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公开(公告)号:CN1549266A
公开(公告)日:2004-11-24
申请号:CN200310124906.6
申请日:2003-12-17
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10296 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/218
Abstract: 为了评价记录在光盘媒体上的信号品质,从规定的数据串和规定的部分响应特性求出目标信号,在每个时钟周期计算出作为该目标信号与各时钟周期的再生信号的差异的均衡误差。进一步,求出计算出的不同时刻的均衡误差的积,基于该均衡误差的积来评价信号品质。
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公开(公告)号:CN101430899A
公开(公告)日:2009-05-13
申请号:CN200810173344.7
申请日:2003-04-17
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
CPC classification number: G11B7/00718 , G11B7/00454 , G11B7/0051 , G11B7/24079 , G11B7/24085 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316
Abstract: 本发明涉及光学信息记录再现的方法及媒体,在具有用于信息的记录和再现而照射波长390~440nm激光的点状的光的跟踪用引导沟的衬底(1)上设置记录层(2)和光透过层(3),从光透过层(3)一侧对记录层(2)照射点光,对与相邻的引导沟间的平坦部(L)对应的记录层的第一部分(L’)以及与引导沟内部(G)对应的记录层的第二部分(G’)双方进行记录。记录层在进行记录后反射率下降,并且记录后的反射光的相位φa和记录前的反射光的相位φc的差Δφ=φa-φc,满足0°<Δφ≤15°的关系。
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公开(公告)号:CN1542790A
公开(公告)日:2004-11-03
申请号:CN200410005877.6
申请日:2004-02-20
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/257 , G11B7/258 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , Y10S430/146
Abstract: 光学信息记录介质,其包括第一透明衬底,激光束穿过该衬底而进入,还包括沉积在该第一透明衬底上的第一信息记录层、在第一信息记录层上形成的第一反射膜、沉积在第一反射膜上的中间层、在该中间层上形成的第二信息记录层、沉积在第二信息记录层上的第二反射膜,以及配置在第二反射膜上的第二衬底。第一和第二信息记录层中的每个信息记录层的记录膜的主要成分由(GeTe)xSb2-yInyTe3表示,并且其成分比例在0.04≤y<2和4≤x≤8的范围之内。
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公开(公告)号:CN1238847C
公开(公告)日:2006-01-25
申请号:CN200410033384.3
申请日:2004-04-07
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
CPC classification number: G11B7/00718 , G11B7/24038 , G11B7/24079
Abstract: 一种光记录介质,包括由透明中间件紧固的透明下盘和上盘。在下盘的一侧,形成宽度为WG0的凹槽轨道和宽度为WL0的槽脊轨道。在所有下盘轨道上涂覆激光束从下射入到其上的记录膜和用以部分反射激光束的、位于记录膜上的反射膜。上盘由宽度为WL1的槽脊轨道和宽度为WG1的凹槽轨道构成,用于通过下盘相应的凹槽和槽脊轨道接收光。在所有上盘轨道也涂覆了层压记录膜和反射膜。上盘的比率WG1/WL1大于一且大于下盘的比率WG0/WL0,从而两个盘的载波噪声比实质上彼此相等。
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公开(公告)号:CN100440340C
公开(公告)日:2008-12-03
申请号:CN200410097353.4
申请日:2004-11-29
Applicant: 日本电气株式会社
CPC classification number: G11B7/0956 , G11B7/005 , G11B20/10009
Abstract: 在从数据记录介质获得具有良好质量的再现信号的方法中,根据从所述数据记录介质获得的检测信号,产生两个实际信号,作为第一和第二信号I1和I2。根据所述第一和第二信号I1和I2,计算与倾斜线性相关的系数k。通过使用所述系数k和所述第一和第二信号I1和I2,再现其中消除了所述倾斜的影响的再现信号。
