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公开(公告)号：CN106940324A
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201611078723.9
申请日：2016-11-29
Applicant: 波音公司
IPC: G01N23/20
CPC classification number: G01N23/203 , G01N2223/053 , G01N2223/303 , G01N23/20 , G01N2223/1016 , G01N2223/302 , G01N2223/615 , G01N2223/646
Abstract: 本公开涉及用于检测结构变化的X射线散射系统和方法。本公开的实施例提供用于检测结构的一个或多个热和/或机械属性的系统和方法。该方法可包括由形成结构的材料形成一个或多个测试结构；生成并存储从一个或多个测试结构确定的校准数据；将X射线辐射发射到结构中；检测来自结构的X射线散射；以及基于所检测的X射线散射和校准数据确定结构的一个或多个属性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114798398A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210068612.9
申请日：2022-01-20
Applicant: 波音公司
Inventor： 莫尔塔扎·萨法伊
Abstract: 本申请公开了一种柔电超声换能器成像系统，包括聚四氟乙烯(PTFE)层、多个柔电UT换能器以及多路复用器。PTFE层包括前表面和后表面，并且多个柔电UT换能器附接至PTFE层的后表面。每个UT换能器具有前端和后端，并且每个柔电UT换能器的前端附接至PTFE层的后表面。柔电UT换能器沿着PTFE层的后表面布置为二维阵列，并且每个柔电UT换能器被配置为在PTFE层的后表面的法线方向上振动。多路复用器与每个柔电UT换能器信号通信，其中，柔电UT换能器夹在多路复用器与PTFE层之间。
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公开(公告)号：CN108724694B
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN201810356994.9
申请日：2018-04-19
Applicant: 波音公司
IPC: B29C64/106 , B29C64/393 , B33Y50/02 , B33Y70/10 , B82Y30/00
Abstract: 本发明提供了用于过程监控和反馈控制的纳米结构，提供各种技术来利用纳米结构用于过程监控和反馈控制。在一个实例中，方法包括形成包含分布在其中的纳米结构的材料的层。每个纳米结构包括量子点和包封量子点的壳。壳和量子点配置为响应于激发信号而分别发射第一和第二波长。该方法进一步包括将激发信号施加到材料的层的至少一部分。该方法进一步包括检测来自材料的层的一部分的发射信号，其中发射信号由纳米结构的至少一个子集响应于激发信号而提供。该方法进一步包括基于至少发射信号的波长确定是否已经满足制造特性。还提供了相关的系统和产品。
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公开(公告)号：CN111323442A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201911252629.4
申请日：2019-12-09
Applicant: 波音公司
Inventor： 莫尔塔扎·萨法伊
IPC: G01N23/203 , G01N23/20 , G01N23/04
Abstract: 本文公开了用于x射线检查的系统和方法。用于x射线检查的系统包括x射线发射器。该系统还包括x射线传感器阵列，该x射线传感器阵列包括第一x射线传感器、与第一x射线传感器相邻的第二x射线传感器，以及能移动地将第一x射线传感器耦接到第二x射线传感器的耦接器。第一x射线传感器能经由耦接器相对于第二x射线传感器移动到多个方位。该系统还包括成像装置，以基于来自x射线传感器阵列的信息来生成检查图像。
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公开(公告)号：CN108724694A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810356994.9
申请日：2018-04-19
Applicant: 波音公司
IPC: B29C64/106 , B29C64/393 , B33Y50/02 , B33Y70/00 , B82Y30/00
CPC classification number: B29C64/386 , B33Y10/00 , B33Y50/00 , B82Y35/00 , B82Y40/00 , Y10S977/774 , Y10S977/892 , Y10S977/955 , Y10S977/956 , B29C64/106 , B29C64/393 , B33Y50/02 , B33Y70/00 , B82Y30/00
Abstract: 本发明提供了用于过程监控和反馈控制的纳米结构，提供各种技术来利用纳米结构用于过程监控和反馈控制。在一个实例中，方法包括形成包含分布在其中的纳米结构的材料的层。每个纳米结构包括量子点和包封量子点的壳。壳和量子点配置为响应于激发信号而分别发射第一和第二波长。该方法进一步包括将激发信号施加到材料的层的至少一部分。该方法进一步包括检测来自材料的层的一部分的发射信号，其中发射信号由纳米结构的至少一个子集响应于激发信号而提供。该方法进一步包括基于至少发射信号的波长确定是否已经满足制造特性。还提供了相关的系统和产品。
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公开(公告)号：CN107305197A
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：CN201710255430.1
申请日：2017-04-19
Applicant: 波音公司
CPC classification number: G01N29/262 , B06B1/045 , B06B2201/53 , B81B2201/0271 , B81C3/001 , B82Y30/00 , C01B32/16 , C01B32/168 , C01B2202/08 , G01N29/043 , G01N29/2431 , G01N2291/023 , G01N2291/0427 , G01N2291/044 , G01N2291/106 , G01N2291/2632 , G01N2291/2638 , G01N29/0654 , G01N29/069 , G01N29/34 , G01N2291/0289
Abstract: 本发明涉及检查零件的装置和方法。使用碳纳米管(CNT)将相位阵列中的多个微机电系统(MEMS)换能器耦接到柔性基板以用于共形超声扫描。每一个换能器包括悬臂、沉积在悬臂上的磁性材料和相对于磁性材料定位的螺线管。碳纳米管在悬臂上生长并且将换能器机械地耦接到柔性基板的一侧。柔性基板的另一侧被施加到被检查零件的表面，并且当螺线管被处理器通电时，换能器电连接到处理器以引起悬臂的运动。悬臂的运动导致碳纳米管的运动，从而将力施加到柔性基板，导致透过该零件的超声波。来自超声波的返回被处理器解释以产生零件的图像。
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