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公开(公告)号：CN107563253A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201610505878.X
申请日：2016-06-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种基于互采样的信号抗干扰处理方法，包括：获取第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号，所述第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号的相位差为90°或270°；将所述第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号进行异或操作以及互采样，分别获得第一脉冲信号和第二脉冲信号；根据所述第一脉冲信号和第二脉冲信号分别获得采集设备的角度分辨率和运动方向；通过异或处理和互采样处理，能够有效消除采集设备提供的脉冲信号中夹杂的干扰信号，提高转角和转速计算的准确性。
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公开(公告)号：CN114646852A
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202011501607.X
申请日：2020-12-17
Applicant: 中国电子技术标准化研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种基于分立设备的微波器件直流参数测试系统及测试方法，测试系统包括笔记本电脑、USB转换器、可编程线性直流电源、可编程数字万用表、测量夹具、Bias Tee模块和匹配负载，所述笔记本电脑通过所述USB转换器与可编程线性直流电源、可编程数字万用表连接，所述可编程线性直流电源、可编程数字万用表与测量夹具连接，所述测量夹具上连接有被测器件且与Bias Tee模块、匹配负载连接。测试方法利用该测试系统对微波器件的直流参数进行测试。本申请的目的在于提供一种能够获得准确、可靠、稳定的测量结果的基于分立设备的微波器件直流参数测试系统及测试方法。
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公开(公告)号：CN107563253B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201610505878.X
申请日：2016-06-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种基于互采样的信号抗干扰处理方法，包括：获取第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号，所述第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号的相位差为90°或270°；将所述第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号进行异或操作以及互采样，分别获得第一脉冲信号和第二脉冲信号；根据所述第一脉冲信号和第二脉冲信号分别获得采集设备的角度分辨率和运动方向；通过异或处理和互采样处理，能够有效消除采集设备提供的脉冲信号中夹杂的干扰信号，提高转角和转速计算的准确性。
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公开(公告)号：CN105446919B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201510883243.9
申请日：2015-12-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于PXIe高速总线的微波变频装置，所述微波变频装置包括频率综合模块、下变频模块、上变频模块和控制单元；所述频率综合模块用于产生X波段射频信号，所述X波段射频信号作为本振信号分别输入所述上变频模块和所述下变频模块；所述下变频模块用于根据本振信号，将Ku波段的输入信号转换为C波段的输出信号；所述上变频模块用于根据本振信号，将C波段的输入信号转换为Ku波段的输出信号；控制单元包括控制器和PXIe总线接口单元。本发明提供的变频装置具备模块化、可重构、总线接口标准化、控制接口多样化的特点，同时可保证信号幅相的高度稳定性，并能够较大的提高通信信号附加信息的保真度。
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公开(公告)号：CN212207573U
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201922274503.9
申请日：2019-12-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/28 , G01R1/04 , G05B19/042
Abstract: 本实用新型涉及一种微波芯片检测装置，属于芯片测试技术领域，解决微波芯片的无损检测问题，装置包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)；测试装具(2)，用于无损安装待测微波芯片；控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过测试装具(2)与待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接；输入端口(4)外接微波信号源(9)，用于为待测微波芯片提供信号源；输出端口(5)外接频谱分析仪(10)，用于检测待测微波芯片的输出信号；控制单元(3)，用于产生控制信号，控制待测微波芯片输出信号的参数。本实用新型制造成本低、结构简单；测试过程简单、便捷，适用于批量测试。
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