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公开(公告)号：CN110940644A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911113165.9
申请日：2019-11-14
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/55
Abstract: 本发明公开了一种二阶非线性光学测试装置及其测试方法，所述装置通过激光单元以预设角度小于90°向待测样品发射入射光，待测样品经入射光照射后产生反射光，该反射光为入射光的倍频光，然后利用检测单元接收反射光，并对反射光的信号强度进行检测，得到待测样品表面的二阶非线性光学信息。本发明适用于测试对激光有较强吸收的样品，本发明激光以预设角度入射待测样品，激光仅在待测样品的表面产生反射，避免了待测样品对激光的吸收；另外，本发明激光可以以小于90°的不同入射角入射待测样品，测试不同入射角的反射光信号强度，得到不同入射角待测样品的表面二阶非线性光学信息，测量结果更加可靠，方便快捷。
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公开(公告)号：CN110726673A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201810784523.8
申请日：2018-07-17
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明公开了一种用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法，包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，激光器与铁电晶体光路连接，光电探测器与铁电晶体光路连接；外场控制器向铁电晶体施加外场；数据采集控制单元与外场控制器控制连接。该探针以光学信息为检测手段，获取铁电晶体受外场影响发生相变的情况，为铁电晶体相变检测提供新的检测手段。本发明的又一方面还提供了该光学探针的检测方法。
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公开(公告)号：CN106299998A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610870591.7
申请日：2016-09-30
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: H01S3/115
CPC classification number: H01S3/115
Abstract: 本申请公开了一种可调谐电光调Q开关，其包括选频棱镜(L)和F-P标准具(FP)，所述F-P标准具包括互相平行的第一光学端面(f1)和第二光学端面(f2)，第一光学端面(f1)和第二光学端面(f2)之间构成反射腔，通过电光效应改变反射腔内的折射率，使得反射腔内的光束在相长干涉和相消干涉之间转换。根据本发明的可调谐电光调Q开关能够对激光的频率进行筛选并进行电光调制。此外，本申请还公开了一种激光器，其包括可调谐电光调Q开关和激光工作介质(LM)，通过改变选频棱镜(L)与激光工作介质(LM)之间的夹角，使激光工作介质产生的激光的波长发生相应改变。
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公开(公告)号：CN114384019B
公开(公告)日：2023-02-10
申请号：CN202111619336.2
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明公开了一种各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：泵浦源，和依次设置于泵浦源出光侧的谐振腔、放置于谐振腔内的激光介质、放置于谐振腔内的透明介质、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
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公开(公告)号：CN114384068A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111619346.6
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明公开了用于测量大尺寸各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：聚光腔、泵浦源、激光介质、激光谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块；所述泵浦源和激光介质设置于所述聚光腔内，其中，所述激光介质位于聚光腔的焦点处；所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114384067A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111619328.8
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明公开了一种各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：泵浦源、和在所述泵浦源出光侧依次设置的激光谐振腔，放置于激光谐振腔内的激光介质，偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
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公开(公告)号：CN114384018A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111616635.0
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明公开了用于测量大尺寸各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：聚光腔、固定于所述聚光腔的泵浦源、激光介质和透明介质、谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路；所述激光介质和泵浦源固定于所述聚光腔内，其中，所述激光介质位于聚光腔的焦点处；所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
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公开(公告)号：CN111077117A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911113144.7
申请日：2019-11-14
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/55
Abstract: 本发明公开了一种表面二阶非线性光学测试装置及其测试方法，所述装置通过激光单元以指定角度向待测样品发射入射光，利用检测单元接收入射光射向待测样品后产生的反射光，并对反射光的信号强度进行检测，得到待测样品表面的二阶非线性光学信息，其中反射光为入射光的倍频光。本发明通过测试激光以指定角度射向待测样品后产生的倍频激光来判断待测样品是否具有倍频效应以及倍频能力的强弱。本发明适用于测试对激光有较强吸收的待测样品，由于本发明激光以指定角度入射待测样品，入射激光仅在待测样品的表面产生反射，避免了待测样品对激光的吸收，测量结果更加可靠。
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公开(公告)号：CN110687021A
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201911032461.6
申请日：2019-10-28
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明公开了一种晶体颗粒度的光学检测装置及其检测方法，属于晶体颗粒度检测技术领域，能够解决现有颗粒度测量效率低、准确度差、测量成本高的问题。所述装置通过激光单元向待测晶体发射第一激光，利用检测单元接收从待测晶体出射的第二激光，并对第二激光的信号强度进行检测，其中第二激光的波长为第一激光波长的一半。本发明利用晶体在激光的作用下能产生非线性光学效应，使激光波长缩小一半，且非线性光信号强度对应晶体颗粒度的大小，检测单元接收该非线性光信号，并对其检测得到待测晶体的颗粒度数据。本发明结构简单，测量成本低，且通过非线性晶体的非线性光学性质作为测定颗粒度的依据，测量效率高，方便快捷，且测量结果准确度高。
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公开(公告)号：CN103018217A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210506697.0
申请日：2012-11-30
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/63
Abstract: 本发明公开一种外场诱导下的非线性光学测试系统。该系统由激光光源、前置光路处理模块、功能样品室、后置光路处理模块、探测模块、外场控制装置、数据采集装置、显示处理装置、暗盒等部分组成。该测试系统可进行温度、电场、磁场或力场等不同的外场加载，实现材料在不同外场诱导下的非线性光学性能测试，为评估新型功能材料的综合性能提供设备支持，有着迫切的应用需求和广阔的应用前景。
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