一种液晶光弹性应力测量仪及测量方法

    公开(公告)号:CN113008427B

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202110219338.6

    申请日:2021-02-26

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种液晶光弹性应力测量仪及测量方法,属于光弹性测量的技术领域。所述液晶光弹性应力测量仪包括双波长LED面光源,所述双波长LED面光源先后发出波长为λ1和波长为λ2两种频率的光;在所述双波长LED面光源出射光线的传播路径上依次设有第一偏振片、TN型液晶面板、第一四分之一波片、第二偏振片和光电探测器。本发明公开的液晶光弹性应力测量仪利用对光电液晶旋光特性的控制替代传统光弹测量技术中的偏振片及机械旋转构件,可实现电脑端数字化调控,方便可靠,且仪器结构简化,体积轻便,易于集成;在不显著增加仪器重量的条件下,可对大口径样品进行测量,对待测样品尺寸没有限制,实现光弹性测量仪器的可便携化。

    一种基于三波长照明光源的光弹性应力测量系统与方法

    公开(公告)号:CN113514178A

    公开(公告)日:2021-10-19

    申请号:CN202110410966.2

    申请日:2021-04-16

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于三波长照明光源的光弹性应力测量系统与方法,属于光弹性测量的技术领域。所述光弹性应力测量系统包括图像获取模块,用于分别获取波长λ1、波长λ2和波长λ3光源照明下消除背景光的条纹强度分布;主应力差计算模块,用于采集图像获取模块获得的图像条纹信息并求解待测样品的主应力差;主应力方向计算模块,用于采集图像获取模块获得的图像条纹信息并求解待测样品主应力方向。本发明使用方便,测量速度快;极大减小了高级次条纹处理时的误差,拓展了光弹性应力测量的范围;能够对含有误差的曲线段进行处理,准确测得样品的主应力方向和主应力差大小,显著消除了双波长测量方法产生的误差,具有测量精度高的优势。

    双波长面型测量仪及测量方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115597522A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202211267558.7

    申请日:2022-10-17

    Abstract: 本发明公开了一种双波长面型测量仪及测量方法,属于干涉测量技术领域。该测量仪包括第一激光光源和第二激光光源,在所述第一激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第一衰减器、第一反射镜、第一空间滤波器、第一扩束准直器、第二反射镜、第三反射镜、第四反射镜和第二分光棱镜,作为参考光路;在所述第二激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第二衰减器、第二空间滤波器、第二扩束准直器和第二分光棱镜,作为物光路。本发明测量精度高,测量速度快,是一种非接触式测量方法,对测量物体不会有任何损害;由于是双波长产生的合成波长,当两个波长相差较小时可以增大被测物体的可测尺寸,具有测量范围更广的优势。

    一种光学元件激光损伤三维测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN115523865A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202211294884.7

    申请日:2022-10-21

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种光学元件激光损伤三维测量装置和测量方法,属于三维测量技术领域。该装置是在反射全息光路中利用显微物镜实现大曲率照明和放大成像,通过样品空间平移实现视场拓展和波前曲率连续调节,采用全息方法获取样品平移时的反射光信息和照明光分布,进而利用这些反射光信息和照明光分布数值重构出待测光学元件的三维透过率分布,实现光学元件激光损伤的三维测量。本发明能够测量出光学元件激光损伤点附近的透过率和折射率的三维分布,可为光学元件的激光损伤修复提供参数依据。

    基于双环型纳米狭缝阵列的角动量探测装置和方法

    公开(公告)号:CN109916511B

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201910204215.8

    申请日:2019-03-18

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了基于双环型纳米狭缝阵列的角动量探测装置和方法,属于基于表面等离子光学探测技术领域。本发明设计的基于双环型纳米狭缝的自旋及轨道角动量探测装置能够实现对SAM和OAM的同时测量,使用该基于双环型纳米狭缝的自旋及轨道角动量探测装置对SAM、OAM或对SAM和OAM混合进行探测时,准确度均能达到100%。

    基于神经网络的高功率激光近远场测量装置及方法

    公开(公告)号:CN117490836A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311304459.6

    申请日:2023-10-10

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了基于神经网络的高功率激光近远场测量装置及方法,属于激光束质量检测领域。所述方法包括:将待测激光束分成两束具有相同空间分布的激光;所述两束激光中的一束经过空间调制,另外一束不经过空间调制;探测器同时记录经过空间调制后和未经空间调制的光强;所述未经空间调制的光强作为神经网络数据集输入图像,使用相干调制成像从所述经空间调制的光强中重建的激光近远场分布作为神经网络数据集标签;使用所述的数据集训练神经网络;实际测量时,将未经空间调制的光强输入神经网络,得到激光近远场分布。本发明通过使用神经网络,解决了高功率激光近远场测量速度慢的问题,达到了激光质量实时监控的效果。

    数字全息深度分辨成像装置和成像方法

    公开(公告)号:CN115598955A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202211241938.3

    申请日:2022-10-11

    Abstract: 本发明公开了一种数字全息深度分辨成像装置和成像方法,属于数字全息三维成像技术领域。本发明的装置和方法在反射全息光路中通过在一维方向平移样品来连续改变照明光的波前曲率,采用全息方法在反射全息光路中获取样品平移时的反射光信息,成像装置及图像获取过程都相对简单,且能够将高透过率样品的复振幅信息按深度有效分离出来,所需计算时间少,能够有效缩短重构三维图像所需的时间。本发明装置结构简单,计算效率高,成像速度得到提升,可应用于高精度三维测量领域。

    一种圆偏光光弹性应力测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN114061803B

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202111447879.0

    申请日:2021-11-29

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种圆偏光光弹性应力测量系统及测量方法,属于光弹性测量的技术领域。所述圆偏光光弹性应力测量系统包括双波长光源,起偏器,消色差四分之一波片,检偏器,成像透镜,光电探测器。本发明公开的圆偏光光弹性应力测量仪结构简单,使用方便,测量速度快;仪器所采用的各个结构工艺成熟,加工成本低,可实现大尺寸加工,对样品尺寸没有限制,测量范围更广;本发明公开的圆偏光光弹性应力测量方法,采用双波长光源照明,通过记录不同光源下应力条纹的分布及其微小差异,避免了难以区分等色线和等差线,以及反三角函数计算过程中难以确定条纹级次的问题,最终可以得到精确的应力大小。

    一种基于三波长照明光源的光弹性应力测量系统与方法

    公开(公告)号:CN113514178B

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202110410966.2

    申请日:2021-04-16

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于三波长照明光源的光弹性应力测量系统与方法,属于光弹性测量的技术领域。所述光弹性应力测量系统包括图像获取模块,用于分别获取波长λ1、波长λ2和波长λ3光源照明下消除背景光的条纹强度分布;主应力差计算模块,用于采集图像获取模块获得的图像条纹信息并求解待测样品的主应力差;主应力方向计算模块,用于采集图像获取模块获得的图像条纹信息并求解待测样品主应力方向。本发明使用方便,测量速度快;极大减小了高级次条纹处理时的误差,拓展了光弹性应力测量的范围;能够对含有误差的曲线段进行处理,准确测得样品的主应力方向和主应力差大小,显著消除了双波长测量方法产生的误差,具有测量精度高的优势。

Patent Agency Ranking