公开(公告)号：CN102435313B

公开(公告)日：2015-10-28

申请号：CN201110249799.4

申请日：2011-08-26

Applicant: 索尼公司

Inventor： 酒井启嗣

IPC: G01J3/36

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01N15/1429 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6441

Abstract: 本发明公开了荧光强度补偿方法及荧光强度计算装置，该荧光强度补偿方法包括，向用荧光波段彼此重叠的多种荧光染料多重标记的微粒照射光以激发荧光染料，并使用具有不同接收波段的光检测器接收由激发的荧光染料产生的荧光；以及通过在对算得的荧光强度赋予预定限制条件下补偿所述光检测器的检测值来计算所述荧光染料的荧光强度。

公开(公告)号：CN102313724B

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201110185326.2

申请日：2011-07-01

Applicant: 索尼公司

Inventor： 加藤泰信 ,  酒井启嗣

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N15/1429 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/53 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/4707 ,  G01N2021/4726 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6439 ,  G01N2201/1293

Abstract: 本发明提供了荧光强度校正方法和荧光强度计算装置，该荧光强度校正方法包括：利用具有不同输入波段的光检测器，接收通过对微粒照射光而被激发的荧光染料所发出的荧光，这些微粒被具有重叠荧光波长的多个荧光染料多重标记；收集光检测器的检测值，得到测定光谱；并且通过从各荧光染料单独标记的微粒得到的单染色光谱的线性和对测定光谱进行近似；其中，使用受限最小二乘法进行利用单染色光谱的线性和的测定光谱的近似。

公开(公告)号：CN102590046A

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201110380060.7

申请日：2011-11-25

Applicant: 索尼公司

Inventor： 铃木俊辅 ,  藤卷敦男 ,  酒井启嗣

IPC: G01N15/00 ,  G01N15/10

CPC classification number: G01N15/1429 ,  G01N15/1459 ,  G01N15/1463 ,  G01N2015/1006 ,  G01N2015/1402 ,  G01N2015/1445 ,  G01N2015/1477 ,  G01N2015/1493 ,  G06T19/00

Abstract: 本发明提供了3D数据分析装置、方法和程序，该3D数据分析装置包括：数据存储单元，被配置为存储微粒的测量数据；输入单元，被配置为从测量数据选择四种独立变量；数据处理单元，被配置为计算以所选的变量中的三种变量为坐标轴的坐标空间中的位置，根据所选变量中剩余的一种变量来计算图形，并创建表示微粒的特性分布的3D立体图像；显示单元，被配置为显示3D立体图像。

公开(公告)号：CN102435313A

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN201110249799.4

申请日：2011-08-26

Applicant: 索尼公司

Inventor： 酒井启嗣

IPC: G01J3/36

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01N15/1429 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6441

Abstract: 本发明公开了荧光强度补偿方法及荧光强度计算装置，该荧光强度补偿方法包括，向用荧光波段彼此重叠的多种荧光染料多重标记的微粒照射光以激发荧光染料，并使用具有不同接收波段的光检测器接收由激发的荧光染料产生的荧光；以及通过在对算得的荧光强度赋予预定限制条件下补偿所述光检测器的检测值来计算所述荧光染料的荧光强度。