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公开(公告)号：CN113287004A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201980088745.9
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 佐藤孝
IPC: G01N23/20025 , G01N23/205 , G01N23/207 , G01N1/10 , G01N1/28
Abstract: 提供一种迅速地进行基于细孔性络合物结晶(晶体海绵)的单晶X射线结构解析、使得包括关联信息的管理在内容易的用户友好的单晶X射线结构解析装置和方法。单晶X射线结构解析装置具备：X射线源，产生X射线；试样保持架，包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；测角仪，安装并转动试样保持架；X射线照射部，对安装于测角仪的试样保持架中所保持的试样照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，检测通过试样衍射或者散射的X射线来进行测定；结构解析部，基于由X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线进行试样的结构解析；信息取得部(600)，取得与细孔性络合物结晶相关的不变信息或者试样的吸藏以后的可变信息；以及信息保存部(111)，保存在信息取得部(600)取得的不变信息或者可变信息。
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公开(公告)号：CN113167748B
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN201980076995.0
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 佐藤孝
IPC: G01N23/20025 , G01N23/205 , G01N23/207 , G01N1/28
Abstract: 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线结构解析的单晶X射线结构解析装置、用于此的方法、试样固定器组件。具备：保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器250中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；将试样固定器(250)装备于能拆装的敷料器而提供，试样固定器(250)包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，敷料器具备：用于使试样吸藏在试样固定器(250)的细孔性络合物晶体的空间。
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公开(公告)号：CN119301440A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202380043126.4
申请日：2023-06-19
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/201
Abstract: 提供能识别分子的构成要素的形态的形态解析装置、形态解析方法以及形态解析程序。一种对溶液中的分子的形态进行解析的形态解析装置(200)，具备：参照数据存储部(234)，其存储参照数据，所述参照数据是事先确定出的被检分子的分子形状数据；对象数据存储部(235)，其存储对象数据，所述对象数据是成为解析对象的所述被检分子的分子形状数据；以及形态推定部(237)，其通过确定所述对象数据相对于所述参照数据的构成分子形状的物理量的状态来推定所述对象数据中的分子的构成要素的形态，所述参照数据和所述对象数据均具有分子水平的分辨率。
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公开(公告)号：CN113287003B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN201980088744.4
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 佐藤孝
IPC: G01N23/20025 , G01N23/205 , G01N23/207 , G01N1/28
Abstract: 提供一种能够迅速且容易地进行向晶体海绵的试样的吸藏、迅速且准确地进行单晶X射线结构解析的试样保持架组件(400)。所述试样保持架组件包含试样保持架(214)和敷料器(300)。敷料器(300)具备：收纳试样保持架的收纳空间以及开口部(302)；密封部(304)，设置在与收纳于收纳空间的试样保持架的接触面；以及防脱部(305)，与收纳于收纳空间的试样保持架卡合，阻止试样保持架从开口部(302)的脱出。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113287005A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201980088767.5
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 佐藤孝
IPC: G01N23/20025 , G01N23/205 , G01N23/207 , G01N1/28
Abstract: 提供一种迅速进行使用了细孔性络合物结晶(晶体海绵)的单晶X射线结构解析、包括相关信息的管理在内容易的用户友好的单晶X射线结构解析装置和方法、用于其的试样保持架以及敷料器。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；试样保持架(250)，包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶(200)，保持试样；测角仪，安装并转动试样保持架(250)；X射线照射部，对安装于测角仪的试样保持架所保持的试样照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，检测通过试样衍射或者散射的X射线来进行测定；结构解析部，基于由X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行试样的结构解析；以及信息取得部(600)，取得与细孔性络合物结晶相关的信息(220)。
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公开(公告)号：CN113302483B
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN201980088995.2
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 佐藤孝
IPC: G01N23/20025 , G01N1/28
Abstract: 能够将吸藏了试样的细孔性络合物晶体可靠地供给至单晶X射线构造解析装置。使试样吸藏的吸藏装置具备：供给部，将所述试样供给到被试样保持架(310)保持的细孔性络合物晶体；温度调整部，控制所述细孔性络合物晶体的温度；驱动部，驱动所述供给部；以及控制部，控制所述供给部、所述温度调整部和所述驱动部。将所述试样保持架(310)在装配于敷料器(311)的状态下设置于所述吸藏装置，所述供给部对在所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体供给所述试样，所述温度调整部控制在供给所述试样的所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体的温度。
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公开(公告)号：CN113287002B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN201980088735.5
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 佐藤孝
IPC: G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/205 , G01N23/207
Abstract: 能够比较容易且再现性良好且可靠地将保持有吸藏了单晶的细孔性络合物结晶的试样保持架装备于测角仪头。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：测角仪，具备的测角仪头(514)，该测角仪头(514)装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架(310)；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头(514)调整的所述细孔性络合物结晶；在所述测角仪头(514)的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架(310)的位置的定位部。
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公开(公告)号：CN118434866A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202280084842.2
申请日：2022-12-27
Applicant: 株式会社理学
IPC: C12N15/31 , C07K14/195 , C07K14/37 , C07K14/415 , C07K14/435 , C12N15/12 , C12N15/29 , C12P21/02
Abstract: 一种化合物的捕获用结构体，包含参与化合物的细胞内外运输功能的基因组中的至少一个基因或其产物、或者它们的组合。
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公开(公告)号：CN118434865A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202280084840.3
申请日：2022-12-27
Applicant: 株式会社理学
IPC: C12N15/31 , C12N15/12 , C12P21/02 , C07K14/195 , C07K14/37 , C07K14/415 , C07K14/435
Abstract: 一种化合物的捕获用结构体，包含参与所述化合物的细胞内外运输功能的基因组中的至少一个基因或其产物、或者它们的组合，所述基因或其产物是被多组件化的。
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