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公开(公告)号:CN111442757A
公开(公告)日:2020-07-24
申请号:CN202010105944.0
申请日:2020-02-20
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01C3/00
Abstract: 本发明提供了基于色散透镜与滤光片的视觉测距系统,包括沿光路方向依次设置的成像透镜(1)、成像光路单元(2)、滤光单元(3)、成像单元(4)和图像计算处理单元(5);所述成像透镜(1)为色散透镜;所述成像光路单元(2)包括多片分光片以及反射镜,用于将来自目标景物的入射光分为多个光束并分别进入多个并行光路;所述滤光单元(3)位于每一个并行光路的末端,用于保留每个光路的对应窄带波段光信号;所述成像单元(4)包括多个图像传感器,用于采集各窄带波段光信号;所述图像计算处理单元(5)与成像单元(4)相连,用于对所采多幅图像数据进行计算,通过采用深度恢复算法实现目标景物深度恢复。本发明还提供了基于如上系统的测距方法。
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公开(公告)号:CN108459417B
公开(公告)日:2020-06-26
申请号:CN201810111381.9
申请日:2018-02-05
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G02B30/23 , G02B27/00 , H04N13/207 , H04N13/271 , H04N13/10 , H04N5/225
Abstract: 本发明提供了一种单目窄带多光谱立体视觉系统及其使用方法。该系统包括一个带有轴向色差的光学成像镜头,一个通道数N≥4的窄带多光谱图像传感器,一个对窄带多光谱图像进行处理分析的图像处理单元。本发明提供的单目窄带多光谱立体视觉系统,可以一次曝光获得图像面XY空间位置自然校准而聚焦清晰度不同的多幅窄带光谱图像。使用配套的如散焦模糊度算法可以获得图像任意空间位置XY的深度Z信息,克服双目立体视觉运算量大及激光3D视觉系统价格昂贵等缺点,在先进制造、智能机器人移动、无人驾驶汽车导航与避障等具有广泛应用价值。
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公开(公告)号:CN109754418A
公开(公告)日:2019-05-14
申请号:CN201811641513.5
申请日:2018-12-29
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G06T7/55
Abstract: 本发明属于3D传感器测量技术领域,提供了一种单摄像头立体视觉方法,其包括三个操作步骤:第一步图像获取,利用所述快照式多光谱摄像装置,进行一次曝光零时差采集N幅(N≥2)光谱图像;第二步聚焦清晰度计算:所述图像处理分析装置计算所述N≥2幅光谱图像在每一个像素(X,Y空间位置)聚焦清晰度;第三步深度探测:根据所述聚焦清晰度度,获取每一个像素所对应位置的纵向(即深度)Z信息,完成XYZ立体视觉。该方法克服双目立体视觉运算量大及激光3D视觉系统价格昂贵等缺点,在先进制造、智能机器人移动、无人驾驶汽车导航与避障等具有广泛应用价值。
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公开(公告)号:CN107186364A
公开(公告)日:2017-09-22
申请号:CN201710561322.7
申请日:2017-07-11
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: B23K26/38 , B23K26/06 , B23K26/064
CPC classification number: B23K26/38 , B23K26/06 , B23K26/064 , B23K26/0648 , B23K2103/32
Abstract: 本发明提供了一种无机械运动实现精确激光切割轨迹的方法,空间光调制器放置在激光发射器与待切割标本之间,使得空间光调制器与聚焦透镜组的焦面共轭;激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生至少1个主光斑;主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻微单元上;激光束的其它光斑还覆盖空间光调制器的M个微单元,M≥0;在主光斑覆盖的N个微单元中,只打开其中n个相邻且首尾闭合的微单元使其首尾连接为中空的闭合曲线,n≤N,其它的N‑n+M个微单元为关闭状态;使得从空间光调制器出射的激光束经过聚焦透镜组后投射到待切割标本上时,也呈现中空的闭合曲线,从而在待切割标本上实现闭合切割曲线。
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公开(公告)号:CN105091785A
公开(公告)日:2015-11-25
申请号:CN201510500177.2
申请日:2015-08-14
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种用于砂轮表面形貌的检测方法与系统,系统包括沿光源发出光线的光路上依次设置准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列;待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置,并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动,以及绕着此固定轴做旋转运动。本发明将微透镜阵列作为并行光色散器件,所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描,结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动,在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息,并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。
