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公开(公告)号:CN118449513A
公开(公告)日:2024-08-06
申请号:CN202410704148.7
申请日:2024-06-03
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H03K19/094 , H03K19/00 , H03K19/0185
Abstract: 本公开涉及芯片技术领域,具体涉及公开了一种发射电路、数字隔离器及芯片,该发射电路包括:唤醒电路,该唤醒电路的第一输入端连接稳压器的输出端,唤醒电路的第二输入端接入发射电路的输入信号;唤醒电路的电路输出端连接高频振荡器,电平移位电路和调制器,用于在检测到发射电路的输入信号为高电平时,生成窄脉冲信号,将窄脉冲信号与稳压器输出的稳压信号叠加生成叠加信号,并用叠加信号为高频振荡器,电平移位电路和调制器供电,使得进入调制器的待调制信号仅在由低电平变高电平的极短时间内增大,随后恢复为正常的高电平信号。该技术方案既维持了发射电路整体的功耗相对较低,又提升了发射电路的响应速度,减小信号传输延时。
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公开(公告)号:CN116773947A
公开(公告)日:2023-09-19
申请号:CN202310739240.2
申请日:2023-06-20
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G01R31/00 , G01R27/26 , G01R19/165 , G01R1/30 , H04L25/02
Abstract: 本发明公开了一种电容衰减检测电路、方法以及电容隔离芯片,用于隔离电容器,隔离电容器连接在发送机的输出端和接收机的输入端之间,用于实现发送机与接收机之间的隔离通信,检测电路包括:比较子电路,比较子电路的输入端与接收机的输入端连接,比较子电路用于通过隔离电容器接收隔离通信信号,并将隔离通信信号与预设基准信号进行比较,输出比较结果,其中,比较结果用于判定隔离电容器是否发生衰减。该电路可对高压隔离电容隔离性能的衰减情况进行实时检测,并且该检测为非破坏性检测。
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