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公开(公告)号:CN1892842A
公开(公告)日:2007-01-10
申请号:CN200610100057.4
申请日:2006-06-27
Applicant: 日本电气株式会社
CPC classification number: G11B7/26 , G11B7/24038
Abstract: 在一种通过照射激光束在其上执行信息的记录操作或再现操作的光学信息记录介质中,具有通过间隔层提供的两个记录层。对于沿圆周方向的每一个单位长度,间隔层的膜厚度变化Δd的绝对值等于或小于预定值,其中,根据激光束的波长、在波长λ中间隔层的折射系数、以及激光束的直线速率与在每一个所述记录层中记录的凹坑序列的最短凹坑长度的之一来确定所述预定值。
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公开(公告)号:CN1707635A
公开(公告)日:2005-12-14
申请号:CN200510070234.4
申请日:2003-04-08
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00718
Abstract: 在具有为了进行信息的记录、再生而以点状照射的光的跟踪用的引导沟的基板(1)上设置有记录层(2)以及光穿透层(3),从光穿透层(3)侧对记录层(2)照射点状光,在对应于引导沟内部(G)的记录层的第一部分(G′)以及对应于相互邻接的引导沟间平坦部(L)的记录层的第二部分(L′)的两方上进行记录。当将光的波长作为λ,并将波长λ下的光穿透层(3)的折射率作为nf时,第一部分(G′)相对于记录层(2)的光穿透层侧的面的第二部分(L′)的深度d满足λ/5.8nf≤d≤λ/5nf的关系。记录层(2)在记录后,比记录前其反射率加大。
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公开(公告)号:CN101568960A
公开(公告)日:2009-10-28
申请号:CN200780044658.0
申请日:2007-12-05
Applicant: 日本电气株式会社
CPC classification number: G11B19/125 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B2007/0006
Abstract: 本发明是提供一种光盘装置,其具有光头部、驱动单元、和记录面状态判别单元,并根据信息记录面的状态来判定光盘的种类。信息记录面包括:记录管理信息并具有由引导槽或预制坑列所形成的轨道的管理区域;和记录用户数据并具有由引导槽或预制坑列所形成的轨道的数据记录区域。光头部,向旋转的光盘的信息记录面照射聚光束。驱动单元驱动光头部,在光盘的径向方向上移动聚光束。记录面状态判别单元,根据聚光束的反射光来判别信息记录面的状态。光盘装置,根据横跨该管理区域和数据记录区域而设定的判定区域内的信息记录面的状态,来判定光盘的种类。
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公开(公告)号:CN100403423C
公开(公告)日:2008-07-16
申请号:CN03807950.X
申请日:2003-04-08
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00718
Abstract: 在具有为了进行信息的记录、再生而以点状照射的光的跟踪用的引导沟的基板(1)上设置有记录层(2)以及光穿透层(3),从光穿透层(3)侧对记录层(2)照射点状光,在对应于引导沟内部(G)的记录层的第一部分(G’)以及对应于相互邻接的引导沟间平坦部(L)的记录层的第二部分(L’)的两方上进行记录。当将光的波长作为λ,并将波长λ下的光穿透层(3)的折射率作为nf时,第一部分(G’)相对于记录层(2)的光穿透层侧的面的第二部分(L’)的深度d满足λ/5.8nf≤d≤λ/5nf的关系。记录层(2)在记录后,比记录前其反射率加大。
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公开(公告)号:CN1316486C
公开(公告)日:2007-05-16
申请号:CN200410005877.6
申请日:2004-02-20
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/257 , G11B7/258 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , Y10S430/146
Abstract: 光学信息记录介质,其包括第一透明衬底,激光束穿过该衬底而进入,还包括沉积在该第一透明衬底上的第一信息记录层、在第一信息记录层上形成的第一反射膜、沉积在第一反射膜上的中间层、在该中间层上形成的第二信息记录层、沉积在第二信息记录层上的第二反射膜,以及配置在第二反射膜上的第二衬底。第一和第二信息记录层中的每个信息记录层的记录膜的主要成份由(GeTe)xSb2-yInyTe3表示,并且其成份比例在0.04≤y<2和4≤x≤8的范围之内。
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