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公开(公告)号：CN203929678U
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201420096153.6
申请日：2014-03-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
Abstract: 公开了一种检查设备和系统。该设备包括：分布式射线源，包括多个源点；光源准直器，设置在分布式射线源的射线出束端，将其产生的射线沿着扇形的径线汇聚，形成倒扇形射线束；散射准直器，配置为仅允许射线与被检查物体的相互作用产生的具有一个或多个特定散射角的散射射线通过；至少一个探测器，设置在散射准直器的下游，每个探测器包括多个探测单元，该多个探测单元具备能量分辨能力并且基本上设置在柱面上，以接收通过散射准直器的散射射线；以及处理装置，基于探测器输出的信号计算被检查物体的散射射线能谱信息。上述设备利用具有能量分辨能力的探测器，在固定角度下测量散射X射线的能量分布，获得物质晶格常数，从而分辨物质的种类。
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