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公开(公告)号：CN107019518B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201610071120.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 吴明烨 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·埃迪克 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
Abstract: 本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。
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公开(公告)号：CN110678125A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201880013363.5
申请日：2018-01-05
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 金燕南 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 芮雪 , 付赓
Abstract: 本方法涉及基于硅的能量鉴别光子计数检测器的用途，诸如用于包括计算机断层摄影的基于X射线的成像。所描述的方法解决了受康普顿散射影响的X射线光子的分辨和分类，所述X射线光子可以被检测为由于碰撞或偏转事件而具有低于其本身级别的能级。
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公开(公告)号：CN110520760A
公开(公告)日：2019-11-29
申请号：CN201880015284.8
申请日：2018-01-11
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 付赓 , 芮雪 , 金燕南 , 郭建军 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 布莱恩·大卫·亚诺夫
IPC: G01T1/24
Abstract: 本方法涉及使用在检测器面板的主像素之间提供的参考像素。可以采用符合电路或逻辑，使得由同一X射线事件产生的测量信号可以在检测器面板上的适当位置处正确地，即，在参考像素和主像素两者处测量的信号可以被组合，以便提供所述测量信号的准确估计。
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公开(公告)号：CN107019518A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201610071120.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 吴明烨 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·埃迪克 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
Abstract: 本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。
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