公开(公告)号：CN112666244A

公开(公告)日：2021-04-16

申请号：CN202011109920.9

申请日：2020-10-16

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 高桥秀典 ,  山口真一

IPC: G01N27/62 ,  G01N30/72

Abstract: 一种解析装置、质谱分析装置、解析方法以及记录介质。利用自由基的特性进行更详细的分子结构的估计。通过质谱分析得到的数据的解析装置具备：数据获取部，其获取通过包括将源自试样的前体离子供于利用了自由基的反应的第一质谱分析得到的质谱分析数据；第一数据生成部，其基于试样信息来生成表示试样中含有的分子或前体离子的作为候选的多个结构的第一数据；第二数据生成部，其基于第一数据来生成表示在将具有多个结构中的各个结构的前体离子供于反应的情况下生成的产物离子的质荷比或检测强度的第二数据；以及信息生成部，其基于质谱分析数据中的被检测出的产物离子的质荷比或检测强度以及第二数据，来生成与试样中含有的分子的识别有关的信息。

公开(公告)号：CN106935477B

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201610835168.3

申请日：2014-01-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: H01J49/00

Abstract: 本发明从由来源于多种化合物的产物离子混存的MS/MS谱中获取与该化合物分别对应的MS/MS谱，并鉴定这些化合物。根据实测质谱上的前体离子的m/z值来推断各自的组成式(S11)，根据实测MS/MS谱上的产物离子的m/z值来推断各自的组成式(S12)。针对每个产物离子波峰，验证其组成式与多种前体离子的组成式的一致性，由此确定波峰的归属(S13‑S14)，根据该归属结果将MS/MS谱数据加以分离并制作每种前体离子的MS/MS谱(S15‑S16)。

公开(公告)号：CN104781659B

公开(公告)日：2017-12-08

申请号：CN201280076889.0

申请日：2012-11-09

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

CPC classification number: H01J49/26 ,  H01J49/0009 ,  H01J49/004 ,  H01J49/025

Abstract: 在对同一被检试料重复进行多次设定了m/z是已知的（m/z＝M）母离子的MS/MS分析时，在其中一部分实施难以发生CID的解离条件下的MS/MS分析（S4‑S10）。如果通过积算如此获得的质谱数据而制作MS/MS质谱图（S11），则一定能观测到m/z＝M且为已知的母离子。因此，在MS/MS质谱图上检测出相当于该离子的峰，求出该m/z的实测值与m/z的理论值M之间的质量偏差（S12），制作基于质量偏差而校正了其他峰的质量偏移的质谱图（S13）。由此，在MS/MS质谱图中也能够进行实质上是根据内部标准法的质量校正，能够比以往提升质量精度。

公开(公告)号：CN107003284A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201480083975.3

申请日：2014-12-08

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

CPC classification number: H01J49/0036 ,  G01N27/62 ,  G06K9/6209 ,  G06K9/6221 ,  G06K9/6232 ,  G06K9/6265 ,  G06K2009/487 ,  H01J49/26

Abstract: 本发明利用MS/MS部(2)对经全二维LC部(1)加以成分分离后的试样反复进行MS2分析而获得MS2谱。波峰信息提取部(32)采集针对二维色谱图上的各微小区域而获得的MS2谱的波峰信息，主成分分析处理部(34)对采集到的波峰信息实施主成分分析而求反映出整体的MS2谱的波峰图案的倾向的主成分得分。因子载荷算出部(35)根据主成分得分来计算每一m/z的因子载荷，相关信息算出部(36)计算各MS2谱与因子载荷的相关系数。由于MS2谱反映出含有成分的化学结构，因此基于相关系数的二维图像展现出与试样中特征性地含有的成分的化学结构类似的成分的分布。

公开(公告)号：CN105659082B

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201380080380.8

申请日：2013-10-21

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N30/86 ,  G01N27/62 ,  G01N30/72

CPC classification number: G01N30/88 ,  G01N30/463 ,  G01N30/72 ,  G01N30/7233 ,  G01N30/8679 ,  G01N2030/8648 ,  G01N2030/8804

Abstract: 本发明中，2维色谱制作部(32)根据通过全2维GC/MS分析而采集到的数据来制作2维色谱。提取条件符合判定部(35)判定分析的过程中所获得的MS/MS谱图是否符合预先存储在存储部(34)中的例如MS/MS谱图上的特定的波峰等化合物提取条件，并提取符合的谱图。认为该谱图反映出分析人员所关注的化合物的部分结构。因此，条件符合信息重叠显示部(36)在2维色谱上针对每一化合物提取条件而将不同标记重叠显示于所提取的谱图的滞留时间的位置。由此，分析人员可在2维色谱上直观地掌握所关注的化合物的有无或出现位置。

