测试设备
    11.
    发明公开
    测试设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN119224443A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793482.X

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备。测试设备包括:测试腔体,所述测试腔体内设有测试腔,所述测试腔用于容置被测件;电气腔体,所述电气腔体内设有电气腔,所述电气腔与所述测试腔间隔,所述电气腔体为电磁屏蔽腔体;射频模块,所述射频模块用于输出射频信号,所述射频模块位于所述电气腔内;天线,所述天线电连接所述射频模块,所述天线用于将所述射频信号馈入至所述测试腔内及用于将所述被测件辐射的电磁波传导至所述射频模块。上述测试设备中,电气腔体为电磁屏蔽腔体,射频模块位于电气腔内,电气腔体可以防止射频模块工作时所产生的电磁干扰向电气腔体外辐射,减少测试过程中的电磁干扰,提升测试结果准确性。

    测试设备
    12.
    发明公开
    测试设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN117517812A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210903975.X

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备。测试设备包括:测试腔体,用于放置待测设备;控制面板,连接所述测试腔体;天线,用于接收所述待测设备辐射的电磁波信号,和用于辐射电磁波信号至所述待测设备;射频模块,所述射频模块集成有第一辐射单元、第一传导单元、第二辐射单元和第二传导单元,其中,所述第一辐射单元和所述第二辐射单元的传导端口连接所述天线,所述第一传导单元和所述第二传导单元的传导端口设置于所述控制面板。上述测试设备中,通过将第一辐射单元、第一传导单元、第二辐射单元和第二传导单元集成于射频模块,一个测试设备支持EMC测试中的四项测试,降低测试设备成本,提高测试效率。

    烹饪器具
    14.
    发明公开
    烹饪器具 审中-实审

    公开(公告)号:CN119922777A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202311426802.4

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明提供了一种烹饪器具,其中,烹饪器具包括:底座;微波组件,设于底座,微波组件用于生成微波;置物板,用于放置食材,微波组件位于置物板朝向底座的一侧;表面波发生组件,安装于底座,置物板安装于表面波发生组件背离底座的一侧,表面波发生组件位于微波组件朝向置物板的一侧,表面波发生组件具有多个翅片,翅片用于将微波组件所生成的微波向置物板辐射;电磁组件,表面波发生组件还具有电磁组件安装槽,电磁组件安装槽避让翅片,电磁组件位于电磁组件安装槽内。

    测试方法和测试系统
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119232290A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793528.8

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试方法和测试系统。对待测设备进行抗电磁干扰特性测试,测试方法包括确定待测设备的测试范围,控制测试装置和待测设备上电;根据测试范围设置射频参数,并根据射频参数控制测试装置的射频组件产生射频信号,对测试腔内的待测设备进行干扰;采集待测设备的工作状态,在待测设备的工作状态为异常状态的情况下,记录射频信号的当前射频参数,之后调整射频参数直至完成测试范围的测试;在完成测试范围的测试的情况下,输出测试报告。上述测试方法,可以在测试范围内对待测设备进行抗电磁干扰特性的测试,并输出异常状态对应的测试报告,有利于后续改善待测设备的抗电磁干扰特性,提高待测设备在电磁干扰环境下工作的可靠性。

    自动检测系统和自动检测方法
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119232287A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793553.6

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开一种自动检测系统和自动检测方法。所述自动检测系统包括:测试腔体,所述测试腔体内设有测试腔,所述测试腔用于放置所述待测设备;天线组件,所述天线组件安装在所述测试腔体;射频模块,所述射频模块电连接所述天线组件,所述射频模块用于输出射频信号,所述射频信号经所述天线组件馈入至所述测试腔内;检测模块,所述检测模块用于采集所述待测设备的信息,并在根据所述待测设备的信息确定所述待测设备异常的情况下,保存所述待测设备的异常信息。上述自动检测系统可以在电磁干扰环境下自动检测待测设备的电磁抗干扰能力,并保存待测设备的异常信息,有利于后续对待测设备的问题改进。

    测试设备
    20.
    发明公开
    测试设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN119232286A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793501.9

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开一种测试设备。测试设备用于对待测设备的抗电磁干扰能力进行测试,测试设备包括:测试腔体,测试腔体内设有测试腔,测试腔用于容置待测设备;天线组件;射频模块,射频模块电连接天线组件,射频模块用于输出射频信号,天线组件用于将射频信号馈入至测试腔内;旋转组件,旋转组件包括位于测试腔内的固定盘,固定盘用于固定待测设备,旋转组件用于驱动固定盘带动待测设备在测试腔内旋转。上述测试设备具有旋转组件,在测试过程中,射频信号可以模拟为电磁辐射,由于电磁辐射具有一定的方向性,可以利用旋转组件驱动固定盘带动待测设备旋转,使得待测设备的不同部位能够受到期望中的电磁辐射干扰,保证了测试结果的准确性。

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