-
公开(公告)号：CN1836280A
公开(公告)日：2006-09-20
申请号：CN200480023616.5
申请日：2004-08-12
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24065
Abstract: 一种光学记录介质(10)，设有支撑基板(11)和透光层(12)，以及，在透光层(12)与支撑基板(11)之间进一步具有电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、电介质层(32)、光吸收层(22)和电介质层(33)。第二电介质层(32)包含ZnS或者ZnS和SiO2的混合物作为主要成分，并且在其中将ZnS占ZnS和SiO2总量的比设定成摩尔百分比60％至100％。因为第二电介质层(32)的材料具备较高的硬度和柔软性两者，除此之外还具有较高的热传导率，能达到热传导率与层硬度的良好平衡，所以，可以用精确形状形成精细的记录标记。
-
公开(公告)号：CN101300624B
公开(公告)日：2011-02-02
申请号：CN200680040936.0
申请日：2006-12-20
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B20/10055
Abstract: 一种优化光记录介质的写入条件的方法，包括：在光记录介质上按照写入条件写入测试模式数据；将通过再现写入的测试模式数据检测的误差模式二进制信号与测试模式数据的校正模式二进制信号进行比较；以及基于比较的结果来确定光记录介质的最佳写入条件。
-
公开(公告)号：CN101300624A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200680040936.0
申请日：2006-12-20
IPC: G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B20/10055
Abstract: 一种优化光记录介质的写入条件的方法，包括：在光记录介质上按照写入条件写入测试模式数据；将通过再现写入的测试模式数据检测的误差模式二进制信号与测试模式数据的校正模式二进制信号进行比较；以及基于比较的结果来确定光记录介质的最佳写入条件。
-
公开(公告)号：CN100373467C
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200480018847.7
申请日：2004-06-29
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/125 , G11B7/24
CPC classification number: G11B7/00454 , G11B7/00452 , G11B7/24038 , G11B7/24065 , G11B7/243 , G11B2007/24304 , G11B2007/2432 , G11B2007/25706 , G11B2007/25715
Abstract: 一种光学记录介质(10)包括基板(11)、透光层(12)，和插入到所述透光层(12)和所述基板(11)之间的第一电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、第二电介质层(32)、光吸收层(22)、第三电介质层(33)、和反射层(21)。当将激光束(40)施加到透光层(12)侧时，将数据记录/再现。当λ为激光束(40)的波长并且NA为物镜的数值孔径时，将λ/NA设置为640nm或更小。当Pw和Pr分别为所述激光束(40)的记录功率和再现功率时，设置Pw×0.1≤Pr≤Pw×0.5。因此，记录包括长度为λ/4NA或更小的记录标记的记录标记序列和从所述记录标记序列再现数据。
-
公开(公告)号：CN1839433A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200480024159.1
申请日：2004-08-12
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/00452 , G11B7/00736 , G11B7/24065 , G11B7/243
Abstract: 本发明公开了一种光学记录介质，包括：支撑基板(11)和透光层(12)，以及，当从透光层侧观看，以下述次序在透光层与支撑基板(11)之间进一步设置的电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、电介质层(32)、光吸收层(22)和电介质层(33)。透光层(22)包含由下式表示的材料作为主要成分(SbaTe1－a)1－bMAb(其中，MA是除锑(Sb)和碲(Te)之外的元素，0＜a＜1且0≤b＜1=，此外，该材料区别于由下式表示的金属互化物{(GeTe)c(Sb2Te3)1－c}dMB1－d(其中，MB是除锑(Sb)、碲(Te)和锗(Ge)之外的元素，c为1/3、1/2或2/3，且0＜d≤1)。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1816850A
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200480018847.7
申请日：2004-06-29
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/125 , G11B7/24
