公开(公告)号：CN101300659B

公开(公告)日：2010-05-26

申请号：CN200680040945.X

申请日：2006-03-08

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 桥本雄一郎 ,  长谷川英树 ,  马场崇 ,  和气泉

IPC: H01J49/42 ,  G01N27/62

CPC classification number: H01J49/427 ,  H01J49/067 ,  H01J49/4225

Abstract: 本发明提供一种质量分析计以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。

公开(公告)号：CN1758057A

公开(公告)日：2006-04-12

申请号：CN200510051340.8

申请日：2005-03-04

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 桥本雄一郎 ,  长谷川英树 ,  和气泉

IPC: G01N27/62 ,  G01N30/88 ,  G01N30/72 ,  H01J49/40

CPC classification number: G01N27/622

Abstract: 本发明提供一种离子迁移率分析装置，其包括：生成第1离子的离子源1；根据飞行漂移时间分离所述第1离子的第1漂移部(L1)；对由第1漂移部分离出的所述第1离子进行离解，来生成第2离子的离子离解部(Lg)；以及根据飞行漂移时间分离所述第2离子的第2漂移部(L2)；第1漂移部、离子离解部、第2漂移部，被设置在压力为10mTorr以上的腔室内；通过所述结构，能够以低成本进行高分辨率的离子分离检测。