-
-
公开(公告)号：CN100454398C
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200580025716.6
申请日：2005-07-15
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00458 , G11B7/00736 , G11B7/0079 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/10907 , G11B2020/1229 , G11B2020/1231 , G11B2020/1285 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2537
Abstract: 一种其上记录有原始数据、替换数据、更新数据和管理信息的一次性写入信息存储介质，以及记录和管理数据和管理信息的设备和方法。所述管理信息包括：缺陷地址、替换地址和状态信息，所述状态信息用于区分替换地址上的数据替换原始数据中遇到的缺陷、记录替换数据中遇到的缺陷、还是通过逻辑复写(LOW)更新数据期间遇到的缺陷。因此，通过使用状态信息来区分通过LOW的替换、LOW期间通过缺陷的替换、不用LOW的通过缺陷的替换，在系统中增加了数据再现效率，在所述系统中，实现通过LOW的替换和通过缺陷的替换。
-
公开(公告)号：CN100454392C
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200480011097.0
申请日：2004-04-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B27/36 , G11B7/00375 , G11B7/00736 , G11B20/1883 , G11B2020/1285 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2537
Abstract: 一种管理记录介质缺陷的方法、设备和计算机可读介质以及一种缺陷被管理的记录介质。所述记录介质包括：备用区，在其中形成有作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区；和临时缺陷管理区，在其中记录有用于指定所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息，其中，关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。因此，即使对所述记录介质的记录介质缺陷管理被异常结束，也可恢复缺陷信息。
-
公开(公告)号：CN101320583A
公开(公告)日：2008-12-10
申请号：CN200810131869.4
申请日：2005-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/04 , G11B19/02 , G11B19/12 , G11B20/00086 , G11B20/00702 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1278 , G11B2020/1826 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于确定是否重新初始化信息记录介质的设备，包括：拾取器，发射或接收光以相对于所述介质传送数据，所述介质包括存储至少一种访问控制数据的访问控制区域，其中，访问控制数据包括共同信息和关于预定功能的信息，共同信息包括访问控制数据的标识符、关于信息记录介质的重新初始化的信息和关于信息记录介质上的多个区域中的每个的可记录性和/或可再现性的信息，当预定功能不可识别时，将使用关于信息记录介质上的多个区域中的每个的可记录性和/或可再现性的信息；控制器，使用关于不可识别功能的访问控制数据中所包括的关于重新初始化的信息和关于可识别功能的访问控制数据中所包括的关于重新初始化的信息确定是否重新初始化介质。
-
公开(公告)号：CN101312064A
公开(公告)日：2008-11-26
申请号：CN200810109796.9
申请日：2004-12-27
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。所述光学记录介质，包括用户数据区和SA/DL区，其中，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，其中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101312063A
公开(公告)日：2008-11-26
申请号：CN200810109795.4
申请日：2004-12-27
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。所述光学记录介质，包括用户数据区和SA/DL区，其中，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，其中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
-
公开(公告)号：CN101308690A
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200810109384.5
申请日：2005-01-28
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1217 , G06F12/0246 , G11B20/1883 , G11B27/329 , G11B2020/1275 , G11B2020/1278 , G11B2020/1295 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/237 , G11B2220/2537
Abstract: 一种一次写入盘，包括：预定种类的更新信息被记录在其中的多个更新区；主访问信息被记录在其中的至少一个主访问信息区，该主访问信息指示在所述多个更新区之中最终更新的信息被记录在其中的最终更新区；和子访问信息被记录在其中的至少一个子访问信息区，该子访问信息指示记录在最终更新区中的最终更新的信息的位置。因此，可减少用于读取使用该一次写入盘所需的预定种类的信息的访问时间。
-
公开(公告)号：CN100428355C
公开(公告)日：2008-10-22
申请号：CN03821542.X
申请日：2003-09-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1217 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 一种用于对记录介质分配备用区的方法和装置，及其一种记录介质。该方法包括：根据第一记录操作将数据记录在记录介质的数据区中；根据包含在所记录的数据中的缺陷来创建关于所调整的备用区尺寸的信息；将关于备用区的信息和关于根据第一记录操作所记录的数据中的缺陷的信息作为第一临时缺陷信息记录在数据区中；和将用于管理第一临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第一临时缺陷管理信息记录在其存在于记录介质的导入区、导出区和外部区中的至少一个中的临时缺陷管理信息区中。
-
公开(公告)号：CN100428338C
公开(公告)日：2008-10-22
申请号：CN200480010138.4
申请日：2004-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045
Abstract: 一种由设备使用和/或在计算机可读介质上编码的记录方法，包括：选择缺陷管理开模式或缺陷管理关模式，所述缺陷管理开模式或缺陷管理关模式指示在数据被记录在记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质中；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。
-
公开(公告)号：CN101256809A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200810083616.4
申请日：2005-11-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F17/30817 , G06F17/30849 , G06F17/30858 , G11B27/002 , G11B2220/41 , Y10S707/99945 , Y10S707/99948
Abstract: 提供一种形成包括关于多个信息存储介质的信息的盘库的设备。用于再现存储在存储介质中的视听数据的一种再现设备，包括：存储单元，存储用于在存储介质中存储的视听数据中搜索期望的视听数据的元数据，和搜索单元，使用存储在存储单元中的元数据搜索期望的视听数据，其中，所述元数据包括指示用于创建存储在存储单元中的盘库的多张盘组成的卷的卷标识符。所述元数据还可包括多张盘公有的盘信息和标题信息，并且搜索单元可使用盘信息、标题信息和卷信息创建盘库，并使用创建的盘库来搜索期望的视听数据。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
599
records
(took 0.048 seconds)
