慢中子转换体及慢中子探测器

    公开(公告)号:CN105445779A

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201511018954.6

    申请日:2015-12-29

    CPC classification number: G01T3/008 G01T3/00

    Abstract: 本申请涉及慢中子转换体及慢中子探测器,属于慢中子探测领域。一种慢中子转换体包括基体,所述基体包括沿第一方向延伸的多个孔洞和所述多个孔洞之间的绝缘壁,所述多个孔洞为贯穿孔洞。所述慢中子转换体还包括至少覆盖所述多个孔洞的暴露表面的硼层。根据本申请的慢中子转换体及具有该慢中子转换体的慢中子探测器能够保持较高的慢中子探测效率。另外,可以降低探测器制作的复杂程度与制作的成本,从而实现有效、便捷、低成本的慢中子探测目的。

    热中子探测器及其制造方法

    公开(公告)号:CN102313898A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201010223269.8

    申请日:2010-06-30

    CPC classification number: G01T3/00

    Abstract: 本发明公开一种热中子探测器及其制造方法。热中子探测器包括微通道板,所述微通道板包括多个形成微通道的玻璃管,所述微通道的内壁镀有含有热中子吸收材料的膜层。通过利用成熟的镀膜技术在微通道内壁上镀上含热中子吸收材料的膜层,不需要改变微通道板的玻璃管的玻璃成分就能实现更高的探测效率,良好的空间分辨率,以及更好的热中子/γ抑制比,因此也不会影响微通道板的制备过程,从而可以利用现有商业可得的普通微通道板。

    物品检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN102313752A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201010223292.7

    申请日:2010-06-30

    Abstract: 本发明公开一种物品检测设备,其包括散射探测器阵列,所述散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块,其中,物品被X射线透射的透射截面被分成i行xj列个大小相同的分块区域,并且所述散射探测器阵列的ixj个探测模块与物品的透射截面的ixj个分块区域一一对应,并分别探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子,以便根据探测到的电子对效应湮没光子的计数与康普顿散射光子的计数的比值来形成物品的三维图像。与现有技术相比,本发明在传统的物品透射检测设备的基础上增加探测散射光子的散射探测器阵列,在二维透射成像的过程中能够容易地获得被检测物品的三维图像。另外,还提供一种物品检测方法。

    快中子探测方法、物质识别方法及中子探测器

    公开(公告)号:CN102109607A

    公开(公告)日:2011-06-29

    申请号:CN200910244357.3

    申请日:2009-12-29

    CPC classification number: G01T3/00 G01N23/09

    Abstract: 本发明公开了一种快中子探测方法,用于探测伴有X射线的快中子,该方法包括步骤:使所述快中子通过中子慢化体以吸收所述X射线和将所述快中子慢化为热中子;和用热中子探测器探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息。本发明还公开了一种利用光中子识别物质的方法、一种同时利用X射线和光中子识别物质的方法、以及一种中子探测器。其中,中子探测器包括中子慢化体,其适于吸收通过其中的X射线,并将快中子慢化为热中子;和热中子探测器,其适于探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息。本发明通过设置中子慢化体能够排除X射线对快中子测量的干扰,从而提高了中子测量的准确性。并通过同时获得X射线和中子的两种不同的衰减信息,提高了对检测物体的识别能力。

    基于电子对效应检测材料缺陷的方法及系统

    公开(公告)号:CN102109474A

    公开(公告)日:2011-06-29

    申请号:CN200910244360.5

    申请日:2009-12-29

    Abstract: 本发明公开了基于电子对效应检测材料缺陷的方法及系统。该方法包括以下步骤:提供能与被检测材料发生电子对效应的低能X射线;用所述低能X射线照射所述被检测材料,通过电子对效应在所述被检测材料内产生正电子;利用γ射线探测器测量由于所述正电子的湮没而放出的γ光子能谱;和分析所述γ光子能谱以确定所述被检测材料内是否存在缺陷。该方法利用低能X射线在被检测材料内部发生电子对效应产生的正电子实现对被检测材料内部缺陷的检测,因为正电子是在材料内部较为均匀的产生,所述正电子湮没后放出的511keV γ射线会均匀地带出材料内部的微观结构信息。并且,较低能量X射线在购置、使用成本方面更低,防护要求少、便于现场使用。

