公开(公告)号：CN109932338A

公开(公告)日：2019-06-25

申请号：CN201910267623.8

申请日：2019-04-03

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张景 ,  蔡禾 ,  朱厦 ,  孙金海 ,  张旭涛 ,  刘永强 ,  李粮生 ,  殷红成 ,  肖志河

IPC: G01N21/41

Abstract: 本发明公开了一种基于太赫兹频段测量样品复折射率的方法和装置，涉及激光技术领域。其中，该方法包括：根据太赫兹脉冲在样品表面的反射信号和在金属镜表面的反射信号确定样品复反射率的测量值；根据反射率计算模型确定样品复反射率的模型估计值，并根据所述复反射率的测量值和所述复反射率的模型估计值构建代价函数；其中，所述反射率计算模型考虑了所述金属镜复折射率对参考信号的影响以及测量过程中的相位误差，所述样品复反射率的模型估计值基于多个参数表示；对所述代价函数进行优化求解，并根据优化求解结果确定所述样品的复折射率。通过以上步骤，能够精确确定样品的复折射率，尤其适用于高反射率材料的复折射率测量。

公开(公告)号：CN106840386A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201710007425.9

申请日：2017-01-05

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 李粮生 ,  张景 ,  殷红成

IPC: G01J1/04

CPC classification number: G01J1/0407

Abstract: 本发明公开了一种双层光子晶体0.325THz品质因子谐振腔，采用两片相同的基片，间隔一定距离，在每个基片上刻蚀出周期性圆孔，形成双层光子晶体谐振腔。本发明由于双层光子晶体结构中间存在一定空间，许多探测单元、线路等可以加工在此区域，比单层光子晶体结构存在优势。

公开(公告)号：CN110489881B

公开(公告)日：2023-01-20

申请号：CN201910778352.2

申请日：2019-08-22

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张旭涛 ,  孙金海 ,  蔡禾 ,  张景

IPC: G06F30/20 ,  G06F111/06

Abstract: 本发明涉及一种cusp电子枪设计方法和装置，涉及毫米波与太赫兹波功率放大器技术领域。其中，该方法包括：获取螺纹波导的色散曲线；根据所述螺纹波导的色散曲线构建cusp电子枪产生的电子束的色散曲线；其中，所述cusp电子枪产生的电子束的色散曲线与所述螺纹波导的色散曲线在工作频段内匹配；基于所述电子束的色散曲线确定cusp电子枪的技术参数。通过以上步骤，能够设计得到与螺纹波导相匹配的cusp电子枪，解决现有电磁波放大器中电子枪性能低的问题。

公开(公告)号：CN109188105B

公开(公告)日：2020-10-13

申请号：CN201811219803.0

申请日：2018-10-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 蔡禾 ,  张景 ,  孙金海 ,  郑岩 ,  张旭涛 ,  徐颖

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明涉及一种适用于太赫兹频段高反射材料介电参数测量装置及方法，该装置包括参考板、透射测量模块、反射测量模块和计算模块；该方法采用部分透射、部分反射的材料作为参考板，通过对参考板的透射测量，获得其复折射率，并推算其在设定入射角度下的反射率；分别测量参考板和待测材料板在同一设定入射角度下反射的太赫兹波能量，并结合推算的参考板的反射率，计算待测材料板的反射率；根据测量频段待测材料板的反射率及外推反射率，计算待测材料板引起的相移，从而得到待测材料板的复介电参数。该装置及方法基于光纤耦合的太赫兹时域光谱技术，特别适用于太赫兹频段高反射材料的介电参数的测量，有助于提高反射率、介电参数测量的准确度。

公开(公告)号：CN106092966B

公开(公告)日：2019-03-26

申请号：CN201610366147.1

申请日：2016-05-27

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张少华 ,  孙金海 ,  蔡禾 ,  张旭涛 ,  张景

IPC: G01N21/41

Abstract: 公开了一种太赫兹频段RCS测量用支架材料的选取方法，包括：选取M种泡沫材料作为测试样品；对于选取的每种泡沫材料，通过太赫兹时域光谱测量系统测量未放置测试样品时的时域光谱Er,i(t)、以及放置测试样品时的时域光谱Es,i(t)；对Er,i(t)、Es,i(t)进行傅里叶变换，以获取频域光谱Er,i(w)、Es,i(w)；然后，根据Er,i(w)、Es,i(w)、以及泡沫材料的厚度di，计算该泡沫材料的折射率谱ni(w)；对于选取的每种泡沫材料，计算其折射率谱的折射率均值以及的值，并且，将取最小值的泡沫材料作为太赫兹频段RCS测量用支架材料。本发明通过太赫兹时域光谱技术，便于快速、无损的分析材料的电磁散射特性，进而在样品中迅速找到适用于太赫兹频段RCS测量的支架材料。

公开(公告)号：CN109188105A

公开(公告)日：2019-01-11

申请号：CN201811219803.0

申请日：2018-10-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 蔡禾 ,  张景 ,  孙金海 ,  郑岩 ,  张旭涛 ,  徐颖

