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公开(公告)号:CN107925716B
公开(公告)日:2020-07-07
申请号:CN201680050082.8
申请日:2016-07-26
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明创建了一种具有用于检测热像仪图像的传感器芯片(1)的微电子器件装置(100)。所述传感器芯片(1)具有前侧(VS)、背侧(RS)和侧面(SF),所述侧面(SF)将所述前侧(VS)与所述背侧(RS)相连。所述微电子器件装置(100)此外还包括至少一个分析电路(A1)和透镜,其中所述至少一个分析电路(A1)至少局部地以所述传感器芯片(1)的背侧(RS)和/或以所述传感器芯片(1)的侧面(SF)与所述传感器芯片(1)有接触,其中所述透镜(L1)布置在所述传感器芯片(1)的前侧(VS)上而且覆盖所述传感器芯片(1),其中所述传感器芯片(1)的侧面(SF)和/或所述分析电路(A1)的侧面(SA)以及所述透镜(L1)的侧面(SL)至少局部具有机械拆除的痕迹。
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公开(公告)号:CN107925716A
公开(公告)日:2018-04-17
申请号:CN201680050082.8
申请日:2016-07-26
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明创建了一种具有用于检测热像仪图像的传感器芯片(1)的微电子器件装置(100)。所述传感器芯片(1)具有前侧(VS)、背侧(RS)和侧面(SF),所述侧面(SF)将所述前侧(VS)与所述背侧(RS)相连。所述微电子器件装置(100)此外还包括至少一个分析电路(A1)和透镜,其中所述至少一个分析电路(A1)至少局部地以所述传感器芯片(1)的背侧(RS)和/或以所述传感器芯片(1)的侧面(SF)与所述传感器芯片(1)有接触,其中所述透镜(L1)布置在所述传感器芯片(1)的前侧(VS)上而且覆盖所述传感器芯片(1),其中所述传感器芯片(1)的侧面(SF)和/或所述分析电路(A1)的侧面(SA)以及所述透镜(L1)的侧面(SL)至少局部具有机械拆除的痕迹。
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