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公开(公告)号:CN117272884A
公开(公告)日:2023-12-22
申请号:CN202311312736.8
申请日:2023-10-11
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F30/33 , G06F30/337
Abstract: 本发明公开了一种毛纽扣连接器退化对传输通道高频性能影响的预测方法。本发明包括:测量带有未退化毛纽扣的传输通道的高频传输性能,建立带有未退化毛纽扣的传输通道的等效电路模型;设计加速实验得到不同退化等级的毛纽扣连接器样本,测量不同退化等级毛纽扣处于压缩状态时的物理尺寸及其表面腐蚀膜的厚度和材料参数;基于测量结果,求解不同退化等级毛纽扣阻抗网络模型中的寄生参数,建立带有不同退化等级毛纽扣的传输通道的等效电路模型,仿真得到高频性能参数;测量带有退化毛纽扣传输通道的高频性能参数,比较待测件的测量值与模型仿真结果,分析毛纽扣退化对传输通道的影响,并预测带有其他退化等级毛纽扣的传输通道高频参数。本发明采用理论分析与实验测试相结合的方法,充分对毛纽扣连接器退化对传输通道高频性能影响的预测方法进行了研究,为指导工程应用提供了理论支撑。
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公开(公告)号:CN114095106B
公开(公告)日:2023-05-16
申请号:CN202111376558.6
申请日:2021-11-19
Applicant: 北京邮电大学
IPC: H04B17/391 , H04B17/30 , H04B17/364 , H04B17/00 , H04L1/20 , H04B14/02 , H04L27/34
Abstract: 本发明公开了一种针对PAM4互连系统信道环境损伤影响的检测方法。本发明包括,首先测试原始及退化信道样品的高频性能;然后构建基于PAM4信号的高速互连传输系统的等效电路模型,并导入信道的测试数据进行仿真分析;最后搭建互连系统的实验电路,综合实验和仿真结果,分析研究影响系统性能的信道参数及其阈值。其中,该方法的特征为:考虑了在不同环境应力下损伤的信道;针对PAM4信号,简化了互连系统模型,以此增强系统对信道性能变化的灵敏度。通过上述方法,能够有效预测信道环境损伤后对互连系统的影响程度,对信道性能的评测以及高速PAM4信号传输系统的工程设计具有参考价值。
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公开(公告)号:CN113589078B
公开(公告)日:2022-11-22
申请号:CN202110856828.7
申请日:2021-07-28
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种在潮湿环境下介质退化连接器的高频性能预测方法。本发明包括:测量未退化同轴连接器的高频传输性能,建立未退化同轴连接器的等效电路模型;建立退化同轴连接器的等效电路模型,预测不同退化程度的连接器的高频参数;在高湿度环境下进行加速试验获得不同退化程度的连接器样本,测量退化的连接器样本得到高频参数;比较退化样本的测量值与等效电路仿真结果,获取退化连接器对应的退化等级和实际水膜厚度。本发明采用理论分析与实验测试相结合的方法,充分对在潮湿环境下介质退化连接器的高频性能预测方法进行了研究,为指导工程应用提供了理论支撑。该方法适用于分析所有具有相似结构的同轴连接器。
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公开(公告)号:CN115165148A
公开(公告)日:2022-10-11
申请号:CN202210806682.X
申请日:2022-07-08
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京邮电大学
Abstract: 本公开涉及硬件测试技术领域,具体涉及公开了一种连接器的温升测量系统、方法、装置、电子设备及介质,该系统包括:连接器组件,包括公端连接器和母端连接器,公端连接器的公端外导体上开设第一通孔,母端连接器的母端外导体上开设第二通孔,当公端连接器和母端连接器连接后,公端外导体与母端外导体接触,公端连接器的公端内导体和母端连接器的母端内导体接触,第一通孔和第二通孔连通;测温探头,穿过第一通孔和第二通孔接触公端内导体和母端内导体之间的连接处,用于测量公端内导体和母端内导体之间的连接处的温度。该技术方案可以简单方便地测量到连接器组件在工作状态时的内导体接触处的温度,用于测试连接器组件内导体接触处的温升。
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公开(公告)号:CN113589078A
公开(公告)日:2021-11-02
申请号:CN202110856828.7
申请日:2021-07-28
