多个量子比特可观察量的划分方法、多个量子比特可观察量的划分程序和信息处理装置

    公开(公告)号:CN117529735A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202180099494.1

    申请日:2021-06-21

    Inventor: 栗田知周

    Abstract: 减少汇集了可同时测定的可观察量的分区的数量。信息处理装置(10)针对表示多个量子比特的状态的多个可观察量中的每2个可观察量的对,判定是否能够进行期待值的同时测定。接着,信息处理装置(10)生成伊辛模型(3),该伊辛模型(3)包含表示是否将多个可观察量分别包含于作为多个可观察量的部分集合的第1分区(4)的变量。在伊辛模型(3)中,当无法同时测定的可观察量的对包含于第1分区(4)时,哈密顿量的值变大,包含于第1分区(4)的可观察量数越多,则哈密顿量的值越小。然后,信息处理装置(10)基于通过伊辛模型(3)的基态搜索而得到的多个可观察量各自所对应的变量的值来生成第1分区(4)。

    晶体材料分析装置和方法及计算机可读记录介质

    公开(公告)号:CN113223636A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110136866.5

    申请日:2021-02-01

    Abstract: 公开了晶体材料分析装置和方法及计算机可读记录介质。晶体材料分析装置包括:图创建单元,用于创建环路图,该环路图具有:晶胞内节点,其指示晶体材料的一个晶胞中的原子;晶胞内边,其指示晶胞中的原子之间的化学键;以及环路边,指示晶胞中的原子X与晶胞中的下述原子Y之间的虚拟的化学键:该晶胞中的原子Y对应于与该晶胞相邻的相邻晶胞中的原子Y',其中,原子Y'与原子X具有化学键;以及分析单元,通过使用图来分析晶体材料。

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