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公开(公告)号：CN111062889A
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201911299272.5
申请日：2019-12-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法，能够实现图像亮度校正的效果，进而达到校正光强不一致误差的目的。包括：(1)采集原始图像，构成图像数据集；(2)设定一个图像强度倍数变化区间[A,B]，将采集的原始图像对应的强度校正系数初始值定为1，变换强度校正系数数值，调整图像的强度；将初始图像强度校正系数值按照区间[A,B]内的值根据t依次变化，每次测量图像都乘以不同的强度校正系数，每次变化后都计算一次评价函数；经过若干次迭代，找到最合适的亮度倍数值；(3)对每张低分辨率图像都按照最合适的亮度倍数值调整，就完成了图像的亮度校正；(4)经过校正后的图像进行高分辨率重构，得到重构图像。
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公开(公告)号：CN108061967A
公开(公告)日：2018-05-22
申请号：CN201711395656.8
申请日：2017-12-21
Applicant: 北京理工大学 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G02B26/08
CPC classification number: G02B26/0833
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜器件的光束角度快速调制装置，属于光电仪器以及计算成像系统设计领域。本发明包括数字微镜器件，对入射的光束进行空间位置区域选通调制；扩束系统，对由微镜器件出射的光束进行在准直扩束；透镜阵列与物镜系统，通过焦点重合实现光束空间区域选通调制到角度二维调制的转换；光阑，实现对平行光束的空间剪切，获取特定区域尺寸的不同角度传播平行光。本发明利用数字微镜器件的快速空间调制特性以及透镜阵列的光场角度信息获取能力，实现了空间光束二维角度快速调节的功能，不受机械器件共振频率的限制，能够实现空间光束角度调制以及编码。
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公开(公告)号：CN114152352B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202111374591.5
申请日：2021-11-17
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明的红外光学系统由前置光学系统和定量热像仪组成，前置光学系统将入射平行光转为出射平行光，定量热像仪将前置光学系统出射平行光聚焦成像，定量热像仪是已进行了不同条件下的辐射定标，将另一个标准黑体辐射源置于红外光学系统的入瞳处，并确保黑体辐射源完全充满入瞳，到达设置的温度值并保持稳定，记录标准黑体辐射源的温度值，利用公式计算标准黑体辐射源的等效辐射亮度Ls，记录红外光学系统显示的实测温度值，利用公式计算热像仪显示的等效辐射亮度Lb，然后计算杂散辐射的等效辐射亮度Lc，因此能够解决利用仿真软件分析红外光学系统杂散辐射存在一定误差，且对于复杂红外光学系统无法完全模拟真实的杂散辐射来源与传输情况的问题。
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公开(公告)号：CN111563952B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202010238343.7
申请日：2020-03-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 基于相位信息与空间纹理特征实现立体匹配方法及系统，仅需投影、拍摄一次就能实现左右图像素的全局高精度匹配，进行动态物体运动全过程的三维重建。方法包括：(1)向待测物表面投射嵌入散斑的正弦条纹；(2)使用型号相同的左右相机同时拍摄带有散斑正弦条纹的待测物；(3)对拍得的左右图片极线校正；(4)对极线校正得到的左右图求解空间相位分布；(5)对极线校正得到的左右图滤波，得到水平轮廓信息、竖直轮廓信息；(6)以待描述像素为中心，分别为左、右图采集窗口范围内的若干个水平轮廓信息与竖直轮廓信息生成描述序列；(7)左右像素逐点匹配，生成视差图；(8)对视差图进行处理，依据三角测距原理得到待测物的精确三维信息。
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公开(公告)号：CN107993201B
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN201711192452.4
申请日：2017-11-24
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的一种保留边界特征的深度图像增强方法，属于深度图像处理领域。本发明实现方法为：对彩色相机和深度相机进行标定，获得像素一一对应的彩色‑深度图像组；对深度图像进行中值滤波处理，得到深度值可靠的深度图像。获取深度值可靠的深度图像的空洞掩模，并运用Sobel梯度变换确定空洞的边界方向。对得到的彩色图像和空洞掩模进行定向联合双边滤波，得到增强后的深度图像。计算增强后深度图像的空洞像素百分比HPP；对深度值可靠的深度图像进行迭代滤波，得到深度图像中空洞区域的深度值，并对深度图像中空洞区域进行填充。通过迭代条件判断，实现对深度图像去噪和空洞填充，输出能保持画质清晰和特征完整的最终增强深度图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110940295A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911202640.X
