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公开(公告)号:CN102859467A
公开(公告)日:2013-01-02
申请号:CN201080066526.X
申请日:2010-04-30
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: H02J9/062 , G06F1/263 , Y10T307/62 , Y10T307/625
Abstract: 在不间断电源装置和其使用方法及服务器系统中,实现不间断电源装置的高性能化。本发明采用不间断电源装置(11),该不间断电源装置(11)具有:蓄电池(53),其具有第一电极(53a)和第二电极(53b);输出电缆(35),其向成为备用电力提供对象的外部的电源线(60)输出蓄电池(53)的放电电流(Ie);第一连接部(61),其将第一电极(53a)的电压导出到外部。
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公开(公告)号:CN117529735A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202180099494.1
申请日:2021-06-21
Applicant: 富士通株式会社
Inventor: 栗田知周
IPC: G06N10/00
Abstract: 减少汇集了可同时测定的可观察量的分区的数量。信息处理装置(10)针对表示多个量子比特的状态的多个可观察量中的每2个可观察量的对,判定是否能够进行期待值的同时测定。接着,信息处理装置(10)生成伊辛模型(3),该伊辛模型(3)包含表示是否将多个可观察量分别包含于作为多个可观察量的部分集合的第1分区(4)的变量。在伊辛模型(3)中,当无法同时测定的可观察量的对包含于第1分区(4)时,哈密顿量的值变大,包含于第1分区(4)的可观察量数越多,则哈密顿量的值越小。然后,信息处理装置(10)基于通过伊辛模型(3)的基态搜索而得到的多个可观察量各自所对应的变量的值来生成第1分区(4)。
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公开(公告)号:CN113223636A
公开(公告)日:2021-08-06
申请号:CN202110136866.5
申请日:2021-02-01
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G16C20/40
Abstract: 公开了晶体材料分析装置和方法及计算机可读记录介质。晶体材料分析装置包括:图创建单元,用于创建环路图,该环路图具有:晶胞内节点,其指示晶体材料的一个晶胞中的原子;晶胞内边,其指示晶胞中的原子之间的化学键;以及环路边,指示晶胞中的原子X与晶胞中的下述原子Y之间的虚拟的化学键:该晶胞中的原子Y对应于与该晶胞相邻的相邻晶胞中的原子Y',其中,原子Y'与原子X具有化学键;以及分析单元,通过使用图来分析晶体材料。
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公开(公告)号:CN103026573A
公开(公告)日:2013-04-03
申请号:CN201080068245.8
申请日:2010-07-26
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G06F1/263 , G06F1/30 , G06F9/5094 , H02J1/14 , H02J9/00 , H02J9/061 , Y10T307/344
Abstract: 一种信息处理系统,其具有:多个信息处理装置,其分散任务,并且对所分散的任务进行处理,多个电源装置,其与多个信息处理装置相对应地设置,用于将直流电力供给相应的信息处理装置,多个蓄电装置,其与多个信息处理装置相对应地设置,用于储备来自相应的电源装置的直流电力,该信息处理系统的特征在于,设置有根据多个蓄电装置的充电状态将任务分配给多个信息处理装置的计算部,通过管理多个直流设备的电力消耗,不需要增加电源装置的输出容量就能够确保蓄电装置的充电电力。
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