磁偏、磁饱和、或磁通量的检测器

    公开(公告)号:CN103969600A

    公开(公告)日:2014-08-06

    申请号:CN201410040950.7

    申请日:2014-01-27

    Inventor: 梅谷和弘

    CPC classification number: G01R33/02 G01R33/1215

    Abstract: 检测器包括检测绕组(21,22,27,28)、检测绕组测量部(24)、和检测部(23)。磁芯(11,61,71,81,92)具有沿着非均匀截面穿透磁芯的孔(11b,11c,11e,11f,11g,11h,61d,61e,71b,81b,92b)。检测绕组包括导线,该导线插入该孔中并围绕检测区域(11dx,11dy,11ix,11iy)的周边,该检测区域是非均匀截面的一部分并具有与非均匀截面的平均磁通密度不同的磁通密度。检测绕组测量部执行与由检测绕组所感应的电动势相关的测量。检测部基于检测绕组测量部的测量结果来检测磁芯中的磁偏、磁饱和、或磁通量。

    磁路部件
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106663527B

    公开(公告)日:2020-02-18

    申请号:CN201580037000.1

    申请日:2015-06-30

    Abstract: 磁路部件具备磁芯(35,45,55,65)、以及对磁芯卷绕导体(2,12,22,32,42,52,62,72,82,102,112,122)而成的线圈(1,11,21,31,41,51,61,71,76,78,81,85,87,101,111,121)。磁路部件设置有由软磁性材料构成的磁性体部(4,14,24,34,44,54,64,74,77,79,84,86,88,104,114,124),该磁性体部覆盖线圈的表面的一部分或全部,并且与磁芯分离地配置。

    磁路部件
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106663527A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201580037000.1

    申请日:2015-06-30

    Abstract: 磁路部件具备磁芯(35,45,55,65)、以及对磁芯卷绕导体(2,12,22,32,42,52,62,72,82,102,112,122)而成的线圈(1,11,21,31,41,51,61,71,76,78,81,85,87,101,111,121)。磁路部件设置有由软磁性材料构成的磁性体部(4,14,24,34,44,54,64,74,77,79,84,86,88,104,114,124),该磁性体部覆盖线圈的表面的一部分或全部,并且与磁芯分离地配置。

    谐振电流限定设备
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105375742A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201510512598.7

    申请日:2015-08-19

    Inventor: 梅谷和弘

    Abstract: 一种用于谐振电流通路(15、33、47)的谐振电流限定设备,所述谐振电流通路具有包括至少一个电容器(C2)和布线通路的回路形状,所述布线通路具有至少一个电感器(L1、L2、CML1、CML2)或电感部件,所述谐振电流限定设备包括:电气储存元件(C0),其与所述电容器串联连接;驱动电源(11、45);以及电压控制器(22、34、44、51),其对所述电气储存元件中的电荷进行充电和放电,所述电荷由所述驱动电源供应,所述电压控制器将所述电气储存元件的端电压控制为预先确定的指令电压,并限制流过所述布线通路的谐振电流分量。

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