧圆台和调整螺杆，所述压紧圆台与夹持圆台正对，调整螺杆与压紧圆台之间通过连接块连接，该连接块通过轴承与压紧圆台可转动地连接，所述连接块与调整螺杆之间为万向铰接结构。本发明能够可靠保护KDP晶体元件，避免对晶体元件造成损伤，夹持铜头和压紧铜头均采用了自找平设计，元件夹持时，不需要过于复杂的调试过程，大大提高了工作效率，对底框及压框的加工精度要求相对较低，有助于降低生产成本。
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公开(公告)号：CN109093375B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN201811315178.X
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 江苏西顿科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于精密元件装校的柔性装配方法及装配装置，通过设定精密元件微缝安装方法，进行元件轮廓识别和修正，结合反馈闭环正投影移动和反馈闭环控制校准，实现精密元件与安装位中心线无线趋近重合；并且提出精密元件无尘拾取装配装置，用于拾取精密元件进行定位操作、拾取操作、移动操作、调节操作、安装操作。有益效果：通过精密元件微缝安装方法，基于对机器人粗调和精调，实现微缝安装，闭环反馈控制，精度高，可靠性好。
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公开(公告)号：CN114413794B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202210109674.X
申请日：2022-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种大口径KDP晶体最佳相位匹配角测量系统及其测量方法，包括依次设置的激光器、整形器、标准镜、凹透镜和CCD相机，激光器出射激光经整形器整形后垂直入射到凹透镜，从而产生从多个角度入射到待测KDP晶体表面的激光，CCD相机用于接收并记录由待测KDP晶体出射的激光；所述测量系统还包括激光自准直仪、晶体自准直仪和图像处理模块，激光自准直仪用于对标准镜及激光器出射激光进行准直，晶体自准直仪用于准直待测KDP晶体，图像处理模块能够读取CCD相机获取的图像并计算出对应的相位匹配角。本发明能够实现KDP晶体相位匹配角度的精确测量，具有自动化程度高，操作方便，测量准确等优点。
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公开(公告)号：CN114326138B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202210003712.3
申请日：2022-01-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种高精度旋转台光轴装调方法，先使调焦物镜焦点位于第一小孔镜的中心孔处，再使分划板的十字叉丝和第一小孔镜的小孔重合；再使调焦物镜的焦点调至第二小孔镜的中心孔处，然后调整第二小孔镜的位置，使得第二小孔镜与分划板的十字叉丝重合；再使调焦物镜的焦点调至第一反射镜上，并确保人眼观察到第一反射镜上的十字叉丝，再转动旋转台，并调整第二反射镜和第三反射镜的角度，直至十字叉丝不随着旋转台的转动而变化。然后利用分光镜取代调焦物镜，光源取代目镜，使光源发出的平行光穿过第一小孔镜和第二小孔镜，再整体转动旋转台，并调整第二反射镜和第三反射镜的角度，监测CCD相机，直至十字叉丝不随着旋转台的转动而变化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115648262A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211312570.5
申请日：2022-10-25
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种吸附夹持组件及搬运系统，其中吸附夹持组件包括吸盘模块，该吸盘模块包括吸盘和设置在该吸盘工作面边缘的可变形的洁净密封圈，吸盘的工作面为内凹面，沿着该内凹面的边缘固定设置有向前凸出的所述密封圈，所述密封圈的前侧面上成型有吸附凹槽；所述内凹面的凹腔连接有第一气道，所述吸附凹槽的槽腔连接有第二气道，第一气道连接有真空发生器和进气阀组件，第二气道也连接有进气阀组件；吸盘的边缘外还设置有限位板，该限位板一边向所述工作面前方伸出。本吸附装置在与工件接触时能够形成两个吸附腔，在吸附和释放阶段以柔性操作方式作业，防止对工件造成损伤，并避免污染工件表面，特别适用于大型精密元件如光学元件的搬运和装配。
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公开(公告)号：CN112629782B
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202011602181.7
申请日：2020-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M3/34
Abstract: 本发明公开了一种自密封式真空检测系统及抽真空检漏方法，系统包括箱体和罩盖，罩盖底部设置有可上下移动的压板，罩盖顶部固定安装有密封环，罩盖上设有避让孔，该避让孔内设有柔性变形部件，柔性变形部件下端连接在压板上，上端与密封环连接。方法包括步骤一：将待检模块装至箱体的敞口处；步骤二：盖上罩盖，使压板周向边缘与待检模块接触；步骤三：利用真空泵对箱体和罩盖抽真空，在压差的作用下柔性变形部件伸长并带动压板向下挤压待检模块，使待模块与箱体之间密封；步骤四：向罩盖内充入氦气至预设值；步骤五：利用检漏仪测量是否有氦气渗透至箱体内。有益效果是：待检模块能够在真空密封腔内快速自动密封，并完成密封性能检测。
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公开(公告)号：CN114850823A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210687349.1
申请日：2022-06-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种透镜自动装配工装，设备基体上设置有镜框定位机构、透镜举升机构、用于携带透镜的工具框以及用于夹持工具框的工具框夹持机构；其中，镜框定位机构水平布置在设备基体上，用于定位安装镜框；透镜举升机构包括位于镜框定位机构中间区域的托板、驱动托板上下升降运动的第一升降模组，以及安装在托板上侧的水平夹持组件，水平夹持组件用于从水平方向夹紧透镜；工具框夹持机构位于镜框定位机构的一侧，工具框夹持机构与设备基体之间设有翻转机构，工具框固定在工具框夹持机构上后，在翻转机构的驱动作用下，工具框及其携带的透镜能够翻转至透镜举升机构的正上方。本发明的有益效果是：能够将透镜自动装配至镜框内。
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公开(公告)号：CN114011757A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111287733.4
申请日：2021-11-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面清洗系统，包括机架；安装在机架上的电控旋转台，电控旋转台设有用于固定光学元件的夹持机构；通过三维移动机构安装在电控旋转台一侧的清洗座，该清洗座上设有风刀和清洗头接口，并配置有等离子清洗头和液体擦拭清洗头；安装在清洗座上的位置传感器，用于检测与光学元件的距离，并将距离信号输出；以及控制器，能够根据所述距离信号控制三维移动机构、电控旋转台运动，以调整清洗座与光学元件的相对位置，并控制清洗座按预设清洗轨迹对光学元件进行清洗。本发明能够实现光学元件表面的自动清洗，相比人工擦拭清洗，极大提高了清洗效率，保证清洗工艺的稳定性，提高清洗效果。本发明还公开了上述清洗系统的清洗方法。
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公开(公告)号：CN114002805A
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202111287753.1
申请日：2021-11-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B7/185
Abstract: 本发明公开了一种光学元件重力形变抑制装置及抑制方法，包括元件夹持框，所述元件夹持框内部安装有气浮板，所述气浮板上分布有第一气孔和第二气孔，其中，所述第一气孔沿气浮板的周向分布，第二气孔分布在各个所述第一气孔围成的区域内，所述第一气孔连接有压缩空气气源，第二气孔连接有压缩空气气源或真空发生器；所述元件夹持框远离气浮板的一侧具有安装敞口，用于装配光学元件，所述安装敞口的周向侧壁上设有螺纹定位部件。本发明的有益效果是：能够以非接触的方式达到抑制光学元件重力形变的目的，适用于工作反射面朝上水平放置、朝上倾斜放置、朝下水平放置或朝下倾斜放置的任一光学元件，通用性好。
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