-
公开(公告)号：CN112118223A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010802177.9
申请日：2020-08-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种主站与终端的认证方法、主站、终端及存储介质，方法包括：主站向终端发起会话密钥协商获得第一会话密钥；主站向终端发送第一认证报文，其包括第一认证标识、第一非对称密钥索引、第一对称密钥索引和第一数据报文，第一数据报文包括主站生成的第一随机数和主站利用第一会话密钥对第一随机数进行加密生成的第一加密密文；主站接收终端发送的第一认证响应报文，其包括终端利用第一非对称密钥索引对第一随机数和终端生成的第二随机数进行数字签名生成的第一签名信息；主站验证第一签名信息的正确性，并在验证通过后完成对终端的认证。由此，采用对称与非对称加密算法相结合的方式进行主站与终端之间的认证，安全性高。
-
公开(公告)号：CN120033187A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202510401419.6
申请日：2025-04-01
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H01L25/16 , H01L23/538 , H01L23/498 , H01L23/31 , H01L23/29 , H01L21/56 , H01L21/60
Abstract: 本发明涉及芯片封装技术领域，公开了一种多芯片组件封装结构及封装方法，包括基板，具有第一表面和第二表面；第一芯片设置于基板的第一表面上，第一芯片与基板电性连接；第二芯片设置于第一芯片远离基板的表面，第二芯片与基板电性连接；多个LED芯片设置于基板的第一表面，多个LED芯片分布于第一芯片的两侧，LED芯片与第二芯片电性连接；防护层覆盖在第一芯片、第二芯片以及多个LED芯片表面，本发明布局合理，提高了焊接质量与稳定性，减少装配错误，节省空间，提高生产效率和准确性，保证了封装器件合格的机械强度和外观整洁。
-
公开(公告)号：CN119415342A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411332643.6
申请日：2024-09-24
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司营销服务中心
IPC: G06F11/26 , G06F11/273
Abstract: 本申请公开了一种掉电测试电路及系统，属于硬件测试技术领域。掉电测试电路包括：多个接口，具有多种总线标准；多个输出电压控制电路，配置为提供多种输出电压，各输出电压控制电路与各接口对应电连接；电源电路，与各输出电压控制电路电连接，且配置为将接入电源转换为各输出电压控制电路所需的供电电压；主控芯片，与各输出电压控制电路电连接，且配置为根据目标上电时间信息和目标掉电时间信息控制各输出电压控制电路上电或掉电。
-
公开(公告)号：CN118897810A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411401823.5
申请日：2024-10-09
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。
-
公开(公告)号：CN118312372B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115048256B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
-
公开(公告)号：CN108667151B
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN201810490898.3
申请日：2018-05-21
Applicant: 重庆大学 , 国网浙江省电力公司宁波供电公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Inventor： 唐春森 , 张杨 , 吴新刚 , 王智慧 , 孙跃 , 左志平 , 谭若兮 , 王州波 , 钟良亮 , 罗飞鹏 , 刘羽 , 周斌 , 闻铭 , 许巍 , 田阳 , 王天响 , 程志国 , 康世利
Abstract: 本发明属于无线能量传输技术领域，提供了一种基于凹凸磁芯的无线能量发射机构及其参数设计方法，机构包括磁芯和线圈，磁芯由多块铁氧体磁条按环形阵列分布而成，在每一块磁条的上表面设有两段凹凸部，多块磁条按环形阵列分布后，其凹凸部围成两圈环形的线圈容置槽，所述线圈分为两组并按照平面密绕的方式分别绕制在两圈线圈容置槽中，且内、外两组线圈相互串联。通过仿真软件分析得知，该结构能实现在相同的感应电压条件下，互感另一端的横向抗偏移能力、纵向传输距离显著优于现有电磁耦合机构，提升无线能量传输系统对横向、纵向偏移容忍度。
-
公开(公告)号：CN118312372A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
-
公开(公告)号：CN117149614A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202310847617.6
申请日：2023-07-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明实施例提供一种测试脚本自动化生成方法、装置、存储介质及处理器，属于计算机技术领域。所述方法包括：获取被测对象的待配置参数、循环体文件以及支持文件；根据所述被测对象的待配置参数，确定测试配置信息；根据预置的脚本框架和所述测试配置信息生成目标脚本框架；确定与所述被测对象对应的指令格式文件；根据所述目标脚本框架、所述指令格式文件、所述循环体文件以及所述支持文件，生成目标测试脚本。本发明能够快速生成自动化测试脚本，从而降低测试人员手工编写、修改脚本的成本以及出错概率，提高了测试脚本的生成效率。
-
公开(公告)号：CN115048256A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
22
records
(took 0.037 seconds)
