一种基于转镜的并行三维灰度激光直写方法和装置

    公开(公告)号:CN116382044A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310467150.2

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 本申请涉及一种基于转镜的并行三维灰度激光直写光刻方法,其中,该方法包括:通过刻写激光器,生成刻写激光;根据光学衍射器件和刻写激光,生成多路刻写光束;根据待刻写结构的二维灰度图产生三维灰度刻写数据;基于转镜并行刻写算法和多路刻写光束的光束数,将三维灰度刻写数据拆分并写入到波形发生器的不同输出通道;在位移台移动到目标位置时,利用波形发生器的不同输出通道的三维灰度刻写数据,控制多通道声光调制器各个对应的通道的开关或振幅调制,完成对待刻写结构进行并行刻写。通过本申请,解决了相关技术中存在三维激光刻写时容易出现明显的台阶现象问题,提高了三维激光刻写速度,消除了三维激光刻写时明显的台阶现象。

    一种基于转镜的光存储信息的高速读取方法及装置

    公开(公告)号:CN116312652A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310133694.5

    申请日:2023-02-07

    Abstract: 一种基于转镜的光存储信息的高速读取方法,包括:使转镜在固定转速下沿着X方向匀速转动;计算采集卡接收到转镜行脉冲后每次采集的延迟时间;控制大行程气浮位移台在Y方向执行一次匀速运动,并在经过采集区域的起始位置时,产生位置触发信号,使能采集卡采集光强信号;采集卡使能后,每接收到一个行脉冲,采集卡采集一行的光强信号,经处理后转换为图像中的一行数据;采集到该区域的图像数据后,经过一系列处理得到该采集区域的二值化数据信息;大行程气浮位移台移动到下一个采集区域,重复执行上述步骤,得到整个采集区域的二值化数据;Z轴位移台移动到采集区域的下一层,重复上述过程,直至采集完整个三维区域内的所有二值化数据,并根据存储时已知的算法进行解码,得到该整个三维区域内的原始存储数据。

    基于双步双光子效应的高通量超分辨纳米刻写方法与装置

    公开(公告)号:CN115826364A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211493606.4

    申请日:2022-11-25

    Abstract: 本发明公开一种基于双步双光子效应的高通量超分辨纳米刻写方法与装置,将存在延时的一个激发光和一个促进光合束,入射到数字微镜器件,随后成像到三维样品台的基板上涂覆的具有双步双光子效应的光刻胶上;根据所需刻写结构控制数字微镜器件,完成基板所在焦面处的曝光,同时控制三维样品台,以及激发光和促进光的延时,使延时大于光刻胶分子的单重态的激发态S1到多重态T1,进而实现双步双光子效应,实现任意三维纳米结构的刻写;激发光和促进光为同一波长且重复频率相同的激光束,且激发光的脉宽为飞秒,促进光的脉宽为皮秒或者纳秒。本发明实现超分辨激光刻写,并且结合数字微镜器件,进而实现高通量刻写能力。

    一种基于共焦光路像素差分的焦面检测方法及装置

    公开(公告)号:CN115826214A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211480569.3

    申请日:2022-11-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于共焦光路像素差分的焦面检测方法,该方法基于分别放置在共焦差分光路中的焦前和焦后位置上的两路图像传感器,通过将两路图像传感器获取的离焦光斑形状进行差分,结合后期图像处理,实现了焦面的实时探测跟踪与补偿。还公开了一种基于共焦光路像素差分的焦面检测装置,包括位于光学系统中心光轴上依次排布的光源、滤波准直装置、二分之一波片、偏振分光棱镜、四分之一波片、物镜、样品,以及与偏振分光棱镜共轴依次布置的会聚透镜、分光棱镜和两路图像传感器。本发明与现有的其他焦面检测方法相比,具有装置简单,抗干扰能力强的优点,能实现高精度焦面跟踪定位与补偿。

    一种基于方形多模光纤高通量的三维激光直写方法及系统

    公开(公告)号:CN115598833A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202211046913.8

    申请日:2022-08-30

    Abstract: 本发明提供了一种基于方形多模光纤高通量的三维激光直写方法及系统,本发明将由多个方形多模光纤组成的光纤阵列作为激光直写头,每一方形多模光纤均利用一空间光调制器对入射方形多模光纤的光场根据加载的计算好的相位图进行相位调制,在出射面实现聚焦,聚焦后的激光对待加工物体进行三维激光直写;其中,每一方形多模光纤对应的计算好的相位图通过设置的聚焦位置,利用闭环的迭代遗传算法进行优化获得,每一方形多模光纤出射激光的聚焦位置根据光纤阵列排列时的加工误差进行设置。利用方形多模光纤可以紧致排列的特点,可将系统拓展为多通道,继而实现多通道并行直写,直写效率进一步提高,解决了现有激光直写系统直写速度慢分辨率低等问题。

    一种高速高精度对准的激光直写光刻方法与装置

    公开(公告)号:CN115327867A

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202211253404.2

    申请日:2022-10-13

    Abstract: 本发明公开了一种高速高精度对准的激光直写光刻方法与装置,使用位移台与转镜同步运动算法,首先基于激光器产生激光束,基于电光/声光调制器实现激光强度高速调制,基于任意波形发生器产生高速调制信号控制;然后启动位移台,按照预设路径移动,经过预设触发位置时产生触发信号;再基于数据采集卡采集触发信号,获得触发后打开转镜触发激光器,基于转镜位置激光器获得转镜扫描起始点信号,用于启动任意波形发生器输出高速调制信号;最后位移台匀速移动到下一个触发位置产生触发信号,直到位移台预设路径移动结束,完成刻写。本发明基于位移台与转镜同步运动算法,有效解决了现有激光直写光刻系统无法实现高速高精度对准的问题。

    基于SLM生成光斑点阵的焦面检测及调倾方法与装置

    公开(公告)号:CN115046744B

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202210975776.X

    申请日:2022-08-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于SLM生成光斑点阵的焦面检测及调倾方法与装置,所述方法在SLM上加载n×n圆形点阵,入射光束依次经过三角棱镜第一反射面、SLM、三角棱镜第二反射面、二分之一波片、偏振分束镜、四分之一波片、透镜、物镜,入射到样品表面;经样品表面反射后,反射光依次经过物镜、透镜、四分之一波片和偏振分束镜后,分束为第一光束和第二光束;其中,第一光束入射到第一CCD相机进行成像,第二光束入射到第二CCD相机进行成像,记录两个CCD相机上的光斑点阵的直径;基于两光斑点阵的直径的差值计算离焦量,进而获得焦点位置;并计算样品的倾斜度,从而对焦面进行调倾。本发明解决焦面倾斜问题,装置简单,成本低。

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