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公开(公告)号:CN105067634A
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201510500219.2
申请日:2015-08-14
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明公开了一种用于平板表面质量的检测系统,其系统包括沿光源发出光束的光路上依次设置准直透镜、数字微镜器件、分光镜和色散透镜;待测平板对应于色散透镜的出射侧设置,且待测平板在垂直于光轴的方向上做横向往复移动。本发明将数字微镜器件作为线型光源,结合色散透镜产生线型色散光,可对平板表面进行横向线扫描,在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下利用垂直于光轴方向上的一维运动获取被测平板表面的三维信息,以及其表面的瑕疵、划痕等质量信息,极大地提高了针对平板表面质量问题的检测效率。
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公开(公告)号:CN204945056U
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:CN201520613937.6
申请日:2015-08-14
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于平板表面质量的检测系统,其包括沿光源发出光束的光路上依次设置准直透镜、数字微镜器件、分光镜和色散透镜;待测平板对应于色散透镜的出射侧设置,且待测平板在垂直于光轴的方向上做横向往复移动。本实用新型将数字微镜器件作为线型光源,结合色散透镜产生线型色散光,可对平板表面进行横向线扫描,在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下利用垂直于光轴方向上的一维运动获取被测平板表面的三维信息,以及其表面的瑕疵、划痕等质量信息,极大地提高了针对平板表面质量问题的检测效率。
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公开(公告)号:CN204944455U
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:CN201520613878.2
申请日:2015-08-14
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本实用新型公开了一种用于砂轮表面形貌的检测系统,其包括沿光源发出光束的光路上依次设置的准直透镜、数字微镜器件、分光镜和色散透镜;待测砂轮对应于色散透镜的出射侧设置,并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动,以及绕着此固定轴做旋转运动。本实用新型将数字微镜器件作为线型光源,结合色散透镜产生线型色散光,可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描,结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动,在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息,并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。
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公开(公告)号:CN211855280U
公开(公告)日:2020-11-03
申请号:CN202020187845.7
申请日:2020-02-20
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01C3/00
Abstract: 本实用新型提供了基于色散透镜与滤光片的视觉测距系统,包括沿光路方向依次设置的成像透镜(1)、成像光路单元(2)、滤光单元(3)、成像单元(4)和图像计算处理单元(5);所述成像透镜(1)为色散透镜;所述成像光路单元(2)包括多片分光片以及反射镜,用于将来自目标景物的入射光分为多个光束并分别进入多个并行光路;所述滤光单元(3)位于每一个并行光路的末端,用于保留每个光路的对应窄带波段光信号;所述成像单元(4)包括多个图像传感器,用于采集各窄带波段光信号;所述图像计算处理单元(5)与成像单元(4)相连。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN207037241U
公开(公告)日:2018-02-23
申请号:CN201720834019.5
申请日:2017-07-11
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G02B27/09 , B23K26/38 , B23K26/046
Abstract: 本实用新型提供了一种无机械运动实现精确激光切割轨迹的装置,空间光调制器放置在激光发射器与待切割标本之间,使得空间光调制器与聚焦透镜组的焦面共轭;激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生至少1个主光斑;主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻微单元上;激光束的其它光斑还覆盖空间光调制器的M个微单元,M≥0;在主光斑覆盖的N个微单元中,只打开其中n个相邻且首尾闭合的微单元使其首尾连接为中空的闭合曲线,n≤N,其它的N-n+M个微单元为关闭状态;使得从空间光调制器出射的激光束经过聚焦透镜组后投射到待切割标本上时,也呈现中空的闭合曲线,从而在待切割标本上实现闭合切割曲线。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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