公开(公告)号：CN104568864B

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：CN201410529175.1

申请日：2014-10-10

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 田川礼人 ,  桐村浩哉

IPC: G01N21/64

Abstract: 一种被检物质检测方法，检测在生物体试样中包含的被检物质，其特征在于，向包含荧光物质和被检物质的复合体，照射190nm以上350nm以下的第1峰值波长的光，该荧光物质如果被照射第1峰值波长的光则发出450nm以上900nm以下的第2峰值波长的光；通过光检测器(6)，检测从被照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光，光检测器(6)的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。

公开(公告)号：CN109283327A

公开(公告)日：2019-01-29

申请号：CN201810786963.7

申请日：2018-07-18

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 赤间健司 ,  桐村浩哉

IPC: G01N33/533 ,  G01N33/535 ,  G01N33/543 ,  G01N33/558

Abstract: 本发明提供更简便地并且在进一步降低非特异性信号的状态下检测受试物质的方法。本发明使受试物质，有对所述受试物质的结合性并且固定在基板上的捕获体1、和有对所述受试物质的结合性并且含标记的捕获体2在液中接触，将所述捕获体2配置在基板上之后，重复从含所述捕获体2的物质的基板上的解离和向基板上的接触，在特定的工序和特定的工序中，对基板上的标记来源信号配置图案进行比较，将基本上同位置的信号检测为显示受试物质的信号。

公开(公告)号：CN104568864A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201410529175.1

申请日：2014-10-10

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 田川礼人 ,  桐村浩哉

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6486 ,  G01N21/645 ,  G01N21/6454 ,  G01N33/5308 ,  G01N2458/00

Abstract: 一种被检物质检测方法，检测在生物体试样中包含的被检物质，其特征在于，向包含荧光物质和被检物质的复合体，照射190nm以上350nm以下的第1峰值波长的光，该荧光物质如果被照射第1峰值波长的光则发出450nm以上900nm以下的第2峰值波长的光；通过光检测器(6)，检测从被照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光，光检测器(6)的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。

公开(公告)号：CN101726527B

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN200910175886.2

申请日：2009-09-23

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 岩永茂树 ,  桐村浩哉

IPC: G01N27/416

CPC classification number: G01N33/54366 ,  G01N27/305 ,  G01N27/3277 ,  G01N33/54306

Abstract: 本发明提供一种可以提高被检物质的检测灵敏度的被检物质的检测方法。被检物质的检测方法包括：对检查芯片应用包含上述被检物质的试样，通过探针捕捉上述被检物质的工序；对极，由导电性材料构成；以及还原电极，用于还原电解质；在使包含电解质的电解质介质向上述作用电极、上述对极以及上述还原电极接触的状态下，对修饰由上述探针捕捉的上述被检物质的修饰物质照射使该修饰物质激励的光的工序；以及通过上述还原电极使包含在上述电解质介质中的电解质还原，对由于电子从通过上述光被激励的修饰物质向上述作用电极移动而在上述作用电极与上述对极之间流过的电流进行测定的工序。

公开(公告)号：CN102539506A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN201110386111.7

申请日：2011-11-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 铃木誓吾 ,  清家圣嘉 ,  岩永茂树 ,  堀信康 ,  桐村浩哉

IPC: G01N27/416

CPC classification number: G01N33/5438

Abstract: 本发明为了提供一种能够比以往更灵敏地检测待测物的电化学检测方法，用固定在工作电极161上的捕捉物10捕捉待测物S。在工作电极161上形成包含标记结合物20和待测物S的复合物，其中该标记结合物20在溶解性载体21上有与待测物S结合的结合物22、以及含有标记物24的修饰标记物23。然后溶解溶解性载体21，将修饰标记物23诱导至工作电极161上。

公开(公告)号：CN101726527A

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200910175886.2

申请日：2009-09-23

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 岩永茂树 ,  桐村浩哉

IPC: G01N27/416

CPC classification number: G01N33/54366 ,  G01N27/305 ,  G01N27/3277 ,  G01N33/54306

Abstract: 本发明提供一种可以提高被检物质的检测灵敏度的被检物质的检测方法、检测装置以及检查芯片。被检物质的检测方法包括：对检查芯片应用包含上述被检物质的试样，通过探针捕捉上述被检物质的工序；对极，由导电性材料构成；以及还原电极，用于还原电解质；在使包含电解质的电解质介质向上述作用电极、上述对极以及上述还原电极接触的状态下，对修饰由上述探针捕捉的上述被检物质的修饰物质照射使该修饰物质激励的光的工序；以及通过上述还原电极使包含在上述电解质介质中的电解质还原，对由于电子从通过上述光被激励的修饰物质向上述作用电极移动而在上述作用电极与上述对极之间流过的电流进行测定的工序。