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公开(公告)号：CN110427016A
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201910717333.9
申请日：2019-08-05
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 一种相控阵天线波束控制系统的可靠性测试方法，构造被测版本系统的操作结构图并生成所有操作流程，计算前期版本系统的操作流程的使用概率，将前期版本系统的操作流程的使用概率作为与其为最佳匹配的被测版本系统的操作流程的使用概率，根据生成的操作流程以及计算得到的操作流程的使用概率，生成相控阵天线波束控制系统的测试用例，并根据测试用例执行相控阵天线波束控制系统的可靠性测试。本发明提高了测试准确度和测试效率，能够更快发现系统中影响可靠性的因素，使产品的可靠性水平得到快速增长，缩短了研发周期。
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