一种天线调平方法和系统
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109696585B

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN201910007004.5

    申请日:2019-01-04

    Abstract: 本发明涉及一种天线调平方法和系统,所述系统的一实施方式包括:至少三个测距单元;所述至少三个测距单元中的每一测距单元设置在天线平台底面的边缘,每一测距单元的信号发射方向指向地面;其中,每一测距单元用于获取其与地面之间的距离;所述至少三个测距单元获取的距离用于进行比较:在比较结果为相同时,表征天线扫描面与地面平行;在比较结果为不同时,调节天线姿态直到所述比较结果为相同。该实施方式能够利用测距单元实现天线调平,解决现有的近场电磁测试中由于天线扫描始末高度不一而导致目标所受辐射增益不同的问题。

    一种带有电磁色散的超材料仿真方法及装置

    公开(公告)号:CN112347679A

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202011276201.6

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 本申请涉及一种带有电磁色散的超材料仿真方法及装置。所述带有电磁色散的超材料仿真方法包括:获取麦克斯韦旋度方程;改变所述麦克斯韦旋度方程,以将各个旋度方程进行等量纲变换处理,从而获得等量纲方程组;通过等量纲方程组,采用时域有限差分法(FDTD)对带有电磁色散的超材料进行模拟仿真计算。本申请通过对现有的麦克斯韦旋度方程进行改进,形成等量纲方程组,从而摆脱了现有技术中进行带有电磁色散的超材料仿真中出现不同量纲场量所带来的不便性且仿真所用的时间大大缩小。

    一种微波暗室多静区RCS测试系统及测试方法

    公开(公告)号:CN115712084A

    公开(公告)日:2023-02-24

    申请号:CN202211379878.1

    申请日:2022-11-04

    Abstract: 本发明提供了一种微波暗室多静区RCS测试系统及测试方法,该测试系统包括:多源矢量网络分析仪、至少两条收发链路、至少两个发射馈源和至少两个接收馈源;其中,每个发射馈源均对应一个静区,且不同发射馈源对应不同的静区;收发链路用于连接多源矢量网络分析仪、发射馈源和接收馈源;其中,静区的数量与收发链路的数量相同,且不同静区在同一时刻的测试频率点的测试频率不同。本方案提供的测试系统能同时实现对多个静区的RCS测试,且有效抑制了多静区间的干扰。

    目标散射特性测试系统及测试方法

    公开(公告)号:CN115128588A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202210870037.4

    申请日:2022-07-22

    Abstract: 本发明提供了一种目标散射特性测试系统及测试方法,其中系统包括:收发单元,用于产生测试信号和接收回波信号;测试单元,与所述收发单元通讯连接,所述测试单元包括控制组件和天线阵列,所述天线阵列上设置有多个发射天线和多个接收天线,所述控制组件用于控制每个所述发射天线和每个所述接收天线的启闭,所述发射天线和所述接收天线用于测试目标的散射特性;旋转单元,与所述天线阵列连接,用于调整所述天线阵列的角度;计算机,分别与所述收发单元和所述测试单元通讯连接,用于控制所述收发单元和所述测试单元。本方案,能够快速获得目标在不同角度下的散射特性。

    一种近距电磁测量方法及系统

    公开(公告)号:CN111273281B

    公开(公告)日:2021-12-07

    申请号:CN202010082603.6

    申请日:2020-02-07

    Abstract: 本发明涉及一种近距电磁测量方法及系统,该方法包括:设置高度采集子系统,用于实时测量天线高度;在测量场地内划分测量区域,在各个所述测量区域的起始点处通过调节天线高度对标体进行垂直向区间内扫描,记录对应的实际场强分布,得到相应所述测量区域的基准高度值;启动载车执行天线圆周运动扫描待测量目标,获取雷达数据,并通过高度采集子系统及载车GPS采集信息,建立扫描过程中的天线三维轨迹模型;结合各所述测量区域的基准高度值,对天线三维轨迹模型各采集点与相对应的雷达数据进行补偿修正,得到修正后的目标近距电磁测量数据。本发明可对测量过程天线所发出的电磁波在目标所处空间的辐射增益进行补偿,提高测量的准确度。

    目标近场微波成像测试中的图像聚焦方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN111257877A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN202010124775.5

