公开(公告)号：CN110823934A

公开(公告)日：2020-02-21

申请号：CN201911142344.5

申请日：2019-11-20

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 崔喜平 ,  姚尧 ,  王孝君 ,  吕洋 ,  郜闹闹 ,  丁浩 ,  张圆圆 ,  黄陆军 ,  耿林

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/20033 ,  G01N23/20025

Abstract: 本发明提供了一种样品表面微纳米膜层高温相变的原位测量方法，包括步骤一、微纳米膜层样品预处理：将微纳米膜层材料切割成方形样品，保持样品表面清洁无污染；步骤二、微纳米膜层样品安装：将微纳米膜层样品置于自制专用加热样品台上，专用加热样品台由PID加热台加热，PID加热台由蓄电池供电；步骤三、样品表面微纳米膜层的温度校准；步骤四、样品表面微纳米膜层的常温XRD图谱采集；步骤五、样品表面微纳米膜层的高温XRD图谱原位测量。本发明能够实现样品表面微纳米膜层高温相变的原位测试，且能精确获得样品表面微纳米膜层材料的相变规律。