CPC classification number: G11B7/00454 , G11B7/00452 , G11B7/24038 , G11B7/24065 , G11B7/243 , G11B2007/24304 , G11B2007/2432 , G11B2007/25706 , G11B2007/25715
Abstract: 一种光学记录介质(10)包括基板(11)、透光层(12)，和插入到所述透光层(12)和所述基板(11)之间的第一电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、第二电介质层(32)、光吸收层(22)、第三电介质层(33)、和反射层(21)。当将激光束(40)施加到透光层(12)侧时，将数据记录/再现。当λ为激光束(40)的波长并且NA为物镜的数值孔径时，将λ/NA设置为640nm或更小。当Pw和Pr分别为所述激光束(40)的记录功率和再现功率时，设置Pw×0.1≤Pr≤Pw×0.5。因此，记录包括长度为λ/4NA或更小的记录标记的记录标记序列和从所述记录标记序列再现数据。
-
公开(公告)号：CN101300628A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200680040836.8
申请日：2006-12-20
IPC: G11B7/125
CPC classification number: G11B7/005 , G11B7/1267
Abstract: 一种确定记录在光学记录介质上的标记的最佳再现条件的方法，其中，至少一个所述标记的长度小于拾取器的分辨率。所述方法包括：获得具有接近于拾取器的分辨率的长度的标记的最佳再现条件；和使用获得的最佳再现条件确定标记的最佳再现条件。
-
公开(公告)号：CN1839432A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200480024077.7
申请日：2004-06-30
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24065 , G11B7/00452 , G11B7/243
Abstract: 提供了一种光记录盘，即使当记录标记的长度或相邻记录标记之间的空白区域的长度比分辨率限制短时，它也能够对由包括记录标记和空白区域的记录标记阵列构成的数据进行记录/再现，这种光记录盘能够显著增加记录容量并且能够提高再现信号的C/N比。这种光记录盘包括基板(2)、第三电介质层(3)、光吸收层(4)、第二电介质层(5)、主要包括氧化铂的分解反应层(6)、第一电介质层(7)以及透光层(8)。分解反应层(6)的厚度为4－20nm。当用激光束(20)透过透光层(8)照射分解反应层(6)时，分解反应层(6)中的氧化铂被分解为铂和氧。如此产生的氧气形成腔，并且，由沉积在腔中的精细铂颗粒在分解反应层(6)上形成记录标记。
-
公开(公告)号：CN1826646A
公开(公告)日：2006-08-30
申请号：CN200480020933.1
申请日：2004-07-22
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/26 , G11B7/00452 , G11B7/252 , G11B7/2531 , G11B7/2533 , G11B7/2534 , G11B7/2536 , G11B7/2542 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/24322 , G11B2007/25706 , G11B2007/2571 , G11B2007/25715 , G11B2007/25716
Abstract: 本发明公开了一种光学记录介质(10)，它包括支撑基板(11)、透光层(12)、和插入到所述透光层(12)和所述支撑基板(11)之间的第一电介质层(31)、贵金属氮化物层(23)、第二电介质层(32)、光吸收层(22)、第三电介质层(33)、和反射层(21)。在本发明的光学记录介质中，激光束(40)从光入口面(12a)照射到基板上，来局部分解贵金属氮化物层(23)，并且能够通过由此产生的气泡坑来形成记录标记。由于充满形成记录标记的气泡坑的气体是化学性质稳定的氮气(N2)。所以所述气体氧化或腐蚀其它层的几率极低，从而可实现很高的存储可靠性。
-
公开(公告)号：CN1816856A
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200480018577.X
申请日：2004-06-30
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/00452 , G11B7/24 , G11B7/252 , G11B2007/24308 , G11B2007/2431 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316
Abstract: 本发明的目的是提供一种光学记录盘，包括：衬底(2)，第三介电层(3)，光吸收层(4)，第二介电层(5)，含有氧化铂作为主要成分的分解反应层(6)，第一介电层(7)，和光透射层(8)，其中第二介电层具有20nm至100nm的厚度，并且构成该光学记录盘，使得在从光透射层(8)这一侧用激光束(20)照射光学记录盘时，在分解反应层(6)中作为主要成分所含的氧化铂被分解成铂和氧，因此通过由此产生的氧气在分解反应层(6)中形成泡状凹坑，并且贵金属的细小颗粒沉淀在泡状凹坑内，由此在分解反应层(6)中形成了记录标志。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
20
records
(took 0.015 seconds)
