公开(公告)号：CN101960331A

公开(公告)日：2011-01-26

申请号：CN200980106316.6

申请日：2009-02-19

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： W·吕腾 ,  T·普尔特 ,  R·基维特

IPC: G01T1/20

CPC classification number: G01T1/2018 ,  H04N5/32 ,  H04N5/357

Abstract: 根据本发明的实施例，对来自若干像素或子像素的信号进行比较，并且来自实质上比比较中的其他像素亮的像素或子像素的那些信号被排除对输出信号的贡献，以抑制X射线探测器中的直接探测事件。为此，X射线探测器装置(101)可以包括：-像素布置(303)的阵列(102)；-每个像素布置(303)包括用于将入射辐射转换为收集设备信号的至少一个辐射收集设备(311)，-切换布置(313、324、314、142；313、315、314、352、142；313、315、314；361)，其用于分别向一个输出元件(141)提供从至少一个像素布置(303)的多个辐射收集设备(311)的收集设备信号导出的信号。

公开(公告)号：CN1809761A

公开(公告)日：2006-07-26

申请号：CN200480017025.7

申请日：2004-06-15

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： S·J·比斯马 ,  T·萨凯 ,  T·普尔特 ,  M·J·波维尔

IPC: G01T1/169

CPC classification number: G01T1/2018

Abstract: 辐射探测器，包含电极结构(19、4、35)、置于该电极结构上的平整层(101)、以及覆盖该平整层的保护叠层(103、104、105)。该平整层使衬底上电极结构不同水平之间的巨大差异变得平坦，其中该电极结构置于该衬底上。因此，可以很大程度上避免该保护叠层中的裂纹、弱点、及其它缺陷。由于该平整层基本上覆盖了整个电极结构，实际上可以避免该保护叠层内的所有缺陷源，特别是裂纹。

公开(公告)号：CN102870007A

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：CN201180020847.0

申请日：2011-04-19

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： C·A·费许雷恩 ,  H·施泰因豪泽 ,  T·普尔特 ,  H·J·科内利森

IPC: G01T1/20

CPC classification number: G01T1/2002

Abstract: 本发明提出了一种X射线探测器（1），包括诸如CMOS光探测器的光探测装置（3）、诸如CsI：Tl层的闪烁体层（5）、反射体层（9）和介于闪烁体层（5）和反射体层（9）之间的发光层（7）。发光层（7）可以包括OLED，并且可以制成小于50μm的厚度。由此，可以改进X射线探测器的灵敏度和分辨率。

公开(公告)号：CN102066975A

公开(公告)日：2011-05-18

申请号：CN200980123927.1

申请日：2009-06-19

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： W·吕腾 ,  L·阿尔温 ,  T·F·布斯 ,  T·普尔特 ,  P·B·A·沃尔夫斯

IPC: G01T1/24

CPC classification number: G01T1/24 ,  H04N5/32 ,  H04N5/3559

Abstract: 本发明涉及一种X射线探测器及其像素电路，其允许覆盖大动态范围，其中自动选择每个像素中的灵敏度设置，因而为所有曝光等级提供了改进的信噪比。需要X射线探测器覆盖大动态范围。最大的曝光确定所需的像素电容。然而，大像素电容为小曝光提供了差的信噪比，例如在图像的黑暗部分中。本发明公开内容描述了在像素中提供自动灵敏度选择的数种方式。这确保了将低信号存储在小电容器中，或者以具有相应良好信噪比的高灵敏度读出低信号，而较大的信号存储在较大的电容器中，或者以较低灵敏度读出，从而不丢失信息。

公开(公告)号：CN101868836A

公开(公告)日：2010-10-20

申请号：CN200880116889.2

申请日：2008-11-17

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： B·P·A·J·霍恩阿尔特 ,  G·维斯英克 ,  T·普尔特

IPC: G21K1/00

CPC classification number: G21K1/00

Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(3)，其包括具有探测器元件(51)的周期性图案的探测器阵列(5)。每个探测器元件(51)包括用于将入射辐射转化成电荷的传感器元件(53)。传感器元件(53)以传感器中心距隔开。在探测器阵列(5)上设置成像辐射校准结构(7)。成像辐射校准结构具有辐射吸收元件的周期性图案，所述辐射吸收元件以校准器中心距隔开。辐射探测器(3)包括用于从电荷产生组合器信号的组合器，所述电荷来自在辐射吸收元件的图案的周期方向上相邻的偶数个传感器元件构成的组中的传感器元件(53)。校准器中心距约等于相邻传感器元件的构成的组的中心距的两倍。辐射探测器(3)还包括低通滤波器，该低通滤波器用于接收组合器信号并且抑制组合器信号的频率等于或高于与校准器中心距对应的校准器频率的分量，从而提供一种比已知辐射探测器更易制造，成像辐射校准结构的辐射吸收元件的定位精度相对低，在通过该探测器成像的物体图像中不引入可见的莫尔效应的辐射探测器。

公开(公告)号：CN101669041A

公开(公告)日：2010-03-10

申请号：CN200880013310.X

申请日：2008-04-17

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： T·普尔特

IPC: G01T1/20

CPC classification number: G01T1/2018

Abstract: 根据本发明的示范性实施例，提供了一种平板探测器，其中在透明衬底和CsI闪烁体之间设置不透明层。通过利用例如脉冲激光在不透明层中打开很多小孔使该层部分透明。这样能够通过不透明层向平板探测器前端内部施加光。

公开(公告)号：CN101237819A

公开(公告)日：2008-08-06

申请号：CN200680029143.9

申请日：2006-07-14

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： T·普尔特

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/087

CPC classification number: A61B6/504 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/4441 ,  A61B6/481 ,  A61B6/482 ,  A61B6/5264 ,  A61B6/542

Abstract: 本发明公开了一种用于动态成像序列中的双能量成像的系统和方法。所述系统和方法包括：x射线源(204)，其被配置成在该x射线源(204)的不同kV值下进行快速适配；平坦x射线检测器(202)，其具有并行的信号积分和读出；以及x射线控制器(206)，其与该x射线检测器(202)和x射线源(204)可操作地通信。该检测器(202)在第一kV值(302)下对与第一子图像(300)相对应的第一信号进行积分，对于每个像素把积分后的第一信号传送到采样保持节点，并且在第二kV值(306)下对与第二子图像(304)相对应的第二信号进行积分。该检测器(202)与从所述采样保持节点读出第一子图像并行地积分第二子图像(134)。该x射线控制器(206)控制所述x射线源(204)中的x射线脉冲的生成，并且在毫秒时间尺度上控制利用在不同kV值下生成x射线脉冲的x射线源(204)进行图像采集。