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公开(公告)号:CN106052679B
公开(公告)日:2018-08-31
申请号:CN201610677217.5
申请日:2016-08-16
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C21/02
Abstract: 一种星敏感器图像探测器组件,包括光学系统云台(1)、图像探测器电路组件(2)、电路支撑柱(3)、铜块支撑柱(4)、导热铜块组件(5)、致冷器(6)和热沉结构(7);图像探测器电路组件(2)通过电路支撑柱(3)安装在热沉结构(7)上;导热铜块组件(5)通过铜块支撑柱(4)安装于热沉结构(7)上;致冷器(6)位于导热铜块组件(4)下方,并粘接于热沉结构(7)上;光学系统云台(1)位于图像探测器电路组件(2)上方,并安装于热沉结构(7)上;所述的图像探测器电路组件(2)包括刚挠板(8)和图像探测器(9),所述刚挠板(8)外部为刚性板,内部为挠性板;图像探测器(9)焊接在挠性板上。
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公开(公告)号:CN104567929B
公开(公告)日:2017-04-19
申请号:CN201410838155.2
申请日:2014-12-29
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明一种基于双帧处理的星敏感器空间粒子干扰抑制方法,在空间粒子干扰较强的情况下,剔除非星点亮斑,抑制空间粒子干扰。即控制星敏感器敏感芯片卷帘式曝光、读出时间间隔极小的两帧星图并缓存;分别对两帧星图进行疑似星点信息提取,得到两帧可疑星点信息队列;对可疑队列进行网格化的特征比对,剔除非星点像斑信息,得到备选星点信息队列;对备选队列中的星点信息进行验证,从而得到真实恒星星点信息队列用于后续计算。本发明在星点队列比对时,预先对星点进行像面网格划分,有效缩减比对搜索时间,在完成星点队列比对后,用剩余星点信息在下一帧图像中进行开窗验证,保证了输出星点信息的有效性。
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公开(公告)号:CN106052679A
公开(公告)日:2016-10-26
申请号:CN201610677217.5
申请日:2016-08-16
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C21/02
CPC classification number: G01C21/025
Abstract: 一种星敏感器图像探测器组件,包括光学系统云台(1)、图像探测器电路组件(2)、电路支撑柱(3)、铜块支撑柱(4)、导热铜块组件(5)、致冷器(6)和热沉结构(7);图像探测器电路组件(2)通过电路支撑柱(3)安装在热沉结构(7)上;导热铜块组件(5)通过铜块支撑柱(4)安装于热沉结构(7)上;致冷器(6)位于导热铜块组件(4)下方,并粘接于热沉结构(7)上;光学系统云台(1)位于图像探测器电路组件(2)上方,并安装于热沉结构(7)上;所述的图像探测器电路组件(2)包括刚挠板(8)和图像探测器(9),所述刚挠板(8)外部为刚性板,内部为挠性板;图像探测器(9)焊接在挠性板上。
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公开(公告)号:CN102564458B
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN201110460896.8
申请日:2011-12-29
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明公开了一种星敏感器低频误差测量方法,建立由自准直平行光管、静态多光路星模拟器、调整支架、测量系统和激光对准器组成的低频误差测试系统,将星敏感器安装在隔震台上,采用真空钟罩将星敏感器置于真空环境中,真空钟罩上设有玻璃窗口,玻璃窗口透过率不小于95%;监视并测量真空条件下不同温度时星敏感器星点成像位置及光学基准镜的自准直成像位置,最终实现对星敏感器低频误差的测量。本发明测量系统可同时实现不同光谱型的单颗恒星(与多颗恒星)的模拟和对光学基准镜的自准直测角,监视并测量真空条件下不同温度时星敏感器星点成像位置及光学基准镜的自准直成像位置,提高了测量精度。
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公开(公告)号:CN102564458A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201110460896.8
申请日:2011-12-29
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明公开了一种星敏感器低频误差测量方法,建立由自准直平行光管、静态多光路星模拟器、调整支架、测量系统和激光对准器组成的低频误差测试系统,将星敏感器安装在隔震台上,采用真空钟罩将星敏感器置于真空环境中,真空钟罩上设有玻璃窗口,玻璃窗口透过率不小于95%;监视并测量真空条件下不同温度时星敏感器星点成像位置及光学基准镜的自准直成像位置,最终实现对星敏感器低频误差的测量。本发明测量系统可同时实现不同光谱型的单颗恒星(与多颗恒星)的模拟和对光学基准镜的自准直测角,监视并测量真空条件下不同温度时星敏感器星点成像位置及光学基准镜的自准直成像位置,提高了测量精度。
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