-
公开(公告)号：CN101004926A
公开(公告)日：2007-07-25
申请号：CN200610061769.X
申请日：2006-07-19
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种激光读取头信号拾取光路结构，包括来自盘片的反射光束、单透镜、柱面镜、PDIC保护玻璃，其特征在于：在单透镜与柱面镜之间设有用以增加象散效果的平板玻璃。本发明由于在单透镜与柱面镜之间设有用以增加象散效果的平板玻璃，因此降低柱面镜的制造难度，减少成本，并且提高PDIC接收到的光信号的精度。
-
公开(公告)号：CN101158618B
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN200710124330.1
申请日：2007-11-01
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明提供一种光学头力矩器测试仪，包括力矩器承载台、功率驱动电路、激光位移传感器和数据采集装置。本发明还提供测试光学头力矩器的物镜高度、静态径向倾角、聚焦方向运动范围和循迹方向运动范围的方法，包括测试方法。采用本发明光学头力矩器测试仪及测试方法，可以方便快捷地进行光学头力矩器多项特性参数的测试，快速准确；本发明光学头力矩器测试仪成本低廉，只有现有技术中的力矩器特性测试系统的十分之一；本发明光学头力矩器测试仪便于安装在生产现场，有利于在力矩器生产现场进行在线检测。
-
公开(公告)号：CN101083122B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200710074382.2
申请日：2007-05-21
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光盘质量检测装置，包括光学头、前放系统、驱动系统、伺服系统和质量评价系统；伺服系统产生控制信号给驱动系统，控制光学头的读写光斑聚焦到被测光盘上的测试位置，并使得光学头聚焦闭环；光学头发出激光聚焦成读写光斑照射到被测光盘的信息层，并接收从被测光盘信息层反射回来的信号，经前放系统均衡和放大；质量评价系统接收来自伺服系统的质量评价信号进行运算，并最终评价被测光盘的质量；质量评价信号为，从光盘信息层返回后被光学头接收，并在前放系统中被计算出的RF信号和FE信号。采用本发明技术方案的一种光盘质量检测装置，由于仅通过RF信号和FE信号就能判断光盘质量，因而可以实现高速在线检测。
-
公开(公告)号：CN101105951B
公开(公告)日：2010-05-26
申请号：CN200710075381.X
申请日：2007-08-01
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
IPC: G11B7/08
Abstract: 本发明公开了一种光学头中光学系统的优化方法，属于光存储技术领域。本发明包括以下步骤：A、根据光学系统的初步设计结果模拟光路，基于像差理论，采用第一像质评价函数，对光学系统进行优化，达到衍射极限；B、在满足基于像差理论的优化极限下，以光学系统中光路元件状态检测的灵敏度为优化的目标进一步优化光学系统。本发明由于在采用第一像质评价函数，对光学系统进行优化，达到衍射极限后；再以光学系统中光路元件状态检测的灵敏度为优化的目标进一步优化光学系统。所以可以使光学头检测灵敏度满足控制系统要求，提高不同光学头中光学系统的设计与优化效率。
-
公开(公告)号：CN100487384C
公开(公告)日：2009-05-13
申请号：CN200710073185.9
申请日：2007-02-02
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光学头三维力矩器倾斜运动特性曲线的测试方法，首先由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射在力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；就可分别绘制出力矩器在该反射点处的幅值频率和相位频率特性曲线；本发明提出的光学头三维力矩器倾斜运动特性曲线的测试方法，相对以前使用的测试方法，该方法不需增加其他的测试设备，使用一台激光测振仪即可得到三维力矩器倾斜运动特性曲线，易实现，实用性强。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101083122A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200710074382.2
申请日：2007-05-21
