一种基于多水平集函数参数化的网格加强筋结构优化方法

    公开(公告)号:CN115081113B

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202210728045.5

    申请日:2022-06-23

    Inventor: 夏奇 黄卓 杨康

    Abstract: 本发明属于结构优化设计相关技术领域,其公开了一种基于多水平集函数参数化的网格加强筋结构优化方法,该方法包括以下步骤:(1)计算各单元中心点处的各个水平集函数;(2)利用delta函数对水平集函数进行阈值投影以得到ρi(xe),再采用p‑norm范数凝聚函数或KS函数对ρi(xe)·ρsi进行凝聚以得到单元密度ρe;(3)求得约束函数;(4)求解得到整体位移向量,并确认网格加强筋结构的优化设计问题的表达式;(5)计算灵敏度,并基于计算得到的灵敏度结果对优化设计问题进行求解,并更新设计变量αik,ρsi;(6)判断是否满足预设的优化终止条件。本发明解决了现有网格加强筋结构不连续、可制造性差(不可自由变化)的技术问题。

    一种可局部测量的显微成像膜厚测量装置

    公开(公告)号:CN111366087B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202010275953.4

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 本发明涉及光学薄膜测量技术领域,特别涉及一种可局部测量的显微成像膜厚测量装置,包括:光路组件、载物组件及机架组件,载物组件设置在机架组件上;光路组件连接在机架组件上;光路组件用于对载物组件上的薄膜进行光学测量。本发明提供的可局部测量的显微成像膜厚测量装置,光源可同时作为测量光源和照明光源,不仅能发出测量光束,同时能提供对测量区域标记的光束,不需要另外设置照明光源,可避免对测量光源带来杂散光,提高了测量结果的准确性。

    一种薄膜的测量方法
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111426275B

    公开(公告)日:2021-12-28

    申请号:CN202010276441.X

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 本发明涉及光学测量技术领域,特别涉及一种薄膜的测量方法,通过将黑样件放在样品台上,测量反射率谱为0的黑样件反射光强谱;将厚度已知的测量样件放在样品台上进行测量,利用光谱仪获取标准样件的反射光强谱;测量标准样件时对应的黑样光强;找到局部测量区域后关闭照明光源,利用光谱仪获取待测样件的反射光强谱;计算待测样件的实际测量反射率谱;假定待测样件的膜厚序列,通过计算获取相对应的反射率谱序列;通过表达拟合程度,拟合程度最佳时所对应的厚度d为待测样件膜厚。本发明提供的薄膜的测量方法,可实现对样品的局部区域精确测量。

    一种清洗效果好的医疗整形手术器械的清洗消毒装置

    公开(公告)号:CN216026614U

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202122729818.5

    申请日:2021-11-09

    Abstract: 一种清洗效果好的医疗整形手术器械的清洗消毒装置,其包括方形框,方形框内侧的底部安装有超声波发生器,方形框一侧的底部设置有排液管,方形框一侧靠近中部位置处设置有进液管,还包括镂空篮、限位块、第一L型钩、第二L型钩、回型块和辅助清洗机构,所述方形框内侧的底部设置有镂空篮,镂空篮底部的方形框上设置有限位块,方形框内侧底部两侧壁的中部对称设置有两个第一L型钩,方形框内侧顶部另外两侧壁的中部对称设置有两个第二L型钩,镂空篮两侧顶端的中部均设置有回型块,镂空篮的下方设置有辅助清洗机构;本实用新型结构新颖,构思巧妙,便于对医疗整形手术器械进行清洗,清洗效果,且杀菌消毒效果也较好,有利于使用。

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