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公开(公告)号：CN101520422A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200910132664.2
申请日：2004-03-11
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G21K1/06 , G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。
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