一种光传感器的校验接入方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115361211B

    公开(公告)日:2025-04-22

    申请号:CN202211002886.4

    申请日:2022-08-19

    Abstract: 本发明公开了一种光传感器的校验接入方法、装置、设备及存储介质,包括响应于接收到光传感器的接入请求,获取所述光传感器的校验参数;所述校验参数包括序列号、授权码和传感器信息协议;对所述校验参数进行合法校验,当所述合法校验通过后,向所述光传感器发送合法接入指令,以使所述光传感器接入。本发明能够提高光缆监测系统对众多的光传感设备的接入效率以及认证的准确性,无需对非法设备进行进一步的读取等操作,并在合法校验通过后,向光传感器发送相应的合法接入指令,确保了接入的光传感器的合规性,从而提高光传感器的检测准确度,且统一规范合法的光传感器有利于用户对其进行规范化管理。

    一种测试仪精度自校准方法及测试仪

    公开(公告)号:CN119471531A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411664352.7

    申请日:2024-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种测试仪精度自校准方法及测试仪,所述方法通过获取温度传感器读取的即时温度值来确定高精度参考源装置在即时温度值下的温漂系数,并基于温漂系数、第一理论工作值以及在自检通路连通时获取到的第一ADC转换值来判断高精度参考源装置是否处于正常工作状态,继而在确定高精度参考源装置处于正常工作状态时,连通第一采样回路,读取第一采样回路中多通道高速ADC电路输出的第二ADC转换值,并根据在自检通路连通时所获取到的第一ADC转换值,对测试仪中的多通道高速ADC电路进行校准,并根据校准后的多通道高速ADC电路对测试仪中的多通道DAC电路进行校准,从而完成测试仪的精度自校准。

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