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公开(公告)号：CN101501527A
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200780030087.5
申请日：2007-08-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器，尤其是X射线探测器(100)，其包括对探测器的(子)像素(2)产生的电脉冲进行计数的计数电路(10，20，30)。在该计数电路中，每隔一段时间将快速计数级(10)计数的结果传送到慢速计数级(20)。快速计数级(10)例如可以包括具有低位深的快速计数器(111)，所述快速计数器(111)作为慢速计数级(20)中的高位深慢速计数器(121)前方的分频器而工作。任选地，可以经由多路复用器(4)向计数电路(10，20，30)提供若干(子)像素(2)的信号。此外，辐射装置的像素(1，2)可以任选提供能量分解脉冲。
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公开(公告)号：CN101410972A
公开(公告)日：2009-04-15
申请号：CN200780010965.7
申请日：2007-03-16
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: H01L23/48
CPC classification number: H01L21/76898 , H01L23/481 , H01L2224/0401 , H01L2224/05 , H01L2224/131 , H01L2924/014
Abstract: 本发明描述了一种用于半导体衬底(600)上形成的电子芯片的低欧姆晶片通孔互连(TWI)。该TWI包括在衬底(600)的前表面和背表面之间延伸的第一连接部(610)。第一连接部(610)包括填充有低欧姆材料的通孔，该材料的电阻率低于多晶硅。该TWI还包括也在前表面和背表面之间延伸的第二连接部(615)。第二连接部(615)与第一连接部(610)在空间上由半导体衬底(600)的至少一部分隔开。前表面设有集成电路布置(620)，其中，第一连接(610)电耦合到集成电路布置(620)的至少一个节点而不穿透集成电路布置(620)。在处理TWI期间，首先可以用非金属材料，例如多晶硅来填充通孔。当在前表面上形成集成部件(620)之后，可以减薄衬底(600)，并可以用低欧姆材料，尤其是金属材料来替代非金属材料。
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公开(公告)号：CN1768471A
公开(公告)日：2006-05-03
申请号：CN200480009053.4
申请日：2004-03-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： J·F·埃斯格维拉斯 , M·温德特 , R·斯特德曼
CPC classification number: H03F1/3264 , H03F1/30 , H03F3/217
Abstract: 近来，D类音频放大器的使用已经变得越来越普遍。与通常使用的A－B类线性放大技术相比，D类实现了改良的效率。然而，D类的原理因其较差的失真特性而著名。根据本发明，提供一种用于把输入信号变换为功率输出的数字放大器。根据本发明的数字放大器包括一个电源波纹预先补偿电路，用于根据输入信号补偿在提供给数字放大器的桥接电路的电源电压上的电压波纹。通过这样，可以补偿在提供给桥接器的电源电压中已被发现引起数字放大器的输出信号中的主要失真部分的电源波纹。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1742212A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN200480002950.2
申请日：2004-01-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： G·福格特迈尔 , F·莫拉莱斯塞尔拉诺 , R·斯特德曼
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018
Abstract: 本发明涉及用于检测X辐射的X射线检测器，特别地用于计算机层析X射线摄影(CT)系统中。根据本发明的X射线检测器由光敏器件组成，包括独立的检测器元件(1)，在这些检测器元件上布置闪烁器元件(2)。这些将入射X射线光(6)转换成利用位于检测器元件上的光电二极管(4)检测的可见光或UV光(7)。根据本发明，在闪烁器元件(2)和检测器元件(1)之间布置微透镜(3)，其将离开闪烁器元件(2)的光(7)聚焦在光电二极管(4)上。以这样的方式，有可能将检测器元件的大区域用于光电二极管(4)外部的其他电子元件(5)，并且同时保证高DQE(检测量子效率)，即，实际上充分利用离开闪烁器元件(2)的光(7)。同时，有效地阻止来自相邻检测器元件的散射辐射的串扰。
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公开(公告)号：CN101529274A
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200780039419.6
申请日：2007-10-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及用于探测X射线光子，尤其是计算机断层摄影设备中的光子(32、34)的装置(10)、成像设备和方法。将光子(32、34)转换成电脉冲，并采用鉴别器(20)将其与阈值进行比较。执行这些功能的电网络(12)包括开关元件(28)，所述开关元件能够改变处理信号沿其传输的电路径(22)。由电路径(22)的电状态导出用于起动开关元件(28)的触发信号(VT)。如果探测到了与光子(32、34)相关的脉冲，那么将起动开关元件(28)，从而避免源自于第一光子(32)的电荷脉冲的处理受到后续的第二光子(34)的影响。
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公开(公告)号：CN101443856A
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200680034322.1
申请日：2006-09-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G21K1/025 , A61B6/032 , A61B6/037 , A61B6/06 , A61B6/4258 , A61B6/4291
Abstract: 一种例如在CT或NM成像中采用的用于选择性吸收电磁辐射(2、3)的格栅(1)，包括：硬质泡沫材料块(4)，其中所述泡沫材料对电磁辐射(2、3)基本上是透明的；第一组辐射吸收薄片(5)；以及第二组辐射吸收薄片(6)，所述第一组和第二组薄片设置在泡沫材料块中，使得限定出了辐射透射方向(T)，所述第一组薄片和所述第二组薄片设置在彼此的相对于透射方向(T)的顶部上。这种格栅装置由于使用了载体材料所以是刚性的，可以精确制造，并且还可以制造二维格栅，而不需要在物理上交叉这些薄片。
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公开(公告)号：CN100350270C
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：CN200480002950.2
申请日：2004-01-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： G·福格特迈尔 , F·莫拉莱斯塞尔拉诺 , R·斯特德曼
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018
Abstract: 本发明涉及用于检测X辐射的X射线检测器，特别地用于计算机层析X射线摄影(CT)系统中。根据本发明的X射线检测器由光敏器件组成，包括独立的检测器元件(1)，在这些检测器元件上布置闪烁器元件(2)。这些将入射X射线光(6)转换成利用位于检测器元件上的光电二极管(4)检测的可见光或UV光(7)。根据本发明，在闪烁器元件(2)和检测器元件(1)之间布置微透镜(3)，其将离开闪烁器元件(2)的光(7)聚焦在光电二极管(4)上。以这样的方式，有可能将检测器元件的大区域用于光电二极管(4)外部的其他电子元件(5)，并且同时保证高DQE(检测量子效率)，即，实际上充分利用离开闪烁器元件(2)的光(7)。同时，有效地阻止来自相邻检测器元件的散射辐射的串扰。
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公开(公告)号：CN101027000A
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：CN200580012066.1
申请日：2005-03-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明涉及一种用于检测和/或发射辐射的装置，尤其是X射线检测器1，该装置包括其上安装有检测器模块20阵列的载架10。载架10包括孔11，位于检测器模块20背面的球可以穿过该孔而插入，以便固定模块并使模块仍然可以一定程度地旋转。由于这种旋转自由度，检测器模块20就可在装配过程中自对准。
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