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发明公开
γ射线检测器有权

公开(公告)号：CN110412641A

公开(公告)日：2019-11-05

申请号：CN201910339439.X

申请日：2019-04-25

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 大田良亮 , 须山本比吕 , 下井英树

IPC: G01T1/167 , G01T1/16

Abstract: γ射线检测器是检测γ射线的检测器，包括具有入射窗和光电面的光电倍增管。入射窗是切伦科夫辐射体。光电面隔着中间层形成于入射窗中的真空侧的面。中间层的厚度为通过γ射线与入射窗相互作用而释放的切伦科夫光的波长以下。

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