公开(公告)号：CN103620401B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201180071984.7

申请日：2011-06-29

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N30/86 ,  G01N27/62 ,  G01N30/72

CPC classification number: H01J49/0027 ,  G01N30/72 ,  G01N30/8644 ,  G01N30/8655 ,  G01N33/0004 ,  G06F19/24 ,  G06F19/703

Abstract: 将用LC/MS、GC/MS等收集到的针对多个样本的数据以无信息缺失且负荷轻的方式转换为二维表的形式，使得能够进行准确的比较分析。如果获取多个样本的LC/MS测量数据并分别制作出提取离子色谱图(XIC)(S1、S2)，则进行时间轴调整以校正保持时间偏差(S3)，之后，通过时间轴调整来进行校正在数据开头部、末尾部产生的数据缺失的处理(S5)。具体地说，针对存在数据缺失的保持时间范围删除全部样本的数据，使数据开头和末尾一致。之后，针对每个XIC制作排列信号强度值而得到的一维表，然后将一个样本的多个XIC的一维表按m/z的顺序相连接来制作长的一维表(S6)，通过将多个样本的一维表在其它维度方向上进行排列来制作二维表(S7)。

公开(公告)号：CN104136919B

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201280070557.1

申请日：2012-02-23

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N30/86 ,  G01N30/46

CPC classification number: G01N30/7233 ,  B01D15/1878 ,  B01D15/424 ,  G01N30/463 ,  G01N30/8651 ,  G01N30/8655

Abstract: 一种二维LC装置，在将截留期间(T)内被捕获到捕获柱(16)中的成分导入到第二维柱(17)进行成分分离之后，利用质谱仪(2)进行检测，在该二维LC装置中，数据收集部(61)接收表示截留期间(T)的分隔的定时的信号并判断截留期间(T)的开头数据，在对开头数据附加测量起点识别信息之后使数据存储部(7)存储所有数据。二维色谱制作部(62)根据读出的数据来识别每个截留期间(T)的开头数据，以使该开头数据位于沿着横轴的开头的方式排列各数据，从而制作二维色谱。由此，即使在截留期间(T)内获得的数据数不固定，也能够制作并显示始终准确地反映二维的分离状况的二维色谱。

公开(公告)号：CN104781659A

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201280076889.0

申请日：2012-11-09

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

CPC classification number: H01J49/26 ,  H01J49/0009 ,  H01J49/004 ,  H01J49/025

Abstract: 在对同一被检试料重复进行多次设定了m/z是已知的（m/z＝M）母离子的MS/MS分析时，在其中一部分实施难以发生CID的解离条件下的MS/MS分析（S3-S9）。如果通过积算如此获得的质谱数据而制作MS/MS质谱图（S10），则一定能观测到m/z＝M且为已知的母离子。因此，在MS/MS质谱图上检测出相当于该离子的峰，求出该m/z的实测值与m/z的理论值M之间的质量偏差（S11），制作基于质量偏差而校正了其他峰的质量偏移的质谱图（S12）。由此，在MS/MS质谱图中也能够进行实质上是根据内部标准法的质量校正，能够比以往提升质量精度。

公开(公告)号：CN119213307A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202280096250.2

申请日：2022-07-21

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/623

Abstract: 本发明所涉及的成像解析装置的一方案具备：测量部，通过对试样中的规定的测量区域内的多个微小区域分别进行离子迁移率质量分析来获取分析结果数据；相关性调查部(22、23)，基于由测量部获取到的分析结果数据来调查该数据中的m/z与离子迁移率的相关性；以及数据削减部(24、25)，基于由相关性调查部得到的相关性结果，根据m/z限定离子迁移率范围或根据离子迁移率限定m/z范围，由此削减分析结果数据的量。

公开(公告)号：CN112136041B

公开(公告)日：2023-06-16

申请号：CN201880093329.3

申请日：2018-05-30

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62 ,  G01N27/623

Abstract: 图像制作部(33)制作与相同的试样上的测定区域有关的每m/z的MS成像图像和光学图像，图像位置对准处理部(34)使分辨率一致并且进行图像位置对准。回归分析执行部(35)将基于MS成像数据的矩阵设为解释变量，将基于光学图像制作的以每个像素的亮度值为元素的矩阵设为被解释变量，执行PLS，来制作回归模型。图像制作部(33)将解释变量、即MS成像数据的各像素中的每个质荷比值的信号强度值应用于回归模型，来制作预测图像。显示处理部(39)将参照图像和预测图像显示在显示部(5)的画面上。由此，作业者能够确认MS成像图像与光学图像的分布的类似性的程度。其结果，能够评价所制作出的回归模型的准确性。