公开(公告)号：CN102099661A

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN200980126831.0

申请日：2009-07-02

Applicant: 海因兹仪器公司

Inventor： 王宝良

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01N21/23 ,  G02F1/0131

Abstract: 提高用于测量光学样本的双折射的系统的通量包括用于引导多个光束通过该系统的光弹性调制器构件的技术，以便连同被扩展以适合多个光束的检测机构一起地，横跨样本的、迄今的行扫描(经由单一光束)被显著地放大，从而覆盖样本区域的“条带”的几行被本发明的系统所扫描。

公开(公告)号：CN100541149C

公开(公告)日：2009-09-16

申请号：CN02820533.2

申请日：2002-10-16

Applicant: 海因兹仪器公司

Inventor： 王宝良

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01N21/23

Abstract: 提供采用Soleil-Babinet补偿器(101)作为校准双折射测量系统的标准的系统和方法。通过这里描述的方法可以实现高精度和可重复的校准，因为除了其它优点外，该具有创造性的方法可以计算Soleil-Babinet补偿器(101)整个表面的不同双折射。这里描述的校准技术可以用于具有测量双折射水平范围的各种光学装置和各种频率的光源的双折射测量系统中。