直流故障电弧检测方法、装置和电子设备

    公开(公告)号:CN119805110A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411802086.X

    申请日:2024-12-09

    Abstract: 本发明提供一种直流故障电弧检测方法、装置和电子设备,属于放电检测技术领域。方法包括:获取直流电力系统的待测参数;将待测参数输入至直流故障电弧检测模型,得到直流故障电弧检测模型输出的故障检测结果。其中,该模型是基于多个训练样本参数和每个训练样本参数的故障检测结果标签训练得到的,多个训练样本参数是直流电力系统的历史样本参数和少数类样本参数基于生成对抗网络生成的;少数类样本参数是历史样本参数基于合成少数类过采样方法生成的。本发明通过结合生成对抗网络和合成少数类过采样方法生成直流故障电弧检测模型用于训练的训练样本参数,可以有效扩展和平衡数据集,进而提高直流故障电弧检测模型的泛化能力和故障检测准确性。

    处理数据的方法、装置和设备
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114510217A

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN202011457275.X

    申请日:2020-12-10

    Abstract: 提供了一种处理数据的方法、装置和设备,能够在保证性能的基础上降低芯片的功耗。该方法包括:获取待处理数据;将该待处理数据划分为均等分成s个块;利用Karatsuba算法,将该s个块中的第i个块的数据和该第i个块的数据相乘,以得到多个第一数据,0≤i≤s‑1;基于该第i个块的数据和该s个块中第j个块的数据,得到多个第二数据,i+1≤j≤s‑1;基于该多个第一数据和该多个第二数据,确定该待处理数据和该待处理数据的乘积;基于该待处理数据和该待处理数据的乘积,进行蒙哥马利模乘运算,以得到处理结果。通过平方算法和Karatsuba算法,能够在保证性能的基础上,减小芯片的功耗。

    移相电路、降压型开关变换器组以及变换器芯片

    公开(公告)号:CN119582610A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411437584.9

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明涉及电子电路技术领域,公开一种移相电路、降压型开关变换器组以及变换器芯片。移相电路包括:延时移相模块,包括多个延时移相单元;译码器,输入端与不同的输入电压信号相连,及多个输出端分别与多个延时移相单元的控制端相连;比较器,正、负输入端分别与延时移相模块的输出端、参考电压相连;触发器,R端与时钟信号相连,输出端与延时移相模块的输入端相连,及S端与比较器的输出端相连,译码器用于响应于特定的输入电压信号控制相应延时移相单元导通,以通过比较器输出移相后的时钟信号。本发明可有效地对时钟进行相位移动,以多相位进行多相操作,能提供工程应用所需要的足够的负载电流,且电感电流纹波得以抵消,输出电压纹波更小。

    基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置

    公开(公告)号:CN109444547B

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN201811400959.9

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置,RFID芯片阻抗测量方法包括如下步骤:制作二端口微带线电路板,其中,二端口微带线电路板包括直通微带线电路板以及与直通微带线电路板等长度的带被测物的微带线电路板;校准矢量网络分析仪;测试直通微带线电路板的S参数;测试带被测物的微带线电路板的S参数;基于直通微带线电路板的S参数得到针对直通微带线电路板的第一传输矩阵;基于带被测物的微带线电路板的S参数得到针对带被测物的微带线电路板的第二传输矩阵;基于第一传输矩阵以及第二传输矩阵,计算T矩阵;以及基于T矩阵,计算RFID芯片阻抗。本发明的RFID芯片阻抗测量方法的测量结果更精准,且算法相对简单。

    基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置

    公开(公告)号:CN109444547A

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201811400959.9

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置,RFID芯片阻抗测量方法包括如下步骤:制作二端口微带线电路板,其中,二端口微带线电路板包括直通微带线电路板以及与直通微带线电路板等长度的带被测物的微带线电路板;校准矢量网络分析仪;测试直通微带线电路板的S参数;测试带被测物的微带线电路板的S参数;基于直通微带线电路板的S参数得到针对直通微带线电路板的第一传输矩阵;基于带被测物的微带线电路板的S参数得到针对带被测物的微带线电路板的第二传输矩阵;基于第一传输矩阵以及第二传输矩阵,计算T矩阵;以及基于T矩阵,计算RFID芯片阻抗。本发明的RFID芯片阻抗测量方法的测量结果更精准,且算法相对简单。

Patent Agency Ranking