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公开(公告)号：CN101202063B
公开(公告)日：2010-10-13
申请号：CN200810002984.1
申请日：2002-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/0079 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/24082 , G11B20/1217 , G11B27/24 , G11B2020/1239 , G11B2020/1298 , G11B2220/215 , G11B2220/216 , G11B2220/2537 , G11B2220/2562 , G11B2220/2566 , G11B2220/257 , G11B2220/2575
Abstract: 一种把数据记录在光盘和/或从光盘再现数据的方法，所述光盘包括导入区、用户数据区和导出区，所述导入区具有只读区、可读/写区和在只读区与可读/写区之间形成的连接区，所述方法包括：发射激光束到所述光盘；检测来自所述光盘的光信号并处理所检测的信号；其中只读区具有第一波纹，并且可读/写区具有与第一波纹不同的第二波纹，并且其中，可读/写区具有缺陷管理区DMA。
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公开(公告)号：CN101197146B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200710165029.5
申请日：2004-02-03
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 李坰根
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/00736 , G11B7/261 , G11B7/263
Abstract: 一种包括数据在其中以凹坑的形式被记录的多个区的只读光学信息存储介质，其中，该多个区中的至少一个中的凹坑具有与形成在该多个区的其它区中的凹坑不同的凹坑图样。
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公开(公告)号：CN101819785A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN201010155099.4
申请日：2005-06-17
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B7/005 , G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 提供一种在多个记录层上记录数据的方法，该方法包括：根据将要被记录的数据的量确定每个记录层的数据区的外边界；根据所述数据区的每个的外边界的确定来确定每个记录层的连接区和剩余区的位置，其中，将要被记录的数据的量小于所述光盘总的可记录容量，其中，所述连接区用于记录具有特定图案的数据。
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公开(公告)号：CN101783158A
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：CN201010122496.1
申请日：2005-12-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1217 , G11B20/1879 , G11B27/3027 , G11B2020/10907 , G11B2020/1222 , G11B2020/1277 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 提供一种执行RMW的记录/再现设备及其记录/再现方法。在逻辑盖写(LOW)替换的区中记录用于更新记录在信息存储介质上的数据的替换数据，在缺陷替换的区中记录用于替换介质上出现的缺陷的替换数据；如果在对记录在介质的预定区中的原始块的至少部分数据进行LOW的读-修改-写(RMW)处理期间所述原始块中产生缺陷，则在LOW替换的区中记录替换原始块的替换块；以及产生包括原始块的位置信息和替换块的位置信息的缺陷列表(DFL)条目以指示替换状态。
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公开(公告)号：CN101075463B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200710126912.3
申请日：2005-06-10
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/12
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B19/122 , G11B20/1217 , G11B20/1252 , G11B20/1262 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013 , G11B2020/1229 , G11B2020/1259 , G11B2020/1275 , G11B2020/1278 , G11B2220/215 , G11B2220/235 , G11B2220/2537
Abstract: 一种记录和/或再现设备，一种记录和/或再现方法，以及一种信息存储介质，其中，该记录和/或再现设备包括：写和/或读单元，将数据写入具有一个或多个信息记录层的信息存储介质或从具有一个或多个信息记录层的信息存储介质读取数据；和控制单元，控制写和/或读单元以通过参考包括与信息存储介质的记录特征相应的记录相关参数信息和记录相关参数被应用到记录特征信息的一个或多个盘信息结构来将数据写入信息存储介质。根据该设备和方法，适合记录和/或再现设备的记录特征的参数以及不同规格之间的兼容性可被实现。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100593207C
公开(公告)日：2010-03-03
申请号：CN200710104866.7
申请日：2004-05-20
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00454 , G11B7/0053 , G11B7/00718 , G11B7/00736 , G11B7/0912 , G11B7/24085
Abstract: 一种信息存储介质以及一种在所述信息存储介质上记录数据和/或从所述信息存储介质再现数据的方法，包括具有至少一个信息存储层的信息存储介质。数据以突起的或锯齿状凹坑的形式被记录在所述信息存储介质的全部或部分区域中，并且关于所述突起的或锯齿状凹坑的信息被记录。通过使用关于所述突起的或锯齿状凹坑的信息，即，推挽极性信息，平稳的跟踪可被实现。
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公开(公告)号：CN100580798C
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200610168232.3
申请日：2003-09-22
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B7/004 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 提供了一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括用户数据区和除了用户数据区之外的备用区，该方法包括：将用户数据记录在用户数据区中；将记录在用户数据区的存在缺陷的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生记录在缺陷区中的用户数据的替换数据；和将在用户数据区中最后记录的最后用户数据的地址和在备用区中记录的最后替换数据的地址记录在在盘上的临时缺陷管理区中，该临时缺陷管理区由该设备使用以针对该盘执行盘缺陷管理。
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公开(公告)号：CN100578639C
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：CN200610007394.9
申请日：2003-05-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1833 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1221 , G11B2020/1277 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562 , G11B2220/2579
Abstract: 把数据记录在上面和/或从其中再现数据的光盘包括：把数据记录在至少一个物理簇中的记录区、记录区中存在妨碍数据记录和/或再现的缺陷的缺陷区、和在缺陷区之前记录指示记录结束的信息的记录结束区。把数据记录在含有缺陷区的高密光盘上和/或从其中再现数据的方法通过把数据记录在包含缺陷区的预定记录区中、和在缺陷区之前记录指示记录结束的数据来完成。
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公开(公告)号：CN100562928C
公开(公告)日：2009-11-25
申请号：CN200710079455.7
申请日：2004-06-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/0953 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 一种能够控制最佳记录功率的信息存储介质，一个层中的最佳功率控制(OPC)区不影响不同层中的OPC区。所述信息存储介质包括至少一个信息存储层，所述信息存储层包括用于获得光记录条件的最佳功率控制区。相邻的信息存储层中的OPC区被布置在所述信息存储介质的不同半径之内。因此，即使当所述信息存储介质被偏心或具有制造误差时，也可以防止由一个信息存储层中的OPC区对相邻的信息存储层中的OPC区的影响所导致的所述信息存储介质的记录性质的降低。
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公开(公告)号：CN100555424C
公开(公告)日：2009-10-28
申请号：CN200580034112.8
申请日：2005-10-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/0045 , G11B7/00736 , G11B7/24038
Abstract: 一种能够根据最佳记录和/或再现条件快速记录数据的光学记录介质、记录和/或再现方法和记录和/或再现设备。参考信号区设置于每个记录层中，以便以最佳记录条件记录预定参考信号。参考信号信息区包括参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录有参考信号的每个记录层的信息。在多层信息存储介质的情况下，通过仅在初始驱动器所使用的层中记录参考信号，能够在首次使用该盘时在最小的时间内写入数据。通过对记录参考信号的记录层进行标记，有效地执行对参考信号的管理。
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