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 本发明涉及目标近场电磁散射特性测试与诊断技术领域,提供了一种目标近场微波成像测试中的图像聚焦方法、装置及系统,该方法包括以下步骤:构建目标近场微波成像测试系统,包括:被测目标、测量装置、运动平台、GPS系统、金属球;控制运动平台绕被测目标的中心运动,并利用GPS系统记录运动平台的位置,同时控制测量装置进行扫频测试,并采集扫频测试数据;计算金属球与运动平台之间的参考距离及测量距离,根据该参考距离和测量距离得到相位校正因子;根据所述相位校正因子对所述目标扫频测试数据进行补偿,并进行成像处理,得到聚焦后的目标二维微波图像。本发明方法能够消除因运动平台的移动误差引起的目标二维微波图像散焦现象。

    一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法

    公开(公告)号:CN110061790A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910266783.0

    申请日:2019-04-03

    Abstract: 本发明涉及一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法,方法包括步骤:S1,打开测量系统接收机,在测试频率范围内观测并记录射频干扰频谱位置;S2,在测试频率范围内对目标进行扫频RCS测试;S3,从扫频测试RCS数据中剔除射频干扰所在频率处的测试数据;S4,利用筛选后数据计算目标的一维散射中心;S5,利用目标的一维散射中心在测试频率范围内重构目标扫频RCS。由此方法,利用目标特征重构被干扰频段的目标回波,可有效抑制RCS测试中射频干扰。

    一种检测紧缩场反射面性能的方法和装置

    公开(公告)号:CN109471057A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201910006982.8

    申请日:2019-01-04

    Abstract: 本发明涉及一种检测紧缩场反射面性能的方法和装置,所述方法的一实施方式包括:在紧缩场静区横截面进行采样获取二维电场分布数据;对所述二维电场分布数据进行二维傅立叶逆变换,获得测量信号的平面波谱分布数据;确定电磁波在从采样点到反射面的传播过程中的空间变换函数,并利用所述空间变换函数对所述平面波谱分布数据进行处理,得到反射面的平面波谱分布数据;对所述反射面的平面波谱分布数据进行二维傅立叶变换,得到反射面的二维电场分布数据;依据所述反射面的二维电场分布数据检测反射面性能。该实施方式能够获取反射面的二维电场分布数据从而有效检测紧缩场反射面的性能。

    箔条干扰近距离电磁散射特性的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN118033568A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410203910.3

    申请日:2024-02-23

    Abstract: 本发明涉及一种箔条干扰近距离电磁散射特性的确定方法及装置,应用于箔条干扰电磁散射测试系统的上位机中,方法包括:获取测试系统的定标结果;获取目标箔条干扰弹在设定条件下起爆和扩散产生的初始回波信号;设定条件包括测试频段、极化方式和目标箔条干扰弹的起爆位置,起爆位置与测试系统之间的距离不大于设定距离;基于初始回波信号,确定目标箔条干扰弹在设定条件下起爆和扩散产生的一维距离像历程图;确定一维距离像历程图的目标区域,目标区域为目标箔条干扰弹的成像区域;对目标区域进行距离补偿和定标补偿,得到箔条干扰弹在设定条件下起爆和扩散产生的电磁散射量值。本申请可以准确获得箔条干扰在近距离条件下的电磁特性。

    一种针对目标摆放位置误差的目标RCS相位校准方法

    公开(公告)号:CN112230190B

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202011054504.3

    申请日:2020-09-29

    Inventor: 刘芳 吕鸣 侯浩浩

    Abstract: 本发明涉及一种针对目标摆放位置误差的目标RCS相位校准方法、计算机设备及计算机可读存储介质,该方法包括:针对测量雷达进行参数设置,建立发射信号模型;以圆柱体作为目标,确定圆柱体的测量参数及摆放位置;建立接收回波模型,并通过测量雷达获取方位角度连续变化至少半个周期的回波信号数据;根据接收回波模型与获取的回波信号数据,反演目标的摆放位置坐标;根据反演得到的摆放位置坐标与理论位置坐标的误差,评估回波信号数据的置信度。本发明能够减少摆放位置误差对回波信号数据的影响,提高目标RCS相位测量精度。

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