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公开(公告)号：CN106405256B
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201610752000.6
申请日：2016-08-26
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。
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公开(公告)号：CN106249057B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610607127.9
申请日：2016-07-28
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种大型绕焦点转动波束扫描天线辐射特性等效测试方法，本发明采用旋转馈源等效旋转反射面的方式，通过方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术得到实际工作状态的方向图测试数据。将待测天线安装在转台上，使用经纬仪测量天线坐标系与场地坐标系关系，利用转台进行调整，然后用摄影测量调整馈源位置至设计位置，测量方向图。利用方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术将测得方向图变换至天线坐标系下，即实际工作状态。本发明与传统测试方法相比较，更好的模拟了绕焦点转动波束扫描天线在卫星上波束扫描的实际工作状态，更容易调整天线指向，降低的对天线工装的要求，严格的数学推导降低了幅度方向图直接平移带来的误差，以及确定了新坐标系原点下的相位方向图。
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公开(公告)号：CN106249057A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610607127.9
申请日：2016-07-28
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 一种大型绕焦点转动波束扫描天线辐射特性等效测试方法，本发明采用旋转馈源等效旋转反射面的方式，通过方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术得到实际工作状态的方向图测试数据。将待测天线安装在转台上，使用经纬仪测量天线坐标系与场地坐标系关系，利用转台进行调整，然后用摄影测量调整馈源位置至设计位置，测量方向图。利用方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术将测得方向图变换至天线坐标系下，即实际工作状态。本发明与传统测试方法相比较，更好的模拟了绕焦点转动波束扫描天线在卫星上波束扫描的实际工作状态，更容易调整天线指向，降低的对天线工装的要求，严格的数学推导降低了幅度方向图直接平移带来的误差，以及确定了新坐标系原点下的相位方向图。
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公开(公告)号：CN113671270B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202110826241.1
申请日：2021-07-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明涉及一种基于数字开关的天线测试方法，本发明采用信号多通道调制，在信号发射端进行信号调制编码，通过待测天线多端口发射，在接收端进行信号解调解码，得到不同通道对应的幅度和相位信息，最后经过数据处理，得到多端口天线的测试结果，实现了多端口天线同时测试。该技术是以传统天线测试系统为基础，加入信号编码技术，大幅提高多端口天线的测试效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117129770A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202310944638.X
申请日：2023-07-28
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，包括如下步骤：进行第一次安装和场地校准，建立太赫兹紧缩场测试环境；得到天线第一状态下的远场方向图 进行第二次安装和场地校准，得到天线第二状态下的远场方向图 进行坐标变换，得到第一状态坐标系下的第二状态方向图 得到去除紧缩场自身场地耦合的方向图 本发明降低了由于太赫兹频段紧缩场反射面加工所形成的栅网效应对于待测天线方向图结果的影响，提高了太赫兹紧缩场测试天线的精度。
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公开(公告)号：CN113671270A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110826241.1
申请日：2021-07-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明涉及一种基于数字开关的天线测试方法，本发明采用信号多通道调制，在信号发射端进行信号调制编码，通过待测天线多端口发射，在接收端进行信号解调解码，得到不同通道对应的幅度和相位信息，最后经过数据处理，得到多端口天线的测试结果，实现了多端口天线同时测试。该技术是以传统天线测试系统为基础，加入信号编码技术，大幅提高多端口天线的测试效率。
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公开(公告)号：CN112255469A
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN202010899976.2
申请日：2020-08-31
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种无参考信号的天线任意曲面近场测试相位获取装置和方法，该装置包括：信号源，用于产生射频测试信号；标准发射天线，用于将射频测试信号发送至处于接收状态的待测天线；待测天线，用于将射频测试信号发送至标准接收天线，以及生成的响应信号Ⅰ；标准接收天线，用于生成响应信号Ⅱ；数字接收机，用于对响应信号Ⅰ/Ⅱ进行处理后得到幅度和相位；控制计算机，用于根据幅度和相位进行近远场变换，得到远场方向图。本发明采用数字采样方式，通过“0”中频取得测试路相位，最终得到整个扫描面的所有位置的相位分布，无需参考路比幅比相即可得到不随时间变化的相位值；规避了平面近场在相位获取中对于参考信号的依赖。
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公开(公告)号：CN105515690B
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201510843306.8
申请日：2015-11-26
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法，该系统包括测试信号源、耦合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机；其中，测试通道包括发射模块、被测变频天线、第二混频模块和第三混频模块。本发明测试通道中的第二混频模块对被测变频天线输出的多频点信号进行变频处理，该混频模块的本振信号按照设定的频率列表顺序选取，并在每次接收到触发信号后轮换本振信号频率，从而实现各频点天线输出信号的分时测试，每次将其中一个频点的输出信号变频到射频发射信号频段，然后采用与参考模块相同的本振信号进行下变频，得到用于比相和比幅的中频参考信号和中频测试信号；这种测试方法可以确保链路信号的相位一致性，实现变频天线的平面近场快速扫频测试功能，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN106405256A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610752000.6
申请日：2016-08-26
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。
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