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种在潮湿环境下介质退化连接器的高频性能预测方法。本发明包括:测量未退化同轴连接器的高频传输性能;建立未退化同轴连接器的等效电路模型;建立退化同轴连接器的等效电路模型,预测不同退化程度的连接器的高频参数;在高湿度环境下进行加速实验获得不同退化程度的连接器样本;测量退化的连接器样本得到高频参数;比较退化样本的测量值与等效电路仿真结果,获取退化连接器对应退化等级和实际水膜厚度。本发明采用理论分析与实验测试相结合的方法,充分对在潮湿环境下介质退化连接器的高频性能预测方法进行了研究,为指导工程应用提供了理论支撑。该方法适用于分析所有具有相似结构的同轴连接器。
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公开(公告)号:CN119834829A
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202510009797.X
申请日:2025-01-03
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种高速互连系统中针对退化后连接器的无源均衡方法。本发明包括,首先对部分连接器样品进行退化处理并测量信道参数;之后根据测量得到的样品信道参数获得退化界面的膜层电阻和膜层电容,建立退化前后连接器的等效电路模型;根据膜层电阻和膜层电容设计不同退化程度连接器中的无源均衡器,最后对比分析均衡前后的输出眼图证明此无源均衡器的可行性。其中,该方法的特征为:考虑了退化后连接器的膜层电阻和膜层电容,并根据此设计了相应的无源均衡器,根据均衡前后眼图对比展示该方法的优势。通过上述方法,能够有效地设计出高速互连信道中的无源均衡器,对应用在恶劣环境下需要考虑均衡技术的高速互连系统的工程设计具有参考价值。
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公开(公告)号:CN115712023A
公开(公告)日:2023-02-24
申请号:CN202211400882.1
申请日:2022-11-09
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R29/027
Abstract: 本发明公开了一种准确测量方波信号上升时间的实验方案。本发明包括:设计以同轴连接器为外接端口的测试样本;搭建以信号源与示波器为主体的数字信号测试系统;测试实验样本的数字信号波形,并导出实验数据;测试低损直通校准件的数字信号波形,导出实验数据;将两组实验数据导入计算机,通过数学运算,消除同轴连接器对测试样本的影响,准确测量出研究对象的信号上升时间。本发明通过对照实验与数学运算,降低了外接同轴连接器对测试数据的影响,解决了实验测试结果不够准确的问题,可以用于完成对研究目标信号上升时间的精确测量。
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公开(公告)号:CN115186494A
公开(公告)日:2022-10-14
申请号:CN202210831210.X
申请日:2022-07-14
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F30/20 , G06F111/10
Abstract: 本发明公开了一种提升带有互连过孔信道传输性能的设计方法。本发明包括,首先建立由SMA连接器和多层PCB组成的传输信道三维电磁场结构模型,且事先补偿了连接器焊点处的阻抗失配问题;然后通过全波仿真分析对模型进行优化设计,并制作相关的实验样品;最后搭建实验测试平台,分析验证优化前后互连信道整体的高频、高速性能。其中,该方法的特征为:聚焦于信道的幅值响应与相位响应,设计并优化互连过孔周边的接地过孔及信号线两侧的金属通孔阵列。通过上述方法,使带有互连过孔的信道与之前相比拥有了较为平坦的群时延,其传输性能大幅度提升,对多层高速印制电路板的工程设计与生产具有参考价值。
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公开(公告)号:CN113489559A
公开(公告)日:2021-10-08
申请号:CN202110768252.9
申请日:2021-07-07
Applicant: 北京邮电大学
IPC: H04B17/345 , H04B17/391 , G06F30/23
Abstract: 本发明公开了一种不同通信频段下同轴连接器无源互调预测方法。本发明包括:首先对同轴连接器样本在多个通信频段下进行无源互调测试;然后通过理论分析和有限元仿真分析,在考虑频率对同轴连接器电流密度分布的影响以及频率对同轴连接器磁性镀层区域等效电阻的影响的情况下,建立不同通信频段下同轴连接器无源互调功率预测模型,模型预测结果和实验结果吻合良好。本发明通过多频段下的无源互调测试,理论分析和有限元仿真分析,得到不同通信频段下同轴连接器无源互调的预测方法,该方法适用于分析多种同轴连接器在不同通信频段下的无源互调性能。
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