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公开(公告)号:CN208505573U
公开(公告)日:2019-02-15
申请号:CN201820860894.5
申请日:2018-06-05
Applicant: 厦门市计量检定测试院
IPC: G01M11/00
Abstract: 本实用新型涉及LED技术领域,尤其涉及一种LED量值溯源用光参数标准老化监测装置,其装置包括多组的通道测试单元、供电电源和数据处理器;所述供电电源分别为多组的通道测试单元供电,多组的所述通道测试单元分别与数据处理器连接;每组的通道测试单元包括一待测试LED光源和用于采集所述待测试LED光源的光信号的探测器;多组的通道测试单元相互隔离设置且两两待测试LED光源之间相互不受干扰;所述数据处理器包括光信号转换单元、比较单元和存储单元;所述存储单元存储有LED量值溯源用光参数标准老化参数对照表;所述光信号转换单元与探测器连接;所述光信号转换单元和存储单元分别与比较单元连接。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN212559473U
公开(公告)日:2021-02-19
申请号:CN202020882465.5
申请日:2020-05-22
Applicant: 厦门市计量检定测试院
Abstract: 本实用新型涉及一种垂直碳纳米管阵列,包括由下至上依次设置的基体层、缓冲层和催化剂层,所述基体层为硅层,所述缓冲层为Al2O3膜层,所述催化剂层为铁膜层、钴膜层或镍膜层;所述基体层的厚度为725±5μm,所述缓冲层的厚度为16.72±5nm,所述催化剂层的厚度为2.62±5nm。本实用新型的垂直碳纳米管阵列,通过层级以及层级厚度的设计,其缓冲层和催化剂层的薄膜厚度达到了纳米级,使得设计数十微米的VACNTs即可达到理想的超黑高吸收效果。
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公开(公告)号:CN208043242U
公开(公告)日:2018-11-02
申请号:CN201820145646.2
申请日:2018-01-29
Applicant: 厦门市计量检定测试院
IPC: G01J3/02
Abstract: 本实用新型公开了一种光谱辐射计的校准装置,包括光源、积分球、光学暗箱、第一电动滤光片轮、第二电动滤光片轮和控制系统;积分球设有出光孔;光学暗箱设有正对的入射光阑和出射光阑;第一电动滤光片轮和第二电动滤光片轮安装于光学暗箱内并与控制系统电连接;第一电动滤光片轮设有多个第一滤光片,第二电动滤光片轮设有多个第二滤光片;光源安装于积分球内,光源发出的光在积分球内反射后依次经过出光孔、入射光阑、第一滤光片和第二滤光片后从出射光阑出射。采用该校准装置能使得本实用新型出射的光能满足多种光谱辐射计校准时所需,从而避免现有技术中由于需要更换标准光源所带来的不足。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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