申请日：2019-11-29
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 基于激光散斑极限约束投影的高反射物体测量方法及系统，其只需要简单的激光发射和图像采集设备即可较精确的完成高反射物体的测量，结构简单，无需涂抹防反射材料或采取接触式测量，保证被测物体不受损害，并且对于工业生活中常见物体的测量，具有一定的通用性，有效降低高反射物体反射光线带来的影响，提高反射物体的三维测量精度。方法包括：(1)构建相机数学模型，获得相机的内参和外参；(2)在相机基线方向上向高反射物体表面投射条带状散斑，平移台驱动物体移动，相机采集多组图片；(3)采用Fusiello极限校正法进行校正；(4)进行立体匹配，求取左右图片的视差并得到视差图；(5)获取三维点云数据；(6)重构此物体的三维形貌。
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公开(公告)号：CN118882523A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410997409.9
申请日：2024-07-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于自适应条纹的逆向哈特曼测量方法，该方法包括：搭建逆向哈特曼测量光路；以被测镜的被测面中心顶点作为原点建立测量坐标；根据被测镜理论轮廓方程或者三维模型建立虚拟理想被测镜在测量坐标系下的空间点云坐标M(xm,ym,zm)；计算相机靶面与图像发生器映射关系；将所述图像发生器显示理想正弦条纹图案Ic，通过映射函数G对图案Ic进行逆向求解得到图像发生器显示的理想自适应正弦条纹图案Sd；采集镜面反射条纹及解算面形误差；通过调整被测镜位姿，被测镜面形和虚拟理想面形的偏差。本发明的方法，在实现被测镜的快速位姿确定的同时，提高了面形误差的测量精度。
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公开(公告)号：CN118836789A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202310454723.8
申请日：2023-04-25
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 基于双目视觉的偏振三维成像方法及装置，在保留通用性、高性价比的基础上实现高精度高动态三维成像的目的。方法包括：(1)基于双目视觉对被测件三维形貌进行初步重建，得到其粗糙深度图，并通过粗糙深度图的梯度得到表面引导法线；(2)基于采集的偏振图像得到带有歧义性的偏振法线，再通过一个高阶图形模型，利用表面引导法线对偏振法线去歧义；(3)利用粗糙深度图作为整理框架，融入去歧义后的偏振法线，最终得到精度较高的物体三维表面。
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公开(公告)号：CN114926357B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202210532164.3
申请日：2022-05-07
Applicant: 北京理工大学 , 广州市晶华精密光学股份有限公司
Abstract: 一种计算显微成像系统的LED阵列光源位姿自校正方法，其能够消除现有系统对多自由度精密机械调节装置的需求，并解决现有校正方法不准确、不完备和和校正时间过长的问题。其包括：(1)依次点亮LED阵列中的LED灯，用COMS相机采集带LED位姿偏差的FPM数据集；(2)从数据集中选择存在明暗场交界的低分辨率图像；(3)利用Unet网络提取图像的明场区域；(4)拟合明暗场边界圆弧所在的圆，并计算圆心和半径；(5)结合步骤(4)的圆心和半径，通过建立的数学模型计算LED阵列的位姿参数；(6)校正FPM重构算法中的LED灯位置，得到校正后的FPM重构图像。
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公开(公告)号：CN114926357A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210532164.3
申请日：2022-05-07
Applicant: 北京理工大学 , 广州市晶华精密光学股份有限公司
Abstract: 一种计算显微成像系统的LED阵列光源位姿自校正方法，其能够消除现有系统对多自由度精密机械调节装置的需求，并解决现有校正方法不准确、不完备和和校正时间过长的问题。其包括：(1)依次点亮LED阵列中的LED灯，用COMS相机采集带LED位姿偏差的FPM数据集；(2)从数据集中选择存在明暗场交界的低分辨率图像；(3)利用Unet网络提取图像的明场区域；(4)拟合明暗场边界圆弧所在的圆，并计算圆心和半径；(5)结合步骤(4)的圆心和半径，通过建立的数学模型计算LED阵列的位姿参数；(6)校正FPM重构算法中的LED灯位置，得到校正后的FPM重构图像。
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