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公开(公告)号:CN102901870A
公开(公告)日:2013-01-30
申请号:CN201210314837.4
申请日:2012-08-30
Applicant: 河南科技大学
Abstract: 本发明涉及一种基于单片机的频率测试系统及上使用上述系统的测试方法,属于频率测量技术领域。本发明以单片机为核心,利用单片机对外部待测信号的上升沿进行计数,得到待测信号的频率,通过其SPI接口传递给串行LED显示芯片,进而驱动数码管显示频率值,另一方面单片机根据信号的频率范围,控制计数器的计数初值,实现测量范围的自动切换。本发明不仅可以测试1Hz以上的信号频率,也可以测试1Hz以下的信号频率,并且可以实现测量范围的自动切换。
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公开(公告)号:CN202886465U
公开(公告)日:2013-04-17
申请号:CN201220436952.4
申请日:2012-08-30
Applicant: 河南科技大学
IPC: G01R23/02 , G05B19/042
Abstract: 本实用新型涉及基于单片机的频率测试系统,属于频率测量技术领域。本实用新型以单片机为核心,利用单片机对外部待测信号的上升沿进行计数,得到待测信号的频率,通过其SPI接口传递给串行LED显示芯片,进而驱动数码管显示频率值,另一方面单片机根据信号的频率范围,控制计数器的计数初值,实现测量范围的自动切换。本实用新型不仅可以测试1Hz以上的信号频率,也可以测试1Hz以下的信号频率,并且可以实现测量范围的自动切换。
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公开(公告)号:CN202475379U
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN201220008691.6
申请日:2012-01-10
Applicant: 河南科技大学
IPC: H03K3/02
Abstract: 本实用新型涉及一种基于微控制器的波形产生系统,包括微控制器、双端口SRAM、时钟芯片、分频器、可逆二进制计数器、计数器、选择开关、同相比例放大电路和反相比例放大电路,微控制器分别与双端口SRAM、分频器和可逆二进制计数器相连,时钟芯片的输出端与分频器的输入端相连,分频器的输出端与可逆二进制计数器相连,双端口SRAM的输出端与同相比例放大电路和反相比例放大电路的输入端相连,同相比例放大电路和反相比例放大电路的输出端与模拟开关相连,计数器的输出端和模拟开关的控制端相连。本实用新型可以提高每个周期内数据个数,从而提高波形精度,排除掉重复性数据后,只存储基本波形数据,可以减少SRAM的大小,降低设计成本。
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