半导体激光装置和光拾取装置

    公开(公告)号:CN1154989C

    公开(公告)日:2004-06-23

    申请号:CN98109223.3

    申请日:1998-05-22

    Abstract: 本发明揭示一种半导体激光装置和光拾取装置,包括在半导体激光装置(1)中,使得棱镜(5)将倾斜面(50)朝向辅助安装架(3)上的半导体激光器(4)的射出面,在倾斜面(50)上形成用于反射来自半导体激光器(4)的激光(L1)的一部分的进行了表面处理的反射区域(51)、和穿透折射残余的光并引导到在半导体基片(2)的表面部分(2b)上用棱镜覆盖的监控用光检测器(6)的感光面(6a)上的穿透折射区域(52),基于在感光面(6a)的感光结果、反馈控制半导体激光器的发光量。

    光学传感模块和电子装置
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104280837B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201310395449.8

    申请日:2013-09-03

    CPC classification number: G01J1/0411 G01J1/0242 G01J1/0437 G01J1/0477 G01J1/42

    Abstract: 一种光学传感模块,包括透镜以及传感元件。透镜具有光轴。传感元件配置在透镜的下方,其中传感元件适于接收通过透镜的物体光束。透镜的光轴不通过传感元件的几何中心。本发明还提出一种光学传感模块,其中光学传感模块包括棱镜片、传感元件以及透镜。棱镜片具有多个棱镜。传感元件配置在所述棱镜片的下方,其中传感元件适于接收依次通过棱镜片和透镜的物体光束。透镜配置在棱镜片与传感元件之间。

    全向光检测器
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1789931A

    公开(公告)日:2006-06-21

    申请号:CN200510130593.4

    申请日:2005-12-14

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 梶栗润一

    Abstract: 本发明提供了一种全向光检测器,具有棱镜和光检测装置。该棱镜具有圆柱体和设置在柱体一端的圆锥部,该圆锥部的截面积朝圆锥部顶端逐渐变小。该棱镜由透光合成树脂制成。在全向光检测器使用过程中,圆锥部位于柱体上方,其轴线竖直。圆锥部具有作为其外围面的圆锥面,该圆锥面构成了用于将从外部源入射到圆锥面的光束反射到柱体中、并使其往下朝向柱体下端的反射面。

    半导体激光装置和光拾取装置

    公开(公告)号:CN1202694A

    公开(公告)日:1998-12-23

    申请号:CN98109223.3

    申请日:1998-05-22

    Abstract: 本发明揭示一种半导体激光装置和光拾取装置,包括在半导体激光装置(1)中,使得棱镜(5)将倾斜面(50)朝向辅助安装架(3)上的半导体激光器(4)的射出面,在倾斜面(50)上形成用于反射来自半导体激光器(4)的激光(L1)的一部分的进行了表面处理的反射区域(51)、和穿透折射残余的光并引导到在半导体基片(2)的表面部分(2b)上用棱镜覆盖的监控用光检测器(6)的感光面(6a)上的穿透折射区域(52),基于在感光面(6a)的感光结果、反馈控制半导体激光器的发光量。

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