    辐射检查系统和辐射检查方法

    公开(公告)号:CN107966460B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN201711429492.6

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置,射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构,第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置,使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换,其中,在第一工作状态,射束调制装置将初始射束调制为扇形束,在第二工作状态,射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。

    慢中子转换体及慢中子探测器

    公开(公告)号:CN105445779B

    公开(公告)日:2019-01-25

    申请号:CN201511018954.6

    申请日:2015-12-29

    Abstract: 本申请涉及慢中子转换体及慢中子探测器,属于慢中子探测领域。一种慢中子转换体包括基体,所述基体包括沿第一方向延伸的多个孔洞和所述多个孔洞之间的绝缘壁,所述多个孔洞为贯穿孔洞。所述慢中子转换体还包括至少覆盖所述多个孔洞的暴露表面的硼层。根据本申请的慢中子转换体及具有该慢中子转换体的慢中子探测器能够保持较高的慢中子探测效率。另外,可以降低探测器制作的复杂程度与制作的成本,从而实现有效、便捷、低成本的慢中子探测目的。

    核素识别方法、核素识别系统及光中子发射器

    公开(公告)号:CN104754852A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201310740973.4

    申请日:2013-12-27

    Abstract: 本发明公开了核素识别方法、核素识别系统及光中子发射器。光中子发射器包括:用于发射电子的脉冲电子加速器;以及用于接收脉冲电子加速器发射的电子,并将该电子转换成光中子的光中子转换靶,所述光中子转换靶的体积大致是100至8000立方厘米、100至2500立方厘米,或大致是785立方厘米。本发明可以提高核素识别的准确度,以及提供实用的、用于核素识别的光中子发射器、方法及系统,尤其是提高了识别诸如233U,235U和239Pu的易裂变核素的准确度,以及提供了实用的、识别诸如233U,235U和239Pu的易裂变核素的光中子发射器、方法和系统。

    阳极丝抗震性能改善的中子探测管和中子探测设备

    公开(公告)号:CN104345332A

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:CN201310340755.1

    申请日:2013-08-07

    Abstract: 本发明涉及阳极丝抗震性能改善的中子探测管和中子探测设备。具体地,提供了中子探测管包括:阴极管,其内限定有轴向延伸的管腔,管腔内壁具有中子敏感材料;在阴极管管腔中轴向延伸的阳极丝;绝缘套,其一部分气密密封地沿轴向插入阴极管的一端,而且其内限定有通向阴极管管腔的第一中央内孔;以及拉伸弹簧,其主体被置于第一中央内孔中,阳极丝的一端固定到拉伸弹簧的轴向内侧端,而拉伸弹簧的轴向外侧端以头部延长丝的形式轴向向外延伸穿过绝缘套,用作阳极引出丝,而且拉伸弹簧被设置成使得阳极丝在阴极管的管腔中始终处于绷紧状态。本发明还提供了一种中子探测设备,其包括至少一只所述中子探测管;以及用于组合所述中子探测管的阵列组合装置。

    物品检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN102313753B

    公开(公告)日:2014-07-16

    申请号:CN201010223342.1

    申请日:2010-06-30

    CPC classification number: G01V5/0025

    Abstract: 本发明公开了一种物品检测设备,包括:X光机;X光机准直装置;透射探测器阵列和多个散射探测器阵列,每个散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块;其中物品的透射截面被分成i行×j列个大小相同的分块区域,每个散射探测器阵列的i×j个探测模块与物品的透射截面的i×j个分块区域一一对应,用于探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子,并且根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值以获得各个分块区域处的原子序数,以识别物品的各个分块区域处的元素,从而形成表示物品的三维元素分布信息的三维图像,X光机产生的X射线的能量大于1.022MeV,i和j均为大于或等于2的正整数。

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