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光盘质量检测装置，包括光学头、前放系统、驱动系统、伺服系统和质量评价系统；伺服系统产生控制信号给驱动部分，控制光学头的读写光斑聚焦到被测光盘上的测试位置，并使得光学头聚焦闭环；光学头发出激光聚焦成读写光斑照射到被测光盘的信息层，并接收从被测光盘信息层反射回来的信号，经前放系统均衡和放大；质量评价系统接收来自伺服系统的质量评价信号进行运算，并最终评价被测光盘的质量；质量评价信号为，从光盘信息层返回后被光学头接收，并在前放系统中被计算出的RF信号和FE信号。采用本发明技术方案的一种光盘质量检测装置，由于仅通过RF信号和FE信号就能判断光盘质量，因而可以实现高速在线检测。
-
公开(公告)号：CN201408110Y
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200820206386.1
申请日：2008-12-30
Applicant: 东莞宏威数码机械有限公司 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本实用新型公开了一种基于通用光谱仪的光栅检测仪，安装于光谱仪发出的准直单色出射光束后，所述光栅检测仪包括光栅、光栅旋转台及光能探测器，光栅可旋转地安装于光栅旋转台上，光栅旋转台位于所述光谱仪与光能探测器之间，其中，在光能探测器与光栅之间还设有透镜，所述透镜满足下述公式：γ≥(d×d1)/(λ×t)，γ为透镜的角放大率，d为光栅的光栅常数，λ为光谱仪发出的准直单色出射光束的波长，t为透镜到光能探测器入口的距离，d1为光能探测器入口的直径。具备本实用新型上述透镜的光栅检测仪一方面能使衍射光束之间不存在互相重叠；另一方面，光能探测器入口只能让一束衍射光束通过，另本比较适合配合通用光谱仪使用，具有普遍的适用性，且具有较高的检测精度。
-
公开(公告)号：CN101992948B
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201010502627.9
申请日：2010-09-30
Applicant: 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基片自动上载装置，用于真空环境下上载基片，该基片自动上载装置包括真空腔体、夹持机构，及位于所述真空腔体内的夹持输送机构、夹持升降机构、基片输送机构和基片升降机构，所述夹持机构用于夹持基片，所述夹持输送机构带动夹持机构沿水平方向输入输出真空腔体，所述夹持升降机构驱动夹持机构做升降运动，所述基片输送机构带动基片沿水平方向输入真空腔体，所述基片升降机构驱动基片做升降运动。该基片自动上载装置可保证基片上载的整个过程中腔体内一直维持在稳定的真空状态下，且安全、洁净、可靠。
-
公开(公告)号：CN102205686B
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201110020895.1
申请日：2011-01-18
Applicant: 东莞宏威数码机械有限公司
IPC: B32B38/10
Abstract: 本发明公开了一种偏光片脱膜设备，用于有机发光显示器分割工艺中偏光片的脱膜，其包括与伺服电机相连的胶带安装轮，偏光片装载装置，剥离板，与伺服电机相连的胶带回收轮，连接胶带安装轮和剥离板的装载通道，以及连接剥离板和胶带回收轮的回收通道，所述胶带安装轮用于安放胶带，所述偏光片装载装置安装在所述装载通道上并用于将附着有保护膜的偏光片装载在胶带上，所述剥离板的末端安装有偏光片吸板，所述偏光片吸板用于吸附所述胶带上的偏光片，使所述偏光片与保护膜相分离；所述胶带回收轮用于回收胶带。相对于现有技术，本发明偏光片脱膜设备工作效率高。
-
公开(公告)号：CN102074490B
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201010502606.7
申请日：2010-09-30
Applicant: 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开一种间歇传输加热机构，包括：托动座、基座、升降机构、水平移动机构、升降驱动机构及加热器，所述托动座用于承载待加热的基板；所述基座的上表面安装有至少两个相互平行的固定座；所述升降机构包括升降支柱、圆轮、滚轮及滚轮固定板；所述水平移动机构与所述托动座固定连接，所述水平移动机构驱动所述托动座在所述滚轮上做水平往复运动；所述升降驱动机构包括转轴、转轴电机及偏心轮；所述加热器呈平板状，所述加热器位于所述托动座正上方且与所述托动座相互平行。本发明间歇传输加热机构自动化程度高，能大大降低劳动强度，提高生产效率，降低生产成本。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
650
records
(took 0.051 seconds)
