亮度计校准装置
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106525228B

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201611186076.3

    申请日:2016-12-19

    Abstract: 本发明涉及一种亮度计校准装置,包括刻度盘、支撑刻度盘的支撑架和两个水平仪连接件,刻度盘包括本体,本体上设有至少两条夹角为45°的刻度线,两个水平仪连接件设置于支撑架,且可相对支撑架移动,以调节两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线。通过上述亮度计校准装置,可将两个水平仪分别连接于两个水平仪连接件,并通过调节水平仪连接件的在支撑架的位置,可使两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线,然后将两个水平仪发出的光分别对准标准灯和待检测亮度计,即可准确地控制标准灯于被检测亮度计成45°角,同时通过水平仪的水平线功能,使标准灯和待检测亮度计保持在同一水平,这样可保证亮度计校准精度较高。

    电导率仪检验装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105403850A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201510957846.9

    申请日:2015-12-17

    CPC classification number: G01R35/007

    Abstract: 本发明公开了一种电导率仪检验装置,包括标准电导率仪和测量箱体,所述测量箱体内设有容纳检验液的第一腔体和围绕所述第一腔体外周设置的第二腔体,所述第一腔体和所述第二腔体设有共用壁,所述第二腔体内容置有恒温介质,所述标准电导率仪设有第一探头,待检验电导率仪设有第二探头,所述第一探头和所述第二探头均伸入所述检验液。本发明能够实现电导率仪不同测量范围的检验,增加了检验的准确性,保证电导率仪的测量精度。

    光学暗室光学性能检测方法与系统

    公开(公告)号:CN106596067B

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201611180051.2

    申请日:2016-12-19

    Abstract: 本发明提供一种光学暗室光学性能检测方法与系统,识别空间几何中光学暗室的墙面,将每个所述墙面划设为单个检测区域,对各所述检测区域分别设置检测点,对各所述检测点进行反射率测试,获取各所述检测点反射率检测结果,构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果。整个过程中,采用合理的方式针对光学暗室几何墙面设置检测区域,并且在每个检测区域中设置一定数量的检测点,最终采用评价模型来表征光学暗室光学性能检测结果。

    亮度计校准装置
    19.
    实用新型

    公开(公告)号:CN206311204U

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201621399416.6

    申请日:2016-12-19

    Abstract: 本实用新型涉及一种亮度计校准装置,包括刻度盘、支撑刻度盘的支撑架和两个水平仪连接件,刻度盘包括本体,本体上设有至少两条夹角为45°的刻度线,两个水平仪连接件设置于支撑架,且可相对支撑架移动,以调节两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线。通过上述亮度计校准装置,可将两个水平仪分别连接于两个水平仪连接件,并通过调节水平仪连接件的在支撑架的位置,可使两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线,然后将两个水平仪发出的光分别对准标准灯和待检测亮度计,即可准确地控制标准灯于被检测亮度计成45°角,同时通过水平仪的水平线功能,使标准灯和待检测亮度计保持在同一水平,这样可保证亮度计校准精度较高。

    电导率仪检验装置
    20.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205246855U

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:CN201521065581.3

    申请日:2015-12-17

    Abstract: 本实用新型公开了一种电导率仪检验装置,包括标准电导率仪和测量箱体,所述测量箱体内设有容纳检验液的第一腔体和围绕所述第一腔体外周设置的第二腔体,所述第一腔体和所述第二腔体设有共用壁,所述第二腔体内容置有恒温介质,所述标准电导率仪设有第一探头,待检验电导率仪设有第二探头,所述第一探头和所述第二探头均伸入所述检验液。本实用新型能够实现电导率仪不同测量范围的检验,增加了检验的准确性,保证电导率仪的测量精度。

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