IPC: G01R27/26

CPC classification number: G01R27/2682

Abstract: 本发明涉及一种适用于太赫兹频段高反射材料介电参数测量装置及方法，该装置包括参考板、透射测量模块、反射测量模块和计算模块；该方法采用部分透射、部分反射的材料作为参考板，通过对参考板的透射测量，获得其复折射率，并推算其在设定入射角度下的反射率；分别测量参考板和待测材料板在同一设定入射角度下反射的太赫兹波能量，并结合推算的参考板的反射率，计算待测材料板的反射率；根据测量频段待测材料板的反射率及外推反射率，计算待测材料板引起的相移，从而得到待测材料板的复介电参数。该装置及方法基于光纤耦合的太赫兹时域光谱技术，特别适用于太赫兹频段高反射材料的介电参数的测量，有助于提高反射率、介电参数测量的准确度。

公开(公告)号：CN109030406A

公开(公告)日：2018-12-18

申请号：CN201811187004.X

申请日：2018-10-12

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张景 ,  蔡禾 ,  李粮生 ,  孙金海 ,  殷红成 ,  肖志河

IPC: G01N21/3586

CPC classification number: G01N21/3586

Abstract: 本发明涉及一种太赫兹频谱校准系统，包括激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具，该系统利用太赫兹波在标准量具内多次反射形成的周期性的标准量具振荡，对太赫兹时域光谱进行频率校准，并且，该系统通过引入准直光路，利用同源的准直光实现太赫兹波光路间接校准，使得太赫兹波与标准量具垂直，减小由非垂直入射引起的频谱误差，有效提高系统的准确性和可靠性。本发明还提供了一种太赫兹频谱校准方法，通过太赫兹频谱校准系统进行频谱校准，利用反向输入太赫兹光路的准直光调整太赫兹光路，使标准量具与太赫兹波垂直，减小标准量具对太赫兹倾斜角引起的频谱误差。

公开(公告)号：CN109977349B

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN201910267621.9

申请日：2019-04-03

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张景 ,  蔡禾 ,  朱厦 ,  孙金海 ,  张旭涛 ,  刘永强 ,  李粮生 ,  肖志河 ,  殷红成

IPC: G06F17/14 ,  G06F17/17 ,  G06F16/21 ,  G01N21/3586

Abstract: 本发明公开了一种滤除太赫兹信号中水蒸气吸收峰的方法和装置，涉及激光技术领域。其中，该方法包括：对待处理的太赫兹信号进行傅里叶变换，以得到所述太赫兹信号的频谱；基于所述太赫兹信号的频谱和水蒸气的频率响应模型构建剩余谱，并将所述剩余谱的全变分值作为目标函数；对所述目标函数进行优化求解，以确定水蒸气吸收线的强度和宽度的最优估计值，然后根据所述水蒸气吸收线的强度和宽度的最优估计值确定水蒸气的频率响应估计值；根据所述水蒸气的频率响应估计值滤除所述太赫兹信号中的水蒸气吸收峰。通过以上步骤，能够有效去除水蒸气对太赫兹信号的干扰，有助于提高后续光谱分析结果的准确性。

公开(公告)号：CN109211843B

公开(公告)日：2021-03-16

申请号：CN201811219808.3

申请日：2018-10-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 孙金海 ,  蔡禾 ,  郑岩 ,  张旭涛 ,  张景 ,  刘永强 ,  巢增明 ,  殷红成

IPC: G01N21/55 ,  G01N21/3586 ,  G01N21/3563

Abstract: 本发明涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法，包括太赫兹波透射测量获取第一标定板和第二标定板分别作为被测样品以及无被测样品时的太赫兹波透射电场强度，得到第一标定板和第二标定板的复折射率；在某一入射角度下，太赫兹波反射测量获取第一标定板和第二标定板分别反射的太赫兹波反射电场强度；根据第一标定板和第二标定板的复折射率及菲涅尔公式分别求得二者反射系数表达式，结合二者反射的太赫兹波反射电场强度之比，计算太赫兹波反射测量的入射角。本发明还涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定装置。该方法及装置通过计算准确获得太赫兹波反射测量的入射角度，解决了现有技术中依赖角度仪读取无法精确确定入射角度的难题。

公开(公告)号：CN110456514A

公开(公告)日：2019-11-15

申请号：CN201910778016.8

申请日：2019-08-22

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张旭涛 ,  孙金海 ,  蔡禾 ,  张景

IPC: G02B27/09 ,  G01N21/3586

Abstract: 本发明涉及一种太赫兹波束整形方法和装置，涉及太赫兹时域光谱探测技术领域。其中，该方法包括：基于测量或仿真技术确定太赫兹波束的波束参数；所述波束参数包括太赫兹波束的能量分布；根据所述太赫兹波束的波束参数初步确定波束整形器件的几何尺寸参数；基于仿真模型对所述波束整形器件的几何尺寸参数进行优化，以得到优化后的波束整形器件；其中，所述优化后的波束整形器件能够将所述太赫兹波束的能量分布由高斯分布整形为均匀分布。通过以上步骤能够设计得到对太赫兹波束进行整形的波束整形器，基于该波束整形器件能够将太赫兹波束的能量分布由高斯分布整形为均匀分布，从而解决